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粉末样品做球差原子成像，制样需要满足哪些关键要求？

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杭州博测材料科技有限公司2026-06-10

1. 样品厚度严格控制。观测有效薄区厚度需控制在 10~30 nm，厚度超过 50 nm 时电子会发生多重散射，晶格信号重叠，原子衬度完全消失；厚度不足易在电子束辐照下穿孔破损，无法稳定成像。制样时可通过长时间超声稀释、离子减薄获得合格薄区。

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简介：杭州博测材料科技有限公司成立于2024年，专注材料的分析、检测与研发提供高效的技术服务。
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    杭州博测材料科技有限公司 2026-06-10

    2. 粉末分散状态需均匀无堆叠。高浓度粉末易出现颗粒多层堆叠，多层晶格相互遮挡，无法分辨单层原子排列；制样时需用乙醇、**充分超声稀释，滴至超薄碳膜后静置挥发，避免颗粒团聚堆积。 3. 载网基底选择适配。优先选用超薄碳膜微栅，厚碳膜会产生大量背景碳信号，掩盖轻元素原子成像；研究碳基载体材料时可选用氮化硅载网，消除碳基底带来的背景干扰。

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    杭州博测材料科技有限公司 2026-06-13

    4. 无杂质、无表面污染物。粉末表面吸附油污、团聚盐离子会形成杂散亮点，干扰真实原子点位观测，测试前需充分清洗、高温烘干去除表面吸附杂质。

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