近些年半导体测试数据呈指数级暴涨，传统本地机房存储、离线算力架构，逐渐出现算力不足、存储过载、查询卡顿问题。伟诺TMS采用弹性分布式云原生架构，横向拓展算力与存储空间，承载TB级海量测试数据存储、运算...

当测试工程师面对堆积如山的原始数据手动筛选异常、计算良率时，不*效率低下，更可能因疲劳遗漏关键信息。通过与测试设备无缝对接，实时抓取并结构化处理海量数据，确保信息完整且即时可用。内置分析引擎自动执行M...

实现测试全流程可控可管，是交付高可靠芯片产品的前置条件，依托节点化精细化监控，能够破除测试黑箱，实现全流程透明化管控。测试启动阶段，系统自动核验测试脚本、硬件配置、探针工况，拦截人工疏漏引发的参数配置...

当测试工程师面对堆积如山的原始数据手动筛选异常、计算良率时，不*效率低下，更可能因疲劳遗漏关键信息。通过与测试设备无缝对接，实时抓取并结构化处理海量数据，确保信息完整且即时可用。内置分析引擎自动执行M...

测试程序的每一次变更都可能影响成千上万颗芯片的测试结果，因此其管理必须万无一失。通过科学的管理机制，上海伟诺TMS系统确保了测试流程的标准化与可追溯性。所有测试程序在系统中集中存储，任何修改都需经过审...

实现晶圆制造到成品测试端到端质量溯源，突破口是打通产线、测试双向数据链路。搭建统一数据中台，破除产业长期存在的数据孤岛难题，落实全域数据联动。系统增设标准化数据标签，自动绑定每一条测试数据、生产批次、...

量产测试工况中隐匿的系统性数据偏差，极易被从业经验薄弱的工程师判定为随机工况波动，长期放任极易引发大规模芯片失效。异常预警模块的价值，便是捕捉这类极易被忽略的早期隐性风险。区别于行业普遍采用的单一静态...

产线测试数据出现细微、持续性整体偏移时，经验不足的技术人员常会将其判定为偶然随机波动，放任不管之后引发批量产品失效隐患。异常预警功能的作用，就是捕捉这类早期细微风险信号。预警体系不局限于固定数值阈值判...

伴随汽车电子芯片市场需求持续扩张，各类测试管控平台需要原生适配车规行业全套规范标准。平台内置适配车规生产的专属运行逻辑，从测试执行流程到数据结果归档实现全流程适配管控。系统可对车规专属测试项目、参数标...

车规质量审计阶段，一一对应失效点位与测试项目，是行业认证硬性门槛，上海伟诺TMS专属MappingInk模块，针对性解决该项行业痛点。系统抓取晶圆探针测试失效坐标，自动绑定对应电性参数、测试程序版本、...

车规级芯片对缺陷零容忍的要求，使得每一次测试偏差都可能影响功能安全。从原材料到成品的每个环节，任何疏漏都需被提前识别。系统自动采集测试数据并依据预设车规标准进行严格校验，确保关键参数符合行业规范。统一...

产线测试数据出现细微、持续性整体偏移时，经验不足的技术人员常会将其判定为偶然随机波动，放任不管之后引发批量产品失效隐患。异常预警功能的作用，就是捕捉这类早期细微风险信号。预警体系不局限于固定数值阈值判...