分散在不同Excel表格或本地数据库中的测试数据,往往难以跨项目调用和对比。YMS通过构建标准化数据库,将来自ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等设备的异构数据,按产品型号、测试阶段、时间、区域等维度统一归档,形成结构清晰、索引完备的数据资产池。用户可通过多条件组合快速检索特定批次的历史良率记录,或横向比较不同封装线的表现。标准化存储不*提升查询效率,更为WAT/CP/FT参数联动分析、SYL/SBL卡控等高级功能提供一致数据源。跨部门协作时,设计、工艺与质量团队可基于同一套数据开展讨论,减少信息偏差。上海伟诺信息科技有限公司依托行业经验,使YMS成为企业构建数据驱动文化的基础设施。SPAT模块用于静态参数偏离的筛查,固定测试限保障CP/FT环节稳定性。安徽自动化Mapping Inkless服务

晶圆级良率监测需要处理高密度、高维度、大流量的测试数据,对系统解析能力、运算速度与分析精度提出较高要求。YMS良率管控方案可无缝对接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等量产主流设备,实时抓取全量原始测试数据,通过自动化结构化清洗,解决人工处理带来的数据延迟与统计偏差。平台搭载可视化晶圆热力图功能,可直观展示晶圆中心、边缘、各象限区域的良率差异,帮助工程师快速识别光刻、刻蚀、薄膜沉积等前道工艺的均匀性问题。当产线出现CP测试良率异常波动时,系统可联动追溯WAT前道工艺参数变化,实现从前道制造到后段封测的全链路故障溯源,定位问题根源。系统支持自动生成多周期分析报表,适配多格式导出需求,满足不同层级人员的数据使用习惯。依托可视化分析与智能关联算法,改变传统经验化管控模式,推动晶圆厂良率管理迈入数据驱动新阶段。西藏可视化MappingOverInk处理系统定制Mapping Over Ink处理支持结果回溯,确保数据在供应链中无缝传递。

车规级或高可靠性芯片生产中,单纯依靠电性测试限值不足以拦截所有潜在缺陷。Mapping Over Ink处理通过数据驱动方式,在测试通过的Die中进一步筛除存在隐蔽失效倾向的单元。系统将原始Mapping与测试结果融合,依据AECQ标准构建多维度风险评估模型,不只是关注单颗Die状态,更分析其空间分布与邻近关联性,从而避免系统性隐患流入封装或市场。这种预防性剔除机制明显降低售后失效率、质保成本及品牌声誉风险,同时提升客户对产品质量的信心。上海伟诺信息科技有限公司依托对半导体制造逻辑的深刻理解,将该目标转化为可落地的技术实践。
半导体芯片的良率管控关键,在于对海量测试数据的深度挖掘与高效利用,良率管理系统(YMS)正是实现数据赋能生产的载体。系统可自动对接各类测试设备输出的异构化原始数据,自主完成数据清洗、重复剔除、纠错补全与结构化规整,搭建准确、完整、统一的标准化数据库,为工艺分析提供可靠的数据支撑。通过联动拆解晶圆测试(WAT)、中测(CP)、终测(FT)等全关键工艺节点的参数数据,系统可挖掘潜藏的工艺偏差、设备异常与设计漏洞,为研发优化、制程整改、工艺迭代提供可落地、可执行的优化方案。平台搭载多维度可视化图表,清晰呈现良率波动规律、缺陷分布特征,支持从批次、晶圆、单颗芯片的全层级精细化追溯。分级报表功能可适配基层生产、中层管理、高层决策的差异化数据需求,打通产线现场到企业决策层的信息壁垒。上海伟诺信息科技秉持“以信为本,以质取胜”的理念,持续迭代优化YMS系统功能,助力国产半导体行业完善自主软件生态,推动制造品质升级。Mapping Over Ink处理兼容主流Probe设备数据格式,支持跨平台数据无缝对接。
作为国产半导体软件生态的重要建设者,YMS系统的开发始终围绕真实生产痛点展开。系统兼容主流Tester平台,自动处理stdf、csv、log等十余种数据格式,完成从采集、清洗到整合的全流程自动化,消除信息孤岛。其分析引擎支持多维度交叉比对,例如将晶圆边缘良率偏低现象与刻蚀设备参数日志关联,辅助工程师精确归因。SYL/SBL卡控机制嵌入关键控制点,实现过程质量前置管理。配套的报表工具可按模板一键生成周期报告,大幅提升跨部门协同效率。更重要的是,系统背后有完整的售前咨询、售中方案优化与售后标准化服务体系支撑,确保价值落地。上海伟诺信息科技有限公司依托多年行业积累,使YMS成为兼具技术深度与实施可靠性的国产替代选择。Mapping Over Ink处理提升产品市场竞争力,降低客户投诉率。海南可视化PAT系统
工艺工程师基于GDBC聚类结果优化制程参数,提升制造良率水平。安徽自动化Mapping Inkless服务
以往半导体质量团队每周需耗费大量时间手动汇总Excel数据、调整图表格式、整理周报资料,人工操作不但耗时费力、效率低下,还容易出现统计误差、格式不统一等问题。YMS系统搭载成熟的自动化报表功能,内置日、周、月标准化报表模板,可自动归集SYL/SBL管控状态、晶圆区域缺陷分布、良率时间波动趋势、异常批次统计等关键数据,一键生成完整分析报告,支持PPT、Excel、PDF多格式导出。不同岗位可按需取用对应格式文件:管理层可直接使用PPT版本开展经营复盘与会议汇报,审计环节可提交标准化PDF文档归档存证,工艺工程师可导出Excel原始数据开展深度问题挖掘与工艺研究。全流程自动化统计,实现全厂数据口径统一,杜绝人工汇总带来的数据偏差与信息混乱,将员工从重复性报表工作中解放出来,聚焦工艺优化、品质提升等高价值工作,推动企业数字化、数据化转型。安徽自动化Mapping Inkless服务
上海伟诺信息科技有限公司汇集了大量的优秀人才,集企业奇思,创经济奇迹,一群有梦想有朝气的团队不断在前进的道路上开创新天地,绘画新蓝图,在上海市等地区的数码、电脑中始终保持良好的信誉,信奉着“争取每一个客户不容易,失去每一个用户很简单”的理念,市场是企业的方向,质量是企业的生命,在公司有效方针的领导下,全体上下,团结一致,共同进退,**协力把各方面工作做得更好,努力开创工作的新局面,公司的新高度,未来和您一起奔向更美好的未来,即使现在有一点小小的成绩,也不足以骄傲,过去的种种都已成为昨日我们只有总结经验,才能继续上路,让我们一起点燃新的希望,放飞新的梦想!