易辐照损伤样品如何开展球差电镜测试？

杭州博测材料科技有限公司2026-06-10

1. 降低电子束加速电压。常规测试电压 200 kV 能量过高，易打断有机分子、破坏二维薄层结构；可切换 60~80 kV 低压模式，降低电子束动能，减少电离、辐照分解损伤，适配高分子、金属有机框架、薄层二维材料。 2. 降低束流强度与单点曝光时长。调小电子束光斑尺寸，减少单位面积电子轰击量；拍摄时缩短单张图片曝光时间，采用快速扫描模式，避免电子束长时间定点辐照造成样品碳化、穿孔、晶格坍塌。

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