超高真空外延系统靶材

在不同的应用场景中，材料选择遵循着特定的原则。对于半导体材料生长，III/V族元素如砷化镓（GaAs），因其具有高电子迁移率和良好的光电性能，常用于制作高速电子器件和光电器件；磷化铟（InP）则在光通信领域表现出色，常用于制造激光器和探测器。II/VI族元素中，碲镉汞（HgCdTe）是重要的红外探测材料，其禁带宽度可通过调整镉（Cd）的含量进行调节，以适应不同波长的红外探测需求。在氧化物薄膜制备方面，高温超导材料钇钡铜氧（YBCO），其独特的超导特性使其在超导电子器件和电力传输领域具有重要应用；铁电材料锆钛酸铅（PZT），由于其优异的铁电性能，常用于压电传感器和存储器基板加热过程中，需监控温度，避免超出设定范围影响实验。超高真空外延系统靶材

与传统 MBE 技术对比，传统 MBE 技术在半导体材料、氧化物薄膜等材料生长领域应用已久，有着成熟的技术体系。然而，公司产品与之相比，在多个方面展现出独特优势。生长速率是一个重要对比点，传统 MBE 生长速率相对较慢，这在一定程度上限制了实验效率和生产效率。本产品通过优化分子束流量控制和激光能量调节，可在保证薄膜质量的前提下，适当提高生长速率，例如在生长 III/V 族半导体薄膜时，生长速率可比传统 MBE 提高 20% - 30% ，较大缩短了实验周期和生产时间，提高了科研和生产效率。超高真空外延系统靶材多腔室分子束外延系统搭配 PLD 功能，可拓展实验研究范围。

薄膜生长监控系统中的扫描型差分反射高能电子衍射（RHEED）是进行原子级外延生长的“眼睛”。它通过一束高能电子以掠射角轰击基板表面，通过观察衍射图案的变化，可以实时、原位地监测薄膜表面的晶体结构、平整度以及生长模式。RHEED强度的振荡直接对应着原子层的逐层生长，研究人员可以通过观察振荡周期来精确控制薄膜的厚度，实现单原子层的精度控制。扫描型设计进一步提升了该技术的空间分辨率，使其能够监测更大面积范围内的薄膜均匀性，是MBE和PLD-MBE技术中不可或缺的原位分析手段。

在宽禁带半导体材料研究领域，我们的PLD与MBE系统发挥着举足轻重的作用。以氧化锌（ZnO）为例，它是一种具有优异压电、光电特性的III-VI族半导体。利用PLD技术，通过精确控制激光能量、沉积气压（尤其是氧气分压）和基板温度，可以在蓝宝石、硅等多种衬底上外延生长出高质量的c轴择优取向的ZnO薄膜。这种薄膜是制造紫外光电探测器、透明电极、压电传感器和声表面波器件的理想材料。系统的RHEED监控能力可以实时优化生长条件，确保获得表面光滑、晶体质量高的外延层。监控软件可同步设定基板温度与靶旋转参数，操作便捷。

设备的自动化控制功能为科研工作带来了极大的便利和高效性。以自动生长程序编写为例，科研人员可通过PLC单元和软件，根据实验需求精确设定各项参数，如分子束的流量、基板的加热温度、沉积时间等，将这些参数按照特定的顺序和逻辑编写成自动生长程序。在运行程序时，设备能严格按照预设步骤自动执行，无需人工实时干预，较大节省了人力和时间成本。

石英晶体微天平（QCM）也是重要的原位监测工具，它基于石英晶体的压电效应，通过测量晶体振荡频率的变化来实时监测薄膜的沉积速率和厚度。在薄膜沉积过程中，随着薄膜厚度的增加，石英晶体的振荡频率会发生相应变化，通过预先建立的频率与厚度的关系模型，就可以精确地监测薄膜的生长情况。 PLC与相应软件实现沉积工艺全流程自动化控制。超高真空外延系统靶材

负载锁定室与线性传输系统实现样品进出。超高真空外延系统靶材

公司设备在氧化物薄膜制备方面表现优异，在功能材料研究中应用较广。对于高温超导材料，如钇钡铜氧（YBCO）薄膜的制备，设备能精确控制各元素的比例和沉积速率，在高真空环境下，避免杂质干扰，生长出高质量的超导薄膜。这种高质量的超导薄膜在超导电子器件、超导电缆等方面有着重要应用，可大幅降低电能传输损耗，提高电力系统的效率。在铁电材料研究中，如制备锆钛酸铅（PZT）薄膜，设备可精确控制薄膜的结晶取向和微观结构，使其具有优异的铁电性能。PZT薄膜在压电传感器、随机存取存储器等领域应用得心应手，其优异的铁电性能可提高传感器的灵敏度和存储器的存储密度。设备在氧化物薄膜制备方面的出色表现，为功能材料研究提供了有力支持，推动了相关领域的技术进步。超高真空外延系统靶材

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