在量子材料如拓扑绝缘体Bi₂Te₃研究中，电子束曝光实现原子级准确电极定位。通过双层PMMA/MMA抗蚀剂堆叠工艺，结合电子束诱导沉积（EBID）技术，直接构建<100纳米间距量子点接触电极。关键技术包括采用50kV高电压减少背散射损伤和-30°C低温样品台抑制热漂移。电子束曝光保障了量子点结构的稳定性，为新型电子器件提供精确制造平台。电子束曝光在纳米光子器件（如等离子体谐振腔和光子晶体）中展现优势，实现±3纳米尺寸公差。定制化加工金纳米棒阵列（共振波长控制精度<1.5%）及硅基光子晶体微腔（Q值>10⁶）时，其非平面基底直写能力突出。针对曲面微环谐振器，电子束曝光无缝集成光栅耦合器结构。通过高精度剂量调制和抗蚀剂匹配，确保光学响应误差降低。电子束曝光为超高灵敏磁探测装置制备微纳超导传感器件。重庆光芯片电子束曝光实验室
研究所针对电子束曝光在大面积晶圆上的均匀性问题开展研究。由于电子束在扫描过程中可能出现能量衰减，6 英寸晶圆边缘的图形质量有时会与中心区域存在差异，科研团队通过分区校准曝光剂量的方式，改善了晶圆面内的曝光均匀性。利用原子力显微镜对晶圆不同区域的图形进行表征，结果显示优化后的工艺使边缘与中心的线宽偏差控制在较小范围内。这项研究提升了电子束曝光技术在大面积器件制备中的适用性，为第三代半导体中试生产中的批量一致性提供了保障。福建光波导电子束曝光价格电子束刻合提升微型燃料电池的界面质子传导效率。
围绕电子束曝光在第三代半导体功率器件栅极结构制备中的应用，科研团队开展了专项研究。功率器件的栅极尺寸与形状对其开关性能影响明显，团队通过电子束曝光制备不同线宽的栅极图形，研究尺寸变化对器件阈值电压与导通电阻的影响。利用电学测试平台，对比不同栅极结构的器件性能，优化出适合高压应用的栅极尺寸参数。这些研究成果已应用于省级重点科研项目中，为高性能功率器件的研发提供了关键技术支撑。科研人员研究了电子束曝光过程中的电荷积累效应及其应对措施。绝缘性较强的半导体材料在电子束照射下容易积累电荷，导致图形偏移或畸变，团队通过在曝光区域附近设置导电辅助层与接地结构，加速电荷消散。
研究所将电子束曝光技术应用于 IGZO 薄膜晶体管的沟道图形制备中，探索其在新型显示器件领域的应用潜力。IGZO 材料对曝光过程中的电子束损伤较为敏感，科研团队通过控制曝光剂量与扫描方式，减少电子束与材料的相互作用对薄膜性能的影响。利用器件测试平台，对比不同曝光参数下晶体管的电学性能，发现优化后的曝光工艺能使器件的开关比提升一定幅度，阈值电压稳定性也有所改善。这项应用探索不仅拓展了电子束曝光的技术场景，也为新型显示器件的高精度制备提供了技术支持。该所微纳加工平台的电子束曝光设备可实现亚微米级图形加工。
对于可修复的微小缺陷，通过局部二次曝光的方式进行修正，提高了图形的合格率。在 6 英寸晶圆的中试实验中，这种缺陷修复技术使无效区域的比例降低了一定程度，提升了电子束曝光的材料利用率。研究所将电子束曝光技术与纳米压印模板制备相结合，探索低成本大规模制备微纳结构的途径。纳米压印技术适合批量生产，但模板制备依赖高精度加工手段，团队通过电子束曝光制备高质量的原始模板，再通过电铸工艺复制得到可用于批量压印的工作模板。对比电子束直接曝光与纳米压印的图形质量，发现两者在微米尺度下的精度差异较小，但压印效率更高。这项研究为平衡高精度与高效率的微纳制造需求提供了可行方案，有助于推动第三代半导体器件的产业化进程。电子束曝光支持量子材料的高精度电极制备和原子级结构控制。佛山图形化电子束曝光加工厂
电子束曝光的成功实践离不开基底处理、热管理和曝光策略的系统优化。重庆光芯片电子束曝光实验室
第三代太阳能电池中，电子束曝光制备钙钛矿材料的纳米光陷阱结构。在ITO/玻璃基底设计六方密排纳米锥阵列（高度200nm，锥角60°），通过二区剂量调制优化显影剖面。该结构将光程长度提升3倍，使钙钛矿电池转化效率达29.7%，减少贵金属用量50%以上。电子束曝光在X射线光栅制作中克服高深宽比挑战。通过50μm厚SU-8胶体的分级曝光策略（底剂量100μC/cm²，顶剂量500μC/cm²），实现深宽比>40的纳米柱阵列（周期300nm）。结合LIGA工艺制成的铱涂层光栅，使同步辐射成像分辨率达10nm，应用于生物细胞器三维重构。重庆光芯片电子束曝光实验室
