探针台基本参数
  • 品牌
  • 波铭科仪
  • 型号
  • BM-
探针台企业商机

H系列探针台是一款配置综合型手动测试探针台,该系列探针台设备配置丰富,基本可以满足一般实验室的全部测试要求。其样品台可以360度快速移动,便于快速定位样品位置,提高测试效率。并且具备三段式针座平台,在不失焦的情况下可以使样品和探针做到快速分离。此设备一般适用于大型实验室或者半导体工厂。产品优势:卡盘可360度快速移动,便于快速定位样品位置,提高测试效率大手柄微分头驱动,省时,省力,省心三段式可升降探针座平台,在不失焦的情况下可以使样品和探针做到快速分离探针台是检测半导体芯片的电参数、光参数的关键设备。探针台规格尺寸

探针台操作步骤:1.将测试产品放入探针台的台盘上;2.打开显微镜光源灯(LED或光源机);3.打开背光面板光源开关;4.调整Zaxis高度对焦,使能清楚看到样品图象为OK;5.调整目镜和Zoom倍率,使影像清晰;二.点针操作步骤:1.通过移动镜头组部分找到Sample要下针的地方;2.调整针座位置,将三轴归零;3.调整针座仰角机构,使针尖位于显微镜射出光斑**上方1-2mm处;4.利用低倍镜头找到针尖,将针尖移至视野**位置并通过调整焦距使针尖达到*清晰;6.切换至高倍镜头,找到针尖;7.利用针座的X-Y-Z轴微调下针;8.量测完毕后,逆时针旋转钮针座的仰角机构的旋钮取出快速将针往上抬起,针尖即可移开针Sample;移动座平台或者显微镜相关移动机构时,请注意小心避免与镜头或被测品碰撞9.移开针座,取出背光面板光源和光源灯等电源.南昌LCR测试探针台探针台广泛应用于科研单位研发测试、院校教学操作、企业实验室芯片失效分析等领域。

高精度探针台例如OTS,QPU和TTG相关技术,这种全新的高精度系统为下一代小型化的设计及多种测试条件提供保证。特性1:OTS对正系统(光学目标对准)OTS通过对照相机相对位置的测量来保证其位置的精度。这是非常引人注目的技术,来源于TSK的度量技术。OTS实现了以自己为参照的光学对准系统。特性2:QPU-高刚性的硅片承载台(四方型系统)为了有效的达到接触位置的精度,硅片承载台各部分的刚性一致是非常重要的,UF3000使用新的4轴机械转换装置(QPU),达到高刚性,高稳定度的接触。特性3:装载部件令客户满意的测试环境,可以提供从前部开始的通常的8",12"及基本检查单元。也为自动物料输送系统应用做好了准备。特性4:TTG(一点即到)更加方便的操作,UF3000采用在显示屏上点一下,相关的屏幕就会切换到新的位置显示。相关的设定十分方便。屏幕的显示模式也可以由客户自行定义。

很多人都不了解探针台,因为很少接触到。但是,它在的作用是非常大的,它的使用步骤我们还是需要了解的。下面,小编就带大家了解一下它的使用步骤。希望能对大家有所帮助。1、将样品载入真空卡盘,开启真空阀门控制开关,使样品平安且牢固地吸附在卡盘上。2、运用卡盘X轴、Y轴控制旋钮挪动卡盘平台,在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。3、显微镜切换为高倍率物镜,在大倍率下找到待测点,再微调显微镜聚焦和样品x-y,将影像调整明晰,带测点在显微镜视场中间。4、待测点地位确认好后,再调整探针座的地位,将探针台探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的地位旁边,再运用探针座X-Y-Z三个微调旋钮,渐渐的将探针移至被测点,此时举措要小心且迟缓,以防举措过大误伤芯片,当探针针尖悬空于被测点上空时,可先用Y轴旋钮将探针行进少许,再运用Z轴旋钮停止下针,刚开始则运用X轴旋钮左右滑动,察看能否有少许划痕,证明能否曾经接触。5、确保针尖和被测点接触良好后,则可以经过衔接的测试设备开端测试。探针台的维护和保养。

可提供单维磁场,多维磁场探针台,磁场强度,精度和间隙均可客制化l高刚性结构,所有零配件均采用无磁化材料可加载高低温,可同时进行DC和RF测试,可配合市场主流扩频模块进行超高频测试;大行程高精度探针座,X-Y-Z-Theta四轴控制l显微镜可以在2英寸*2英寸*2英寸范围内移动,扩大了显微镜视场;兼容直流与高频信号;可以定制,可升级性强l比较大可以测试12英寸样品,探针台chuck具备升降功能,便于样品和探针的快速分离。可配合等离子发生器使用,可以给样品提供超高温和等离子气体。探针台规范操作步骤。IGBT探针台规格尺寸

探针台采用高刚性显微镜龙门设计。探针台规格尺寸

低温探针台中低电流测量的注意事项:低电流测量(低于 1 nA)是评估成熟和新兴半导体器件的设计和制造质量的关键工具。在这种情况下,器件材料、生长参数或器件几何形状的修改会导致器件中出现不希望的和无关的电流路径。这些所谓的漏电流可能是由材料缺陷、栅极氧化物形态、衬底选择和电场分布造成的,并导致器件性能下降——常见的是功耗过大。由于许多这些泄漏路径背后的物理机制具有众所周知的温度依赖性,因此低温探测测量可以成为识别电流泄漏的精确机制的有用评估工具,特别是对于新材料和器件架构。探针台规格尺寸

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