定制探针台升级

    RF/mmW超高频测试探针台系统可配合市场主流扩频模块进行超高频测试l大行程高精度探针座，X-Y-Z-Theta四轴控制l显微镜可以在2英寸*2英寸*2英寸范围内移动，扩大了显微镜视场l兼容直流与高频信号l可以定制，可升级性强lFA(失效分析)**激光探针台系统失效分析实验室**（芯片去层/线路或Pad切割与熔接电性能测试验证）l激光镭射波长1064/532/355nm可选择性去除特定材料、而不损伤下层或基底l材料/器件（尤其是射频特征芯片）的IV/PIV/CV电性测试和失效分析。l**小切割线宽：355nm1um;，行程25mm，升降精度1uml卡盘，采用中心吸附孔和多圈吸附环固定样品l可调节显微镜快速倾仰，便于更换物镜，带自动锁定功能。l高功率白色照明光源（亮度可以无级调节）。 芯片的电参数测试用手动探针台。定制探针台升级

探针台可以将电探针、光学探针或射频探针放置在硅晶片上，从而可以与测试仪器/半导体测试系统配合来测试芯片/半导体器件。这些测试可以很简单，例如连续性或隔离检查，也可以很复杂，包括微电路的完整功能测试。可以在将晶圆锯成单个管芯之前或之后进行测试。在晶圆级别的测试允许制造商在生产过程中多次测试芯片器件，这可以提供有关哪些工艺步骤将缺陷引入产品的信息。它还使制造商能够在封装之前测试管芯，这在封装成本相对于器件成本高的应用中很重要。探针台还可以用于研发、产品开发和故障分析应用。定制探针台升级光电流测试探针台系统。

探针台应用手动探针台广泛应用于，科研单位研发测试、院校教学操作、企业实验室芯片失效分析等领域。一般使用于研发测试阶段 ，批量不是很大的情况，大批量的重复测试推荐使用探卡。主要功能：搭配外接测试测半导体参数测试仪、示波器、网分等测试源表，量测半导体器件IV CV脉冲/动态IV等参数。用途：以往如果需要测试电子元器件或系统的基本电性能（如电流、电压、阻抗等）或工作状态，测试人员一般会采用表笔去点测。随着电子技术的不断发展，对于精密微小（纳米级）的微电子器件（如IC、晶圆、芯片、LCD Array、CMOS Camera Module、Pitch微小的Connector），表笔点到被测位置就显得无能为力了。于是一种高精度探针座应运而生,利用高精度微探针将被测原件的内部讯号引导出来，便于其电性测试设备（不属于本机器）对此测试、分析。

    微纳探针台可在纳米尺度上对样品和测试设备进行电学表特征：1、快速、精确、稳定微纳探针台包含4个压电三轴探针臂，每个三轴配备1个可拆卸式电学探针接口，可在毫米级尺度上进行宏观运动并实现纳米尺度上的微观运动。2、使用场景多样化微纳探针台结构紧凑，占用空间小，运动行程大，可匹配各种显微镜样品台，真空室，光学试验台等工作条件。3、完善的技术解决方案微纳探针台与尼康金相显微镜/SR-Scopel集成形成的探针台电学测量系统，为宏观行程上进行的微观尺度电学及表征测量提供了具体的解决方案。4、直观、方便微纳探针台通过手柄控制，具有多级宏观调速，脉冲运动，以及位移微调功能，宏观运动速度跨度在5um/s~2mm/s，单点脉冲步进可达300nm以下，微调运动分辨率小于1nm，在显微镜下操作更直观，方便，精细。5、高度集成微纳探针台电学测量系统，配备完善的光学显微镜模块，配备亮度调节，增益和变焦等功能，与电脑连接后，可实现图像快照，尺寸测量和标注，视频记录等常规功能。 探针台是半导体(包含集成电路、分立器材、光电器材、传感器)行业的检测标配。

H系列探针台是一款配置综合型手动测试探针台,该系列探针台设备配置丰富，基本可以满足一般实验室的全部测试要求。其样品台可以360度快速移动，便于快速定位样品位置，提高测试效率。并且具备三段式针座平台，在不失焦的情况下可以使样品和探针做到快速分离。此设备一般适用于大型实验室或者半导体工厂。产品优势：卡盘可360度快速移动，便于快速定位样品位置，提高测试效率大手柄微分头驱动，省时，省力，省心三段式可升降探针座平台，在不失焦的情况下可以使样品和探针做到快速分离探针台搭配网络分析仪进行测试。CV测试探针台加装

探针台的探针的清洗。定制探针台升级

探针台主要被应用在半导体、集成电路以及封装的测试，主要是保证产品的质量，且缩短制造成本。按照不同功能，探针台可被分为多种类型，如LCD探针台、高/低温探针台、RF探针台。受益于半导体产业的发展，探针台应用需求持续攀升，行业发展前景较好。半导体检测是半导体生产中关键一环，在半导体检测设备市场结构中，探针台占比约为16%。在全球中，受益于智能手机、人工智能等产业的快速发展，半导体需求攀升，半导体测试设备市场规模也随之增长，在2021年达到76亿美元。探针台作为重要设备，受益于半导体产业发展，市场需求持续攀升，市场规模持续增长。定制探针台升级

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