高性能SIR测试系统哪家好

可选AWG/TMU/Digitizer：混合信号的“全能工具箱” 杭州国磊GT600支持选配AWG（任意波形发生器）、TMU（时间测量单元）和Digitizer（数字化仪），使其从“数字测试机”升级为“混合信号测试平台”。AWG可生成正弦波、三角波、噪声等任意波形，用于测试手机SoC的ISP图像处理、音频编解码性能，THD低至-122dB，信号纯净度媲美**仪器。TMU具备10ps时间分辨率，可精确测量5G基带信号的抖动与延迟，保障通信质量。Digitizer则能高速采样模拟信号，用于验证传感器接口、电源纹波等。在测试一颗集成了摄像头、麦克风、蓝牙的IoT芯片时，杭州国磊GT600可同时激励数字逻辑、注入模拟信号、采集响应波形，实现全功能闭环验证。这套“工具箱”让杭州国磊GT600能应对日益复杂的混合信号SoC，无需外接多台设备，节省空间与成本。您正在为寻找可靠的高阻测试方案而烦恼吗？看这里就购了。高性能SIR测试系统哪家好

AI芯片的可靠性不仅取决于逻辑功能正确，更在于能否在复杂算法流下稳定运行。GT600每通道提供高达128M的向量存储深度，远超行业平均水平，使得测试工程师能够加载完整的Transformer推理序列、CNN图像处理流程甚至轻量化大模型的执行轨迹进行回放测试。这种“场景级验证”能有效捕获传统短向量测试难以发现的边界异常、缓存***或功耗尖峰。对于强脑科技、宇树科技等开发**AI硬件的企业而言，GT600提供的不仅是功能覆盖，更是对实际使用环境的高度模拟，从而***提升产品鲁棒性，降低售后故障率，真正实现“测得准、用得稳”。杭州PCB测试系统批发电阻测量范围10⁶–10¹⁴Ω，满足高阻值测试需求，数据准确可靠。

高精度模拟测试满足车规级信号完整性要求 智能驾驶系统高度依赖毫米波雷达、摄像头、激光雷达等传感器输入，其前端模拟信号链对噪声、失真和时序精度极为敏感。杭州国磊GT600配备的GT-AWGLP02 AWG板卡具备-122dB THD与110dB SNR指标，可精细生成高质量模拟激励信号；而GT-TMUHA04时间测量单元则提供10ps分辨率与时序误差*±10ps的测量能力。这些高精度模拟与混合信号测试功能，使得GT600能够***验证AD/DA转换器、高速SerDes接口及电源管理模块在极端工况下的性能表现，确保智能驾驶SoC在真实道路环境中稳定可靠运行。

国磊（Guolei）的SoC测试机（如GT600）虽然主要面向高性能系统级芯片（SoC）的数字、模拟及混合信号测试，但其技术能力与MEMS（微机电系统）领域存在多维度、深层次的联系。尽管MEMS器件本身结构特殊（包含机械微结构、传感器/执行器等），但在实际应用中，绝大多数MEMS芯片都需与**ASIC或SoC集成封装（如惯性测量单元IMU、麦克风、压力传感器等），而这些配套电路的测试正是国磊SoC测试机的**应用场景。MEMS-ASIC协同封装的测试需求，现代MEMS产品极少以“裸传感器”形式存在，通常采用MEMS+ASIC的异质集成方案。例如，加速度计/陀螺仪中的MEMS结构负责感知物理量，而配套的ASIC则完成信号调理、模数转换、温度补偿和数字接口输出。这类ASIC往往具备高精度模拟前端（如低噪声放大器、Σ-Δ ADC）、可编程增益控制和I²C/SPI数字接口，属于典型的混合信号SoC。 国磊GT600配备24位高精度AWG/Digitizer板卡、PPMU每引脚参数测量单元及TMU时间测量功能，可***验证此类MEMS配套ASIC的线性度、噪声性能、时序响应和电源抑制比，确保传感器整体精度与可靠性。国磊GT600利用高精度边沿（100ps）和TMU测量时序窗口进行时序与动态性能测试，建立/保持时间测试。

低温CMOS芯片的常温预筛与参数表征。许多用于量子计算的控制芯片需在毫开尔文温度下工作，但其制造仍基于标准CMOS工艺。在封装并送入稀释制冷机前，必须通过常温下的严格电性测试进行预筛选。国磊（Guolei）GT600支持每引脚PPMU（参数测量单元）和可编程浮动电源（-2.5V~7V），能精确测量微弱电流、漏电及阈值电压漂移等关键参数，有效剔除早期失效器件，避免昂贵的低温测试资源浪费。量子测控SoC的量产验证平台 随着量子计算机向百比特以上规模演进，集成化“量子测控SoC”成为趋势（如Intel的Horse Ridge芯片）。这类芯片集成了多通道微波信号调制、频率合成、反馈控制等功能，结构复杂度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行测试能力、128M向量深度及400MHz测试速率，完全可满足此类**SoC在工程验证与小批量量产阶段的功能覆盖与性能分bin需求。国磊GT600凭高精度参数测量、多域电源控制与可编程软件平台，支持从90nm到7nm主流工艺节点电源门控测试。绝缘电阻测试系统制作

国磊GT600在电源门控测试中，通过其高精度测量能力与灵活测试架构，适配成熟到先进节点的工艺制程。高性能SIR测试系统哪家好

国磊GT600支持可选配高精度浮动SMU板卡，每块SMU可**输出电压与监测电流。对于具有多个电源域（如VDD_CORE、VDD_IO、VDD_SRAM、VDD_PG）的SoC，GT600可为每个域分配**SMU通道，实现各电源域**上电/断电、不同电压值（如1.8V、1.2V、0.9V）同时施加、防止电源域间相互干扰。现代SoC要求多个电源域按特定顺序上电（如先VDD_IO，后VDD_CORE）以避免闩锁效应。国磊GT600通过GTFY软件系统编程控制各SMU的开启时间，精确设置各域电压的上升延迟（精度达ms级），验证SoC在正确与错误时序下的行为，确保设计符合规范。国磊GT600的SMU和PPMU支持实时监测每个电源域的电流消耗，可用于识别某电源域的异常功耗（如漏电、短路）、分析不同工作模式（运行、睡眠、唤醒）下的域级功耗分布、验证电源门控模块是否有效切断目标域供电。国磊GT600可编程调节各电源域电压（如±5%波动），测试SoC在电压偏移条件下的功能稳定性，评估电源完整性设计余量。对于国磊GT600SMU电压范围外的电源（如高压模拟域），可通过GPIB/TTL接口控制外部源表或电源模块，实现与GT600内部SMU的同步操作，构建完整的多电源域测试系统。高性能SIR测试系统哪家好