山东 IGBT探针台

高温探针台作为一种高科技产品，价格昂贵，生产成本高，这需要我们在使用时格外注意，以免造成经济损失。那么，我们在使用时应该如何维护和保养高温探针台呢？1、避免碰撞在安装，操作CS探针台时应避免碰撞，机体放置需平坦，不可倾斜或横倒，避免机器发生故障或异常异音。2、仪器的运输仪器运输时，请先拔掉电源线插头。高温探针台运输应使用专门的包装箱，避免碰到探针台的任何运动部件。3、仪器的存放使用完后需要注意保持清洁，尽量把灰尘吹干尽，以免灰尘将机械部件，光学部件，电学接触面污染，导致仪器精度降低。4、清洁探针台机体清洁时，避免直接泼水清理，以无尘布轻轻擦拭并吹干即可。不可用硬物接触机器，以免发生故障或危险。高温探针台光学部件清洁时，可用镜头纸蘸无水酒精从中间向外轻轻的擦拭。无水酒精时易燃物，注意使用安全。5、停止运行停电或长期不用、外出旅行时，请将电源线插头拔掉以维护机器寿命。操作人员一定要严格按要求进行使用，以保证数据的准确和仪器的正常使用。6、工作环境探针台应放在稳定可靠的台面上，比较好的是具有防震装置的工作台上，避免在高温，潮湿激烈震动，阳光直接照射和灰尘较多的环境下使用。使用电源：220±10%，50~60Hz高低温真空探针测试系统。山东 IGBT探针台

H系列探针台是一款配置综合型手动测试探针台,该系列探针台设备配置丰富，基本可以满足一般实验室的全部测试要求。其样品台可以360度快速移动，便于快速定位样品位置，提高测试效率。并且具备三段式针座平台，在不失焦的情况下可以使样品和探针做到快速分离。此设备一般适用于大型实验室或者半导体工厂。产品优势：卡盘可360度快速移动，便于快速定位样品位置，提高测试效率大手柄微分头驱动，省时，省力，省心三段式可升降探针座平台，在不失焦的情况下可以使样品和探针做到快速分离山东 CV测试探针台晶圆级测试自动探针台。

探针台-高低温真空光电测试系统功能：用于测试半导体器件，材料，发光器件等综合性能表征系统，可测试参数包括：暗电流、光电流、光电压（光伏器件）、响应速度、光谱响应、变光强的R~P响应等。系统由光源、探针台和光电测试三部分组成，根据用户需求，三大部分可以进行定制化开发，以实现不同光谱覆盖范围、不同测试环境和不同测试功能的实现。探针台可选项： 低温/常温/高温、有背栅/无背栅、光纤导入/无光纤、有磁场/无磁场、真空/非真空 等。

探针台应用手动探针台广泛应用于，科研单位研发测试、院校教学操作、企业实验室芯片失效分析等领域。一般使用于研发测试阶段 ，批量不是很大的情况，大批量的重复测试推荐使用探卡。主要功能：搭配外接测试测半导体参数测试仪、示波器、网分等测试源表，量测半导体器件IV CV脉冲/动态IV等参数。用途：以往如果需要测试电子元器件或系统的基本电性能（如电流、电压、阻抗等）或工作状态，测试人员一般会采用表笔去点测。随着电子技术的不断发展，对于精密微小（纳米级）的微电子器件（如IC、晶圆、芯片、LCD Array、CMOS Camera Module、Pitch微小的Connector），表笔点到被测位置就显得无能为力了。于是一种高精度探针座应运而生,利用高精度微探针将被测原件的内部讯号引导出来，便于其电性测试设备（不属于本机器）对此测试、分析。探针台是检测半导体芯片的电参数、光参数的关键设备。

提到手动探针台，大家就会对操作系统感兴趣，因为手动与自动的非常大的区别在于需要人工干预探针台的工作，加工工作需要靠机械和人力共同完成，这就关系到各个厂家车间加工的技术人员了，也有很多朋友非常关心探针台的价格，担心会因为图便宜而影响探针台的性能，其实，如果大家选择了创谱，这些都不是问题。1、探针台类型：例如准确测量型探针台、综合分析型探针台、高低温真空探针台等，能够满足不同工作环境的需求。2、质量非常有保证：每一台手动探针台都是新机，并且还能提供定制服务，专门针对厂家的需求办事，即便是手动操作也能实现准确加工。3、经济实惠：坚持为每一位客户提供上门安装教学的服务，并且提供更加安全有保障的售后服务，帮助大家在短时间内上手，实现准确操作手动探针台工作，即便是合成电路、测试设备、硬件软件测试等等，轻而易举解决这些细节难题!探针台chuck具备升降功能，便于样品和探针的快速分离。MOSFET探针台规格

低温探针台集成系统。山东 IGBT探针台

手动探针台的使用方式：1.将样品载入真空卡盘，开启真空阀门控制开关，使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。2.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台，在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。3.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。4.显微镜切换为高倍率物镜，在大倍率下找到待测点，再微调显微镜聚焦和样品x-y，将影像调节清晰,带测点在显微镜视场中心。5.待测点位置确认好后,再调节探针座的位置,将探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的位置旁边,再使用探针座X-Y-Z三个微调旋钮,慢慢的将探针移至被测点,此时动作要小心且缓慢，以防动作过大误伤芯片，当探针针尖悬空于被测点上空时，可先用Y轴旋钮将探针退后少许，再使用Z轴旋钮进行下针，***则使用X轴旋钮左右滑动，观察是否有少许划痕，证明是否已经接触。6.确保针尖和被测点接触良好后，则可以通过连接的测试设备开始测试。山东 IGBT探针台

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