研究所利用人才团队的技术优势，在电子束曝光的反演光刻技术上取得进展。反演光刻通过计算机模拟优化曝光图形，可补偿工艺过程中的图形畸变，科研人员针对氮化物半导体的刻蚀特性，建立了曝光图形与刻蚀结果的关联模...

6G太赫兹通信晶圆键合实现天线集成。液晶聚合物-硅热键合构建相控阵单元，相位调控精度达±1.5°。可重构智能超表面实现120°波束扫描，频谱效率提升5倍。空地通信测试表明，0.3THz频段传输距离突破...

研究所利用电子束曝光技术制备微纳尺度的热管理结构，探索其在功率半导体器件中的应用。功率器件工作时产生的热量需快速散出，团队通过电子束曝光在器件衬底背面制备周期性微通道结构，增强散热面积。结合热仿真与实...

将电子束曝光技术与深紫外发光二极管的光子晶体结构制备相结合，是研究所的另一项应用探索。光子晶体可调控光的传播方向，提升器件的光提取效率，科研团队通过电子束曝光在器件表面制备亚波长周期结构，研究周期参数...

科研团队在电子束曝光的抗蚀剂选择与处理工艺上进行了细致研究。不同抗蚀剂对电子束的灵敏度与分辨率存在差异，团队针对第三代半导体材料的刻蚀需求，测试了多种正性与负性抗蚀剂的性能，筛选出适合氮化物刻蚀的抗蚀...

晶圆键合解决聚变堆包层材料在线监测难题。钨/碳化硅复合材料中集成光纤传感阵列，耐辐照键合层在1400K下光损耗＜0.1dB/m。EAST装置实测：中子通量监测误差＜0.5%，氚滞留量实时反演精度＞97...

针对晶圆键合技术中的能耗问题，科研团队开展了节能工艺的研究，探索在保证键合质量的前提下降低能耗的可能。通过优化温度 - 压力曲线，缩短高温保持时间，同时采用更高效的加热方式，在实验中实现了能耗的一定程...

晶圆键合解决聚变堆包层材料在线监测难题。钨/碳化硅复合材料中集成光纤传感阵列，耐辐照键合层在1400K下光损耗＜0.1dB/m。EAST装置实测：中子通量监测误差＜0.5%，氚滞留量实时反演精度＞97...

科研人员将机器学习算法引入电子束曝光的参数优化中，提高工艺开发效率。通过采集大量曝光参数与图形质量的关联数据，训练参数预测模型，该模型可根据目标图形尺寸推荐合适的曝光剂量与加速电压，减少实验试错次数。...

晶圆键合驱动磁存储技术跨越式发展。铁电-磁性隧道结键合实现纳秒级极化切换，存储密度突破100Gb/in²。自旋轨道矩效应使写能耗降至1fJ/bit，为存算一体架构铺路。IBM实测表明，非易失内存速度比...

晶圆键合实现高功率激光热管理。金刚石-碳化钨键合界面热导达2000W/mK，万瓦级光纤激光器热流密度承载突破1.2kW/cm²。锐科激光器实测：波长漂移<0.01nm，寿命延长至5万小时。微通道液冷模...

研究所利用人才团队的技术优势，在电子束曝光的反演光刻技术上取得进展。反演光刻通过计算机模拟优化曝光图形，可补偿工艺过程中的图形畸变，科研人员针对氮化物半导体的刻蚀特性，建立了曝光图形与刻蚀结果的关联模...