非标显微镜配件

显微镜的观察方法

明视场观察：垂直照射测量物表面，适用于金属、印刷电路板、浅孔的表面观察。

暗视场观察：通过对从工件发出的散射光进行观察，可完成在明视场下观察不到的划痕、尘埃、凹凸，以及胜任低反射工件的观察。

偏光观察：观察具有偏光特性的物质，适用于半导体材料、液晶、结晶、金属组织、矿物等表面观察。

微分干涉（DIC）观察：利用Nomarski棱镜将光线分为两束，形成明暗和对比度变化，可进行立体观察。适用于观察硅片的结晶缺陷、磁头研磨面的损伤检查、涂装面、金属组织、矿石表面等。 共聚焦显微镜主要的观察对象是荧光。非标显微镜配件

照明系统通常包括光源，聚光镜及其他辅助透镜、反射镜。其中，光源的亮度、发光面积、均匀程度决定了聚光照明系统可以采用的形式。照明系统可采用的光源有卤钨灯、金属卤化物灯、高压汞灯、发光二 极管 (LED)、 氙灯、电弧灯等。有些光源在其发光面内具有足够的亮度和均匀性 ,可以用于直接照明 ,但大多数情况下，光源后面需要加入由聚光镜等构成的照明光学系统来实现一定要求的光照分布，同时使光能量损失小，这两方面是对不同照明系统进行设计时需要解决的共同问题。照明光学系统注重的是能量的分配而不是信息的传递，所关心的问题并不是像平面上的成像质量如何，而是被照明面上的照度分布和大小。上海显微镜金相显微镜原理及光学应用；

激光共焦扫描显微镜是点成像，因此要想获得物体的二维图像，需要借助于x和y方向的二维扫描。不同的显微镜采用不同的扫描方式：

(1)物体扫描。即物体本身按照一定的规律移动，而光束保持不变。

优点：光路稳定；缺点：需要大幅度的扫描工作台，因此扫描速度受到很大限制。

(2)利用反射式振镜构成光束扫描系统。即通过控制扫描振镜将聚焦光点有规律地反射到物体某一层面，完成二维扫描。其优点是精度较高，常用于高精度测量。扫描速度比物体扫描有所提高，但仍然不快 。

(3)使用声光偏转元件进行扫描，通过改变声波输出频率进而改变光波的传输方向来实现扫描。其突出优点是扫描速度非常快，由美国研制的利用声光偏转器产生实时视频图像的扫描系统，扫描一幅二维图像只需1/30s，几乎做到了实时输出。

(4)Nipkow盘扫描，其扫描过程是通过旋转Nipkow盘而保持其他元件不动完成的，可以一次成像，速度非常快。但是由于成像光束是轴外光，所以必须对透镜的轴外像差进行校正，并且光能利用率很低

使用显微镜时，您可能会遇到显微镜的专业术语，这些用语都代表什么意思呢？

综合放大倍率：综合放大倍率=目镜倍率 x 物镜倍率。

视场数（F.N）：视场数指目镜能否在广视野下进行观察的指标。样品表面的观察范围取决于目镜的视场光阑直径，该直径的值（以mm为单位）被称为视场数。F.N=Field Number。

实视场（FOV）：指通过目镜观察时实际观察和观察工件的实际范围。FOV：Field Of View

PC显示倍率（TV综合倍率）：PC显示器倍率（TV综合倍率）是指相机摄像元件对角线长度与PC显示器屏幕对角线长度之比。当显微镜通过CCD 设备连接至电脑上进行成像观察时，就需要评价显示器倍率了。

工作距离（WD）：工作距离是指聚焦时物镜镜头头部顶点到检查物体表面的距离，在该距离下可实现清晰的对焦。工作距离越长,聚焦时操作性越好,不用担心镜头会碰上检查物体。WD：WorkingDistance

齐焦距离（PFD）：齐焦距离是指聚焦时从物镜安装位置到合焦时检查物体表面的距离。PFD：ParFieldDistance

焦点距离（FD）：焦点距离指镜头（主点）到焦点的距离。FD：Focus Distance

焦点深度（DOF）：焦点深度是指聚焦之后,聚焦位置前后移动,也能清晰的观察的前后移动范围。DOF：Depth Of Focus 激光扫描共聚焦显微镜的扫描成像技术。

探针应用的显微镜STM和AFM的原理其实就是利用探针与样品间的距离进行测绘得到的样子，也可以说是根据样品与探针间测量得到的距离，将图像画下来的样子。当然，具体原理还是有点不一样的。为什么会有两种“探针型”的显微镜，STM显微镜因为需要测定电流，因此必须要求所测样品需要具有导电性，而AFM显微镜因为只需要测定相互作用力，因此不需要考虑测定电流，所以相比STM显微镜可以测定更多类型样品。而AFM的缺点则是其分辨率比STM要低，主要原因也是测量时候的原理及目前技术上的问题。首先测定形变是利用激光，在形变后激光的方向会发生偏折，因此测定的其实是激光的信息从而绘制的图像。电子显微镜与光学显微镜；70XL显微镜性价比

视频显微镜和金像显微镜。非标显微镜配件

扫描探针显微镜根据所利用的探针与样品之间相互作用物理场的不同，被分为不同系列的显微镜。其中扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)是比较常用的两类扫描探针显微镜。扫描隧道显微镜是通过检测探针与被测样品之间的隧道电流的大小来检测样品表面结构。原子力显微镜是通过光电位移传感器检测针尖一样品间的相互作用力(既有可能足吸引力，也有可能是排斥力)所引起的微悬臂形变来检测样品表面。可根据不同需求来进行定制，满足不同应用场合非标显微镜配件

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