RPS远程等离子源在先进封装中的解决方案针对2.5D/3D封装中的硅通孔（TSV）工艺，RPS远程等离子源提供了完整的清洗方案。在深硅刻蚀后，采用SF6/O2远程等离子体去除侧壁钝化层，同时保持铜导线的完整性。在芯片堆叠键合前，通过H2/N2远程等离子体处理，将晶圆表面氧含量降至0.5at%以下，明显 改善了铜-铜键合强度。某封测厂应用数据显示，RPS远程等离子源将TSV结构的接触电阻波动范围从±15%收窄至±5%。RPS远程等离子源在MEMS器件释放工艺中的突破MEMS器件无偿 层释放是制造过程中的关键挑战。RPS远程等离子源采用交替脉冲模式，先通过CF4/O2远程等离子体刻蚀氧化硅无偿 层，再采用H2/N2远程等离子体钝化结构层。这种时序控制将结构粘附发生率从传统工艺的12%降至0.5%以下。在惯性传感器制造中，RPS远程等离子源实现了200:1的高深宽比结构释放，确保了微机械结构的运动自由度。适用于特种材料科研开发的超真空表面处理。国产RPS石英舟处理
传统等离子清洗技术（如直接等离子体）常因高能粒子轰击导致工件损伤，尤其不适用于精密器件。相比之下，RPS远程等离子源通过分离生成区与反应区，只 输送长寿命的自由基到处理区域，从而实现了真正的“软”清洗。这种技术不仅减少了离子轰击风险，还提高了工艺的可控性。例如，在MEMS器件制造中，RPS远程等离子源能够精确去除有机污染物而不影响微结构。此外，其灵活的气体选择支持多种应用，从氧化物刻蚀到表面活化。因此，RPS远程等离子源正逐步取代传统方法，成为高级 制造的优先。重庆国内RPS等离子源处理cvd腔室适用于化合物半导体工艺的低温低损伤表面处理。
远程等离子体源RPS腔体结构，包括进气口，点火口，回流腔连通电离腔顶端与进气腔靠近进气口一侧顶部，气体由进气口进入经过进气腔到达电离腔，点火发生电离反应生成氩离子然后通入工艺气体，通过出气口排出至反应室内，部分电离气体经回流腔流至进气腔内，提高腔体内部电离程度，以便于维持工艺气体的电离，同时可提高原子离化率；电离腔的口径大于进气腔，气体在进入电离腔内部时降低了压力，降低了F/O原子碰撞导致的原子淬灭问题，保证电离率，提高清洁效率。
服务于航空航天和电动汽车的SiC/GaN功率模块，其散热能力直接决定了系统的输出功率和寿命。功率芯片与散热基板（如DBC）之间的界面热阻是散热路径上的关键瓶颈。RPS远程等离子源应用领域在此环节通过表面活化来优化界面质量。在焊接或烧结前，使用RPS对芯片背面和DBC基板表面进行清洗和活化，能彻底去除有机污染物和弱边界层，并大幅提高表面能。这使得液态焊料或银烧结膏在界面处能实现充分的润湿和铺展，形成致密、均匀且空洞率极低的连接层。一个高质量的连接界面能明显 降低热阻，确保功率器件产生的热量被快速导出，从而允许模块在更高的功率密度和更恶劣的温度环境下稳定运行，满足了车规级AEC-Q101和航空AS9100等严苛标准的要求。远程等离子体（RPS）对真空腔体进行微处理，达到去除腔体内部水残留气体，减少残余气体量目的。
远程等离子体源（Remote Plasma Source，RPS）作为一种先进的表面处理技术，正逐渐在多个工业领域展现其独特的价值。这种装置通过在真空环境中产生等离子体，并将其传输到目标表面进行处理，从而实现了对材料表面的均匀、高效改性。RPS不仅避免了传统等离子体源直接接触处理表面可能带来的热和化学损伤，还因其高度的集成性和灵活性，成为现代真空处理系统中不可或缺的一部分。其工作原理是将气体引入装置中，通过电场或磁场的激发产生等离子体，然后利用特定的传输机制将等离子体输送到需要处理的表面。这种技术广泛应用于半导体制造、光伏产业表面处理等领域。为催化材料研究提供可控表面改性平台。河北RPS联系方式
在传感器制造中实现敏感薄膜的均匀沉积。国产RPS石英舟处理
对于GaN、SiC等化合物半导体和MEMS传感器等精密器件，传统的等离子体工艺因其高能离子轰击和热效应容易造成器件性能的不可逆损伤。RPS远程等离子源应用领域在此提供了低损伤、高精度的解决方案。在GaN HEMT器件的制造中，RPS可用于栅极凹槽的刻蚀预处理或刻蚀后残留物的清理 ，其低离子能量特性确保了AlGaN势垒层和二维电子气（2DEG）不受损伤，从而维持了器件的高跨导和频率特性。在MEMS制造中，关键的步骤是层的释放，以形成可活动的微结构。RPS远程等离子源能够使用氟基或氧基自由基，温和且均匀地刻蚀掉结构下方的氧化硅或聚合物层，避免了因“粘附效应”（Stiction）导致的结构坍塌，极大地提升了MEMS陀螺仪、加速度计和麦克风的良品率和可靠性。国产RPS石英舟处理
