江苏体式显微镜

激光共聚焦显微镜可以将水平分辨率提高40%以上，其优势可以达到120nm。激光共聚焦显微镜具有高度适应性，并且是非接触式检测。为了改善场景的深度，必须在高度方向上进行扫描以获得一系列切片，然后重叠以获得三维图像。激光共聚焦显微镜不需要样品制备和电导率处理，并且样品没有损坏(可以检测粉末，软样品和透明样品)。激光共聚焦显微镜具有丰富的测量结果，高分辨率的2D和3D摄影。各种2D和3D显示结果的比较，大面积图像样条曲线，非接触粗糙度测量，膜厚度测量，荧光分析等。操作和维护都很简单。激光共聚焦显微镜不需要昂贵的材料，模块设计，用户友好的操作软件以及自动校正程序。激光共焦扫描显微镜是点成像。江苏体式显微镜

聚焦离子束（FIB）显微镜

随着纳米科技的发展，纳米尺度制造业发展迅速，而纳米加工就是纳米制造业的重要部分，纳米加工的代表性方法就是聚焦离子束。近年来发展起来的聚焦离子束（FIB）技术利用聚焦离子束对材料进行纳米加工，配合扫描电镜（SEM）等高倍数电子显微镜实时观察，成为了纳米级分析、制造的主要方法。目前已广泛应用于半导体集成电路修改、切割和故障分析等。

技术特征

1、比较高束流可以达到100nA,且加工性能优异。可以实现快速切割和纳米加工。

2、最高分辨率小于3nm，可以实现精细加工，并显示优异的FIB成像质量。

3、电压范围在500V-30KV可调，可以实现精细抛光，降低样品表面非晶层厚度。

4、离子源比较稳定，使用寿命长。行业内**长离子源寿命1500小时（3000uAh），72小时束流变化在5%以内。5、与SEM镜筒完美配合，可以实现FIB加工过程中可以利用SEM进行实时观察。 江苏体式显微镜激光扫描共聚焦显微镜的扫描成像技术。

扫描透射电子显微镜 (STEM) 是什么？

扫描透射电子显微镜（Scanning Transmission Electron Microscopy， STEM）由透射电子显微镜（TEM）发展而来，指透射电子显微镜中有扫描附件者，尤其是指采用场发射电子枪作成的扫描透射电子显微镜。扫描透射电子显微分析是综合了扫描和普通透射电子分析的原理和特点而出现的一种新型分析方式，其空间分辨率可达亚埃米级，可在纳米和原子尺度上对材料微结构与精细化学组分的表征与分析。在冶金、材料、环境科学、生物科学等领域具有巨大应用潜力。

体视显微镜又可称为立体显微镜或解剖显微镜，是一种具有正象立体感显微镜。常常用于切片操作和显微外科手术等生物、医学领域和微小零件和集成电路的观测、装配、检查等工业检测。金相显微镜主要是用来鉴定和分析金属内部结构组织，是金属学研究金相的重要仪器，是工业部门鉴定产品质量的关键设备，专门用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。性能优越的光学系统，实现了大视野高分辨率成像；消色差设计有效实现色差校正。体视显微镜的光路设计；

激光共焦扫描显微镜是点成像，因此要想获得物体的二维图像，需要借助于x和y方向的二维扫描。不同的显微镜采用不同的扫描方式：

(1)物体扫描。即物体本身按照一定的规律移动，而光束保持不变。

优点：光路稳定；缺点：需要大幅度的扫描工作台，因此扫描速度受到很大限制。

(2)利用反射式振镜构成光束扫描系统。即通过控制扫描振镜将聚焦光点有规律地反射到物体某一层面，完成二维扫描。其优点是精度较高，常用于高精度测量。扫描速度比物体扫描有所提高，但仍然不快 。

(3)使用声光偏转元件进行扫描，通过改变声波输出频率进而改变光波的传输方向来实现扫描。其突出优点是扫描速度非常快，由美国研制的利用声光偏转器产生实时视频图像的扫描系统，扫描一幅二维图像只需1/30s，几乎做到了实时输出。

(4)Nipkow盘扫描，其扫描过程是通过旋转Nipkow盘而保持其他元件不动完成的，可以一次成像，速度非常快。但是由于成像光束是轴外光，所以必须对透镜的轴外像差进行校正，并且光能利用率很低 显微镜的几种观察方法；体式显微镜维修

扫描探针显微镜的特点。江苏体式显微镜

透射电子显微镜和扫描电子显微镜两者用的都是电子作为发射源，不过透射电子显微镜的结构更像是我们看到的光学显微镜，即通过两次电子束的聚焦，然后经过样品，经过投影屏放大分析，得到样品的微观结构。但是扫描电子显微镜则没有后面用来放大的投影屏，而是接收屏，即电子打在样品上后激发产生的二次电子，也可以理解为“反射”。所以看到的TEM和SEM在图像成像上，前者看着极其扁平，如同光镜的图像，是一个平面。但是SEM获得的图像有纵深，看着像是3D图像。江苏体式显微镜

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