深圳市方瑞科技有限公司2026-06-09
在GeSi HBT工艺中需要精确刻蚀基区窗口。方瑞科技的PE-200刻蚀机采用傅里叶变换红外原位终点监测,结合<1nm/s的超慢刻蚀速率模式,刻蚀深度误差≤±2nm。设备还具备多步刻蚀-钝化程序,避免锗硅层富锗损伤。方瑞科技已为多家射频芯片企业开发完整工艺包。
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