AI芯片市场竞争激烈,测试成本直接影响产品定价与市场渗透率。GT600支持高达512 Sites的并行测试能力,意味着单次测试可同时验证数百颗芯片,将单位测试时间压缩至传统设备的1/10以下。结合其高稳定性与自动化软件平台,整体测试成本可降低70%以上。这一优势对年出货量达百万级的边缘AI芯片、智能摄像头主控、机器人控制器等产品尤为关键。杭州国磊通过GT600构建的“超级测试流水线”,不仅提升了国产芯片的量产效率,更增强了中国AI硬件在全球市场的价格竞争力,真正实现“测得起、卖得快、走得远”。国磊GT600可测GPU类AI加速芯片如国产GPU(如风华)多电源域管理、显示接口、高精度ADC/DAC及低功耗模式。深圳GEN3测试系统供应

Chiplet时代的“互联验证者” Chiplet(芯粒)技术通过将大芯片拆分为小芯片再集成,突破摩尔定律瓶颈,成为先进制程的重要方向。然而,小芯片间的高速互联(如UCIe)对信号完整性、功耗、时序提出极高要求。杭州国磊GT600凭借400MHz测试速率与100ps边沿精度,可精确测量Chiplet间接口的信号延迟与抖动。其高精度SMU可验证微凸块(Micro-bump)的供电稳定性,检测微小电压降。PPMU则用于测量封装后各芯粒的**功耗,确保能效优化。杭州国磊GT600的模块化设计也便于扩展,可针对不同芯粒配置**测试板卡。在Chiplet技术快速发展的***,杭州国磊GT600以高精度互联验证能力,为国产先进封装芯片的可靠性与性能保驾护航。广州PCB测试系统按需定制国磊GT600可选ALPG功能,生成地址/数据序列,用于测试集成了EEPROM或配置寄存器的模拟前端(AFE)芯片。

在全球半导体测试设备长期被美日巨头垄断的背景下,杭州国磊推出的GT600 SoC测试机标志着中国在**数字测试领域实现关键突破。该设备支持高达400 MHz的测试速率和**多2048个数字通道,足以覆盖当前主流AI芯片、高性能计算SoC及车规级芯片的验证需求。其模块化架构不仅提升了测试灵活性,还***降低了客户部署成本。更重要的是,GT600实现了从硬件到软件的全栈自主可控,有效规避了“卡脖子”风险。在中美科技竞争加剧、国产芯片加速落地的大环境下,GT600不仅是一台测试设备,更是保障中国半导体产业链安全的战略支点,为国内设计公司提供了可信赖、高效率、低成本的本土化验证平台。
对于时间测量要求极高的场景(如ADAS传感器信号),杭州国磊GT600可选配高精度TMU(时间测量单元,分辨率10ps),精确捕捉信号延迟与抖动,确保通信实时性。 再次,GT600支持混合信号测试。 现代车规芯片(如智能座舱、域控制器SoC)集成了CPU、GPU、ISP、音频编解码等模块。国磊GT600通过可选AWG板卡生成高保真模拟信号,测试摄像头ISP的图像处理能力;通过高速数字通道验证CAN-FD、Ethernet等通信接口功能。 ***,国磊GT600的512站点并行测试能力,大幅提升了车规芯片的量产效率,降低了单颗测试成本,助力国产车规芯片快速上车。国磊GT600每通道集成PPMU,支持nA级电流分辨率,可精确测量SoC在睡眠、深度睡眠或关断模式下的静态漏电流。

杭州国磊(Guolei)的GT600SoC测试系统本质上是一款面向高性能系统级芯片(SoC)量产与工程验证的自动测试设备(ATE),其**能力聚焦于高精度数字、模拟及混合信号测试。虽然该设备本身并非为量子计算设计,但在当前科技融合加速发展的背景下,杭州国磊(Guolei)SoC测试系统确实可以在特定环节与量子科技产生间接但重要的联系。量子芯片控制与读出电路的测试需求目前实用化的量子处理器(如超导量子比特、硅基自旋量子比特)本身无法**工作,必须依赖大量经典控制电子学模块——包括高速任意波形发生器(AWG)、低噪声放大器、高精度数模/模数转换器(DAC/ADC)以及低温CMOS读出电路。这些**控制芯片多为定制化SoC或ASIC,需在极端条件下(如低温、低噪声)进行功能与参数验证。GT600配备的高精度AWG板卡(THD达-122dB)、24位混合信号测试能力及GT-TMUHA04时间测量单元(10ps分辨率),恰好可用于验证这类量子控制芯片的信号保真度、时序同步性与电源完整性,从而间接支撑量子系统的稳定运行。 国磊GT600凭高精度参数测量、多域电源控制与可编程软件平台,支持从90nm到7nm主流工艺节点电源门控测试。湖州高阻测试系统
GM8800导电阳极丝测试系统,**检测电路绝缘劣化,支持高达256通道并行测试。深圳GEN3测试系统供应
可选AWG/TMU/Digitizer:混合信号的“全能工具箱” 杭州国磊GT600支持选配AWG(任意波形发生器)、TMU(时间测量单元)和Digitizer(数字化仪),使其从“数字测试机”升级为“混合信号测试平台”。AWG可生成正弦波、三角波、噪声等任意波形,用于测试手机SoC的ISP图像处理、音频编解码性能,THD低至-122dB,信号纯净度媲美**仪器。TMU具备10ps时间分辨率,可精确测量5G基带信号的抖动与延迟,保障通信质量。Digitizer则能高速采样模拟信号,用于验证传感器接口、电源纹波等。在测试一颗集成了摄像头、麦克风、蓝牙的IoT芯片时,杭州国磊GT600可同时激励数字逻辑、注入模拟信号、采集响应波形,实现全功能闭环验证。这套“工具箱”让杭州国磊GT600能应对日益复杂的混合信号SoC,无需外接多台设备,节省空间与成本。深圳GEN3测试系统供应
每通道PPMU:芯片健康的“精密听诊器” 。杭州国磊GT600的每通道集成PPMU(参数测量单元),是其高精度测试的**。PPMU可在FVMI(强制电压测电流)模式下,精确测量nA级静态漏电流(Iddq),相当于检测每秒流过数亿个电子的微小电流。在手机芯片测试中,这能识别因工艺缺陷导致的“待机耗电”问题,确保续航达标。在FIMV(强制电流测电压)模式下,可验证电源调整率,防止芯片在高负载下电压跌落导致死机。PPMU还支持快速哨兵测试(Quick Sentinel),在毫秒内完成所有引脚的开路/短路检测,大幅提升初筛效率。对于AI芯片,PPMU可逐核测量功耗,筛选出“能效比较好”**。这一“每引...