PIV测试探针台

探针台的各种应用，例如器件表征和建模，RF /微波，晶片级可靠性，故障分析，设计验证，和大功率。满足先进半导体测试市场的要求，主要用于解决故障分析，设计验证，IC工程，晶圆级可靠性以及MEMS，高功率，RF和mmW器件测试的特殊要求。系统噪声，非常精确和高度可靠的DC / CV,RF和高功率测量。用于在宽温度范围内实现功率半导体的低接触电阻测量。带互锁功能的安全光幕可通过互锁系统关闭仪器，从而保护用户免受意外高压冲击。该系统具有后门，并由互锁保护，以提供简便的初始测量设置。探针测试台x-y工作台。PIV测试探针台

桌面探针系统

众所周知探针台用于半导体测试，特别是6英寸或者12英寸的晶圆探针台。因为受尺寸限制，导致大尺寸等规格不符的待测物无法进行测试，从而使得众多产品无法得到验证。

对于除了半导体、晶圆、芯片需要测试以外，如同大尺寸电路板、高频高速电路、射频微波器件、高速连接器等所需测试的产品也是需要进行阻抗、S参数的测试。特别是现在高频高速已经进入了56G、112G，单波NRZ通道已经到了56GHz的电信号的时代。所以高频、高速等系列电路板各个通道以及载体都需要进行产品的性能测试。

因此研发推出了桌面探针系统及各规格探针配合67GHz网络分析仪进行高频高速的测试。 上海大功率测试探针台探针台搭配源表或者半导体参数分析仪进行电参数测试。

桌面探针系统之射频探针：把传统探针台的体积大、待测物规格限制等一系列缺点改进。我们把探针台的两个探针臂直接分离出来，使用磁吸开关固定在配重块上，装配我们自行研发GS/SG/GSG/GSSG和差分间距可调射频探针，高频率40GHz和67GHz（质量的阻抗控制50欧±2/100欧±2，探针的pitch可覆盖150um~1250um的范围）放在水平的桌面上进行使用、测试。可在桌面上任意活动，根据具体测试环境调节。各规格探针配合67GHz网络分析仪进行高频高速的测试。

探针台如何工作？探针台可以固定晶圆或芯片，并精确定位待测物。手动探针台的使用者将探针臂和探针安装到操纵器中，并使用显微镜将探针前列放置到待测物上的正确位置。一旦所有探针前列都被设置在正确的位置，就可以对待测物进行测试。对于带有多个芯片的晶圆，使用者可以抬起压盘，压盘将探针头与芯片分开，然后将工作台移到下一个芯片上，使用显微镜找到精确的位置，压板降低后下一个芯片可以进行测试。半自动和全自动探针台系统使用机械化工作台和机器视觉来自动化这个移动过程，提高了探针台生产率。探针台由哪些部分组成？

波铭科仪CH-196高低温真空探针台是我司自主研发的一款在极端环境下给样品加载电学信号的设备。可以实现器件及材料表征的IV/CV特性测试，射频测试，光电测试等。通过液氮或者压缩机制冷，可以在防辐射屏内营造一个稳定的测试环境。在特殊材料，半导体器件等研究方向具有***运用。一般用于相关单位实验室。产品优势：防辐射屏和热沉设计降温速度快，常温降至77k<25mins，提高测试效率液氮自动控制系统，液氮流量模块和温度控制模块一起联动共同控制温度。了解探针台的使用步骤。微波探针台规格尺寸

探针台怎么选合适的配置？PIV测试探针台

    微纳探针台可在纳米尺度上对样品和测试设备进行电学表特征：1、快速、精确、稳定微纳探针台包含4个压电三轴探针臂，每个三轴配备1个可拆卸式电学探针接口，可在毫米级尺度上进行宏观运动并实现纳米尺度上的微观运动。2、使用场景多样化微纳探针台结构紧凑，占用空间小，运动行程大，可匹配各种显微镜样品台，真空室，光学试验台等工作条件。3、完善的技术解决方案微纳探针台与尼康金相显微镜/SR-Scopel集成形成的探针台电学测量系统，为宏观行程上进行的微观尺度电学及表征测量提供了具体的解决方案。4、直观、方便微纳探针台通过手柄控制，具有多级宏观调速，脉冲运动，以及位移微调功能，宏观运动速度跨度在5um/s~2mm/s，单点脉冲步进可达300nm以下，微调运动分辨率小于1nm，在显微镜下操作更直观，方便，精细。5、高度集成微纳探针台电学测量系统，配备完善的光学显微镜模块，配备亮度调节，增益和变焦等功能，与电脑连接后，可实现图像快照，尺寸测量和标注，视频记录等常规功能。 PIV测试探针台

上海波铭科学仪器有限公司是我国拉曼光谱仪，电动位移台，激光器，光电探测器专业化较早的有限责任公司（自然）之一，公司成立于2013-06-03，旗下爱特蒙特，已经具有一定的业内水平。公司承担并建设完成仪器仪表多项重点项目，取得了明显的社会和经济效益。产品已销往多个国家和地区，被国内外众多企业和客户所认可。