半导体制造过程中，良率数据的时效性与准确性直接决定工艺优化的效率。YMS系统通过自动采集ASL1000、SineTest、MS7000等测试平台生成的多源数据，完成端到端的数据治理，消除因格式混乱或信...

在推进数字化转型过程中，制造企业常面临测试数据孤岛、分析滞后等挑战。YMS打通从数据采集、清洗、整合到可视化分析的全链路：自动接入ASL1000、TR6850、MS7000等设备输出的异构数据，建立结...

当前国产半导体软件生态仍处于建设初期，亟需可落地、可扩展的本土解决方案。YMS兼容主流国产与国际Tester设备，支持stdf、xls、spd、zip、txt等多样格式的自动解析，并通过标准化数据库实...

随着客户对产品可追溯性要求的不断提升，传统纸质或半手工记录已难以满足严格的审计需求。MES系统在投料、测试、封装、包装各环节自动生成带时间戳的操作日志与单独标识，确保从成品反向追溯至原始物料批次、设备...

Mapping Over Ink是一套在晶圆测试（CP）后，对电性测试图谱进行智能分析、处理，并直接驱动探针台对特定芯片进行喷墨打点的自动化系统。它将各种分析算法（如ZPAT, GDBN）得出的“...

晶圆制造环节的良率波动直接影响整体产出效率，YMS系统通过全流程数据治理提供有力支撑。系统自动采集并解析来自主流测试设备的多源异构数据，建立标准化数据库，实现对晶圆批次、区域乃至单点良率的精细化监控。...

分散在不同Excel表格或本地数据库中的测试数据，往往难以跨项目调用和对比。YMS通过构建标准化数据库，将来自ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等设备的异构数据，按产品型号、...

Mapping Over Ink是一套在晶圆测试（CP）后，对电性测试图谱进行智能分析、处理，并直接驱动探针台对特定芯片进行喷墨打点的自动化系统。它将各种分析算法（如ZPAT, GDBN）得出的“...

面对测试过程中出现的异常，反应速度和处理质量决定了对生产的影响程度。上海伟诺TMS系统建立了一套标准化、自动化的处理流程。系统通过实时监控Mean值与Sigma等关键指标，能够在异常发生的瞬间自动检测...

在高度自动化的封测产线上，尽管单台设备已具备较高智能化水平，但若缺乏统一协调，“设备孤岛”现象仍会严重制约整体效能。MES系统通过标准化的设备自动化接口，实现与各类关键设备的深度集成，实时采集运行状态...

当生产线上的测试数据出现微妙的系统性偏移时，经验不足的工程师可能将其视为随机波动而忽略，从而埋下批量性风险的种子。异常预警机制的真正价值，在于能够捕捉这类早期信号。它不仅依赖静态阈值，而是通过实时计算...

芯片制造过程中，良率波动若不能及时识别，可能导致整批产品报废。YMS系统通过自动采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等Tester平台输出的stdf、csv、xls、spd、...