AI加速芯片(如思元系列)专为云端推理与边缘计算设计,**诉求是“高算力密度、***能效比、毫秒级稳定响应”。这类芯片往往集成数千个AI**与高速互联总线,测试复杂度高、功耗敏感、量产规模大,传统测试设备难以兼顾效率与精度。国磊GT600凭借512站点并行测试能力,可同时对512颗芯片进行功能与参数验证,极大缩短测试周期,摊薄单颗芯片成本——这对动辄数万片出货的数据中心级芯片而言,意味着数千万级成本优化。在功耗控制上,国磊GT600的PPMU单元可精确测量芯片在待机、轻载、满载等多场景下的静态与动态电流,结合FVMI(强制电压测电流)模式,验证芯片在不同电压域下的功耗表现,确保其在7x24小时运行的数据中心中实现“每瓦特算力比较大化”。同时,其高精度TMU(时间测量单元,10ps分辨率)可检测AI**间数据同步的时序抖动,避免因时钟偏移导致的推理错误或延迟波动,保障AI服务的稳定低时延。 国磊GT600尤其适用于对漏电控制要求严苛的低功耗SoC,是国产高ji芯片研发与量产验证的重要支撑工具。珠海导电阳极丝测试系统定制价格

每通道PPMU:芯片健康的“精密听诊器” 。杭州国磊GT600的每通道集成PPMU(参数测量单元),是其高精度测试的**。PPMU可在FVMI(强制电压测电流)模式下,精确测量nA级静态漏电流(Iddq),相当于检测每秒流过数亿个电子的微小电流。在手机芯片测试中,这能识别因工艺缺陷导致的“待机耗电”问题,确保续航达标。在FIMV(强制电流测电压)模式下,可验证电源调整率,防止芯片在高负载下电压跌落导致死机。PPMU还支持快速哨兵测试(Quick Sentinel),在毫秒内完成所有引脚的开路/短路检测,大幅提升初筛效率。对于AI芯片,PPMU可逐核测量功耗,筛选出“能效比较好”**。这一“每引脚级”测量能力,让杭州国磊GT600成为芯片可靠性的“***守门人”。广东GEN测试系统批发国磊GT600SoC测试机ALPG功能可生成地址/数据模式,用于HBM存储控制器的功能验证。

杭州国磊GT600 SoC测试机凭借其高精度、高可靠性与混合信号测试能力,特别适用于对安全性和稳定性要求极高的**医疗设备芯片的测试。以下几类关键芯片非常适合使用杭州国磊GT600进行验证: 1. 医用SoC与微控制器(MCU) 现代医疗设备(如便携式超声仪、智能监护仪、血糖仪)的**是集成了CPU、ADC、DAC、无线通信模块的SoC或MCU。国磊GT600可***验证其数字逻辑功能,并通过可选AWG和Digitizer板卡,精确测试模拟前端(AFE)对生物电信号(如心电ECG、脑电EEG)的采集精度与噪声抑制能力,确保测量数据真实可靠。 2. 高精度模拟与混合信号芯片 医疗设备依赖高精度ADC(模数转换器)和DAC(数模转换器)进行信号转换。国磊GT600的PPMU可精确测量nA级漏电流,防止信号漂移;其高精度TMU和可选AWG能生成标准生理信号波形,验证ADC的线性度、信噪比(SNR)等关键参数,确保血压、血氧等测量值符合医疗级标准。
数据中心芯片的“能效裁判” 在“双碳”目标下,数据中心能耗成为焦点,芯片能效比(Performance per Watt)成为**指标。杭州国磊GT600通过PPMU精确测量AI加速芯片、服务器CPU的静态与动态功耗,结合FVMI(强制电压测电流)模式,绘制完整的功耗-性能曲线,帮助设计团队优化电压频率调节(DVFS)策略。其FIMV模式还可检测芯片在高负载下的电压跌落,防止因供电不稳导致死机。杭州国磊GT600支持长时间稳定性测试,模拟数据中心7x24小时运行场景,筛选出“耐力型”芯片。512站点并行测试大幅降低单颗芯片测试时间与成本,适配万片级量产需求。杭州国磊GT600不仅是性能的验证者,更是能效的“精算师”,助力国产芯片在绿色计算时代赢得市场。当电源门控开关未完全关断时被关闭模块仍会产生异常漏电。国磊GT600通过PPMU测量被门控电源域的静态电流。

兼容探针台与分选机,打通晶圆到封装测试链路。智能驾驶芯片需经历晶圆测试(CP)与封装测试(FT)双重验证。杭州国磊GT600支持GPIB、TTL等标准接口,可无缝对接主流探针台与分选机设备,实现从裸片到成品的全流程自动化测试。尤其在高温、低温等车规级应力测试条件下,杭州国磊GT600的小型化、低功耗设计有助于在温控腔体内稳定运行,确保测试数据的一致性与可重复性,为芯片通过AEC-Q100认证提供可靠数据支撑。国产**测试设备助力智能驾驶产业链自主可控在全球半导体供应链紧张与技术封锁背景下,国产高性能测试设备的战略意义凸显。杭州国磊GT600作为国内少有的支持2048通道、400MHz速率的SoC测试机,已获得行业专业客户认可,标志着我国在**ATE领域取得突破。对于智能驾驶这一关乎国家交通安全与科技**的关键赛道,采用国磊GT600不仅可降低对国外测试设备的依赖,更能通过本地化技术支持快速响应芯片厂商的定制需求,加速中国智能驾驶芯片生态的自主化与全球化进程。 灵活的分组测试模式,可单独控制16通道为一组。杭州国磊GEN3测试系统供应
国磊GT600高达512个数字通道,可同时测试集成模拟模块的SoC,如MCU+ADC+DAC+OPA的完整功能验证。珠海导电阳极丝测试系统定制价格
GT600每通道集成PPMU,具备nA级电流分辨率。在电源门控测试中,将PPMU连接至被门控模块的电源引脚(VDD)或地引脚(VSS),在门控信号(PG_EN)关闭后,测量该模块的静态电流(IDDQ)。若电流**高于设计预期(如>1μA),则表明存在异常漏电,可能由工艺缺陷或电源开关未完全关断导致。GT600支持多路**SMU/PPMU,可同时监测主电源域与被门控电源域的电流。测试时,保持主逻辑供电,关闭目标模块的电源门控信号,通过对比门控前后该域电流的变化,精确提取**由门控网络控制的漏电成分,排除其他模块干扰。GT600支持电压扫描(VoltageSweeping)和温控联动(通过探针台接口),可在高温(如125°C)和高电压条件下进行测试,放大漏电效应,提升缺陷检出率。例如,在VDD=1.2V、125°C下测量关断电流,可暴露常温下难以发现的微小漏电。通过GTFY软件系统编写C++脚本,可自动化执行:施加正常工作电压;发送指令进入低功耗模式并触发电源门控;延时稳定(如10ms);启动PPMU进行电流采样;重复多次以验证一致性。该流程确保测试可重复,并能捕捉间歇性漏电。珠海导电阳极丝测试系统定制价格
每通道PPMU:芯片健康的“精密听诊器” 。杭州国磊GT600的每通道集成PPMU(参数测量单元),是其高精度测试的**。PPMU可在FVMI(强制电压测电流)模式下,精确测量nA级静态漏电流(Iddq),相当于检测每秒流过数亿个电子的微小电流。在手机芯片测试中,这能识别因工艺缺陷导致的“待机耗电”问题,确保续航达标。在FIMV(强制电流测电压)模式下,可验证电源调整率,防止芯片在高负载下电压跌落导致死机。PPMU还支持快速哨兵测试(Quick Sentinel),在毫秒内完成所有引脚的开路/短路检测,大幅提升初筛效率。对于AI芯片,PPMU可逐核测量功耗,筛选出“能效比较好”**。这一“每引...