mitutoyo显微镜常见问题

显微镜的使用方法及步骤：1、取用和放置使用时首先从镜箱中取出显微镜，一手握持镜臂，一手托住镜座，保持镜身直立，不可用一只手倾斜提携，防止摔落目镜。轻取轻放，放时使镜臂朝向自己，距桌边沿5-10厘米处。桌子平衡，桌面清洁，避免直射阳光。

2、开启光源打开电源开关

3、放置玻片标本将待镜检的玻片标本放置在载物台上，材料正对通光孔中间。再用弹簧压片夹在玻片的两端，防止玻片标本移动。若为玻片移动器，则将玻片标本卡入玻片移动器，然后调节玻片移动器，将材料移至正对通光孔**的位置

4、低倍物镜观察用显微镜观察标本时，应先用低倍物镜找到物像。其法如下：(1)转动粗调螺旋，用眼从侧面观望，使镜筒下降，直到低倍物镜距标本0.5厘米左右为度。(2)用左眼从目镜中观察，右眼自然睁开，用手慢慢转动粗调螺旋，使镜筒渐渐上升，直到视野内的物像清晰为止。此后改用微调螺旋，稍加调节焦距，使物像**清晰。(3)用手前后左右轻轻移动玻片或调节玻片移动器，便可找到欲观察的部分。要注意视野中的物像为倒像，移动玻片时应向相反方向移动。

在使用显微镜时要细心和耐心，勿操之过急，动作过猛，以防操作失误而损坏构件。不要用手触摸光学玻璃部分，防止剧烈碰撞而损坏构件 透射电子显微镜、扫描电子显微镜、扫描隧道显微镜和原子力显微镜是各个高科技领域常用的四种显微镜。mitutoyo显微镜常见问题

扫描透射电子显微镜 (STEM) 基本原理

场发射电子枪激发的电子束经过复杂的聚光系统后被汇聚成为原子尺度的电子束斑，作为高度聚焦的电子探针，在扫描线圈的控制下对样品进行逐点光栅扫描。STEM成像不同于平行电子束的TEM，其利用聚集的电子束在样品上扫描。与SEM不同之处在于探测器置于试样下方，探测器接收透射电子束流或弹性散射电子束流，经放大后在荧光屏上显示出明场像和暗场像。各种成像模式收集散射信号的接收角度不同，因此可获取同一位置的不同图像，从而反应材料的不同信息，有环形明场像（ABF）、环形暗场像（ADF）、高角环形暗场像（HAADF）。 重庆显微镜按需定制显微镜的专业术语词义；

扫描探针显微镜控制器通过扫描器在竖直舛由方向移动样品以使探针和样品之间的距离(或相互作用的物理量)稳定在某一固定值;同时在x-y水平平面移动样品，使探针按照扫描路径扫描样品表面。扫描探针显微镜在稳定探针与样品间距的情况下，检测系统检测探针与样品之间相互作用的相关物理量信号;在稳定相互作用物理量的情况下，则通过竖直方向礴由位移传感器检测探针与样品之问距离。图像系统则根据检测信号(或探针与样品间距)对样品表面进行成像等图像处理。

聚焦离子束（FIB）显微镜

随着纳米科技的发展，纳米尺度制造业发展迅速，而纳米加工就是纳米制造业的重要部分，纳米加工的代表性方法就是聚焦离子束。近年来发展起来的聚焦离子束（FIB）技术利用聚焦离子束对材料进行纳米加工，配合扫描电镜（SEM）等高倍数电子显微镜实时观察，成为了纳米级分析、制造的主要方法。目前已广泛应用于半导体集成电路修改、切割和故障分析等。

技术特征

1、比较高束流可以达到100nA,且加工性能优异。可以实现快速切割和纳米加工。

2、最高分辨率小于3nm，可以实现精细加工，并显示优异的FIB成像质量。

3、电压范围在500V-30KV可调，可以实现精细抛光，降低样品表面非晶层厚度。

4、离子源比较稳定，使用寿命长。行业内**长离子源寿命1500小时（3000uAh），72小时束流变化在5%以内。5、与SEM镜筒完美配合，可以实现FIB加工过程中可以利用SEM进行实时观察。 体视显微镜的性能特点；

显微镜对于不透明物体的照明和暗视场照明方法

对于不透明物体，采用从侧面或者从上方照明的方法。此时，标本是靠散射光或反射光成像的。侧面照明是把光源放在标本的斜上方，有的显微镜用物镜四周的小灯泡形成斜照明，上方照明方式使物镜兼作聚光镜

暗视场照明方法：暗视场照明适用于离散分布的颗粒标本的观测。在某种程度上，暗视场照明可以提高显微镜的分辨率。暗视场照明的原理是不让透过标本的光直接进入物镜，只让由颗粒散射的光线进入物镜。这样，使物镜形成的像面是一个暗背景上分布着亮颗粒的景象。由于衬度（对比）好，有利于颗粒的分辨。暗视场照明分为单向暗视场照明和双向暗视场照明。分为单向暗视场照明和双向暗视场照明。 电子显微镜与光学显微镜；三丰显微镜供应

激光共聚焦显微镜不仅可以改善有效信号，而且可以降低噪声信号并获得高质量的荧光图像。mitutoyo显微镜常见问题

扫描透射电子显微镜兼具扫描成像与透射分析的特点，其仪器结构可看作SEM与TEM的结合。STEM主要由电子枪、电子光学系统、样品室、环形探测器与成像设备等组成。STEM与TEM的主要区别在于添加了扫描附件；与SEM的不同在于电子信号探测器安置在样品下方。

优缺点：

优点：（1）成像质量高，受样品厚度与仪器干涉小（2）可达到原子分辨率（3）结果分析简单、直观（4）能够快速获取样品的综合信息，成像效率高。

缺点：（1）制样时间长，对样品的要求高；（2）一些材料在高能电子束中不稳定；（3）测试成本高，仪器分布稀少。 mitutoyo显微镜常见问题

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