电子束蒸发：将蒸发材料置于水冷坩埚中，利用电子束直接加热使蒸发材料汽化并在衬底上凝结形成薄膜，是蒸度高熔点薄膜和高纯薄膜的一种主要加热方法。为了获得性能良好的半导体电极Al膜，我们通过优化工艺参数，制备了一系列性能优越的Al薄膜。通过理论计算和性能测试，分析比较了电子束蒸发与磁控溅射两种方法制备Al膜的特点。考虑Al膜的致密性就相当于考虑Al膜的晶粒的大小，密度以及能达到均匀化的程度，因为它也直接影响Al膜的其它性能，进而影响半导体哗啦的性能。气相沉积的多晶Al膜的晶粒尺寸随着沉积过程中吸附原子或原子团在基片表面迁移率的增加而增加。由此可以看出Al膜的晶粒尺寸的大小将取决环于基片温度、沉积速度、气相原子在平行基片方面的速度分量、基片表面光洁度和化学活性等因素。影响PECVD成膜质量的主要有：1.样片表面清洁度差；2.工艺腔体清洁度差；3.样品温度异常；惠州光学真空镀膜
LPCVD设备可以沉积多种类型的薄膜材料，如多晶硅、氮化硅、氧化硅、碳化硅等。设备通常由以下几个部分组成：真空系统、气体输送系统、反应室、加热系统、温度控制系统、压力控制系统、流量控制系统等。LPCVD设备的缺点主要有以下几点：（1）由于高温条件下衬底材料会发生热膨胀和热应力，使得衬底材料可能出现变形、开裂、弯曲等问题；（2）由于高温条件下衬底材料会发生热扩散和热反应，使得衬底材料可能出现杂质掺杂、界面反应、相变等问题；（3）由于高温条件下气体前驱体会发生热分解和热聚合，使得气体前驱体可能出现不稳定性、副反应、沉积速率降低等问题；（4）LPCVD设备需要较大的真空泵和加热功率，使得设备成本和运行成本较高河源来料真空镀膜真空镀膜过程需严格监控镀膜速度。
蒸发物质的分子被电子撞击后沉积在固体表面称为离子镀。蒸发源接阳极，工件接阴极，当通以三至五千伏高压直流电以后，蒸发源与工件之间产生辉光放电。由于真空罩内充有惰性氩气，在放电电场作用下部分氩气被电离，从而在阴极工件周围形成一等离子暗区。带正电荷的氩离子受阴极负高压的吸引，猛烈地轰击工件表面，致使工件表层粒子和脏物被轰溅抛出，从而使工件待镀表面得到了充分的离子轰击清洗。随后，接通蒸发源交流电源，蒸发料粒子熔化蒸发，进入辉光放电区并被电离。带正电荷的蒸发料离子，在阴极吸引下，随同氩离子一同冲向工件，当抛镀于工件表面上的蒸发料离子超过溅失离子的数量时，则逐渐堆积形成一层牢固粘附于工件表面的镀层。
LPCVD加热系统是用于提供反应所需的高温的部分，通常由电阻丝或卤素灯组成。温度控制系统是用于监测和调节反应室内温度的部分，通常由温度传感器和控制器组成。压力控制系统是用于监测和调节反应室内压力的部分，通常由压力传感器和控制器组成。流量控制系统是用于监测和调节气体前驱体的流量的部分，通常由流量计和控制器组成。LPCVD设备的设备构造还需要考虑以下几个方面的因素：（1）反应室的形状和尺寸，影响了气体在反应室内的流动和分布，从而影响了薄膜的均匀性和质量；（2）反应室的材料和表面处理，影响了反应室壁面上沉积的材料和颗粒污染，从而影响了薄膜的纯度和清洗频率；（3）衬底的放置方式和数量，影响了衬底之间的间距和方向，从而影响了薄膜的厚度和均匀性；（4）加热方式和温度分布，影响了衬底材料的热损伤和热预算，从而影响了薄膜的结构和性能。真空镀膜能有效提升表面硬度。
影响靶中毒的因素主要是反应气体和溅射气体的比例，反应气体过量就会导致靶中毒。反应溅射工艺进行过程中靶表面溅射沟道区域内出现被反应生成物覆盖或反应生成物被剥离而重新暴露金属表面此消彼长的过程。如果化合物的生成速率大于化合物被剥离的速率，化合物覆盖面积增加。在一定功率的情况下，参与化合物生成的反应气体量增加，化合物生成率增加。如果反应气体量增加过度，化合物覆盖面积增加，如果不能及时调整反应气体流量，化合物覆盖面积增加的速率得不到抑制，溅射沟道将进一步被化合物覆盖，当溅射靶被化合物全部覆盖的时候，靶完全中毒。镀膜层厚度可通过调整参数精确控制。南通真空镀膜加工
薄膜应力的起源是薄膜生长过程中的某种结构不完整性(杂质、空位、晶粒边界、错位等)、表面能态的存在等。惠州光学真空镀膜
磁控溅射方向性要优于电子束蒸发，但薄膜质量，表面粗糙度等方面不如电子束蒸发。但磁控溅射可用于多种材料，适用性广，电子束蒸发则只能用于金属材料蒸镀，且高熔点金属，如W，Mo等的蒸镀较为困难。所以磁控溅射常用于新型氧化物，陶瓷材料的镀膜，电子束则用于对薄膜质量较高的金属材料沉积源是真空镀膜技术中另一个必不可少的设备。衬底支架是用于在沉积过程中将衬底固定到位的装置。基板支架可以有不同的配置，例如行星式、旋转式或线性平移，具体取决于应用要求。沉积源的选择取决于涂层应用的具体要求，例如涂层材料、沉积速率和涂层质量。惠州光学真空镀膜
