微焦点X射线检测系统 硅晶片结晶缺陷 Void(空隙)检查装置
日本爱比特,i-bit X射线观察装置 硅晶片内部的结晶缺陷Void(空隙)全自动检查装置
型号:X-CAS-2
特征:
本装置使用X射线针对于硅晶片内部的结晶缺陷之空隙进行自动检查
随然用红外线也能够做同样的检查,但是难以做低电阻的硅晶片检查,并且需要完成终制造过程的抛光过的硅晶圆片才能做精度高的检测。用X射线检查不需要这些条件,研磨前的状态(刚切片后)也能够检查并且与硅晶圆片有无电阻值无关都可以进行检查
可检查的硅晶圆片尺寸为12英寸,及8英寸(6英寸为选配功能)
关于安全性:不需要X射线操作人员资格,因为X射线会被完全遮蔽,所以能够安全的使用 i-bit 爱比特 X-ray X射线检测设备实现了对PCB 板的断层扫描,解决了BGA、CSP等元件封装质量控制问题。辽宁Void(汽泡)X射线检测

日本爱比特 i-bit 公司的微焦点X射线检测系统 使用3D-X射线立体方式的自动在线检查来降低成本!
3次元立体有式在线射线检查设备
型号:LX-1100/2000
介绍:
这是一种在线型检查设奇,可自动以在线方式用X光进行安装基板焊锡部位检查,高密度装基板,因为慢锡部位都在部件底部(FACE DOWN),所以外观无法检查,因为适宜QFN/SON等的焊锡部位在零件底部的部件的检查。
关于X射线立体方式:
运用X射线穿透原理时,因为基板背面安装的零件也会被拍到所以表面和背面重叠,而无法进行正确的检查。X射线立体方式是能够将正面,背面分开检查的划时代的检查设备。 辽宁Void(汽泡)X射线检测i-bit爱比特X射线2D穿透图像POP+BGA双面贴装焊锡部位基板检测。

微焦点X射线检测设备针对硅晶圆片上的焊接凸起自动进行X射线检查的检查装置X射线自动硅晶圆片检查装置无尘室对应Six-3000特征D针对硅晶圆片上的凸起进行自动检查,判定的X射线自动检查装置2硅晶圆片内的Void(气泡)经过X射线穿透从穿透图像中求出气泡直径(面积)超过基准值以上的气泡进行良品与否的自动判定检查3射线源使用微调聚焦X射线管,X射线受像部采用***型的X射线数码相机,得到高解像度图像可以做高精度气泡检查。。。。。。。。
微焦点X-rayX射线检测IGBT双层焊锡空洞、POP堆叠封装芯片等
3D自动X射线检测型号:FX-300tRX.ll对应大型基板的3D-X射线观察装置特征:可的覆盖600x600mm尺寸的基板;几何学倍率:达到1,000倍;X射线相机可以任意斜0°~60;用触摸屏和操作杆提高操作;滑动门大型样品也能轻松设置X,Y,Z1(相机),Z2(X射线),Q轴(倾斜)的5轴操作用X射线立体方式可除去背面的安装零件的信息进行观察(可以选择的追加功能)转盘能够对应400x400mm尺寸的基板(可选择的追加功能))。 基板焊锡检查X射线立体方式 3D-X射线观察装置,欢迎咨询上海晶珂。

日本爱比特微焦点X射线检测系统几何学倍率1000倍检测项目锡少、锡多、偏移、短路、空焊、虚焊、不沾锡、空洞……X射线受像部FOS耐用型平板探测器(FPD), 14位灰阶深度 (16384阶调)CCD摄像机部种类彩色CCD摄像机(供工件摄影用)显示屏24英寸LCDX射线泄漏量1µSv/h以下,不需要X射线操作资格电源单相AC200V,1.5KVA设备尺寸1,300(W) x 1,100(D) x 1,450(H)mm,。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。i-bit 日本爱比特 X-ray X射线检测微焦点密闭管(可灵活切换2D检查/3D立体检查, 3D断层检查)。基板X射线检测值得推荐
i-bit 爱比特 X-ray X射线检测BGA、QFN、CSP、倒装芯片等面阵元件焊点检测。辽宁Void(汽泡)X射线检测
检测硅晶片结晶缺陷Void(空隙)全自动检查装置,自动检查机能,VIID(焊锡气泡)检查锡桥检查等。选我司销售的微焦点X射线检测系统,小型密闭管式X射线装置,达成几何学倍率1,000倍!非CT方式,也非X光分层摄影法而是运用第三种检查方式X射线立体方式.能够节省检查成本几何学倍率达到1000倍!搭载芯片计数功能!"X射线立体方式3D-X射线观察装置FX-3o0fRXzwithcT以往运用X射线的检查方式,背面的CHIP(芯片)零件成为杂讯而很难做正确的检查。l-Bit公司所开发的r3D-X射线立体方式能够将背面基板贴装的BGA,LGA,QFN等图像删除。与以往的X射线CT方式不同不需要断层图像所以能够做高速处理特征采用X射线立体方式(爱比特公司的***技术)2几何学倍率:达到1000倍3搭载CHIPCOUNTER(芯片计数)机能4运用光广角照射能够做高倍率倾斜摄影GBGA自动检查机能(选配功能)VCT(垂直CT)PCT(倾斜CT)功能(选配功能)装基板等的焊锡部位的检查用途@LED的FLIPCHIP(倒装芯片)装的焊锡部位检查POWERDEVICE(IGBT)的双层焊锡部的Void(气泡)检查辽宁Void(汽泡)X射线检测
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