高频淀积的薄膜，其均匀性明显好于低频，这时因为当射频电源频率较低时，靠近极板边缘的电场较弱，其淀积速度会低于极板中心区域，而频率高时则边缘和中心区域的差别会变小。4.射频功率，射频的功率越大离子的轰击能量就越大，有利于淀积膜质量的改善。因为功率的增加会增强气体中自由基的浓度，使淀积速率随功率直线上升，当功率增加到一定程度，反应气体完全电离，自由基达到饱和，淀积速率则趋于稳定。5.气压，形成等离子体时，气体压力过大，单位内的反应气体增加，因此速率增大，但同时气压过高，平均自由程减少，不利于淀积膜对台阶的覆盖。气压太低会影响薄膜的淀积机理，导致薄膜的致密度下降，容易形成针状态缺陷；气压过高时，等离子体的聚合反应明显增强，导致生长网络规则度下降，缺陷也会增加；6.衬底温度，衬底温度对薄膜质量的影响主要在于局域态密度、电子迁移率以及膜的光学性能，衬底温度的提高有利于薄膜表面悬挂键的补偿，使薄膜的缺陷密度下降。衬底温度对淀积速率的影响小，但对薄膜的质量影响很大。温度越高，淀积膜的致密性越大，高温增强了表面反应，改善了膜的成分影响PECVD工艺质量的因素主要有以下几个方面：1.起辉电压；2.极板间距和腔体气压；3.射频电源的工作频率；UV光固化真空镀膜仪
在真空中把金属、合金或化合物进行蒸发(或溅射)，使其沉积在被涂覆的物体(称基片、基板或基体)上的方法称为真空镀膜法。真空蒸镀简称蒸镀，是在真空条件下，用一定的方法加热锻膜材料(简称膜料)使之气化，并沉积在工件表面形成固态薄膜。以动量传递的方法，用荷能粒子轰击材料表面，使其表面原子获得足够的能量而飞逸出来的过程称为溅射。离子镀膜技术简称离子镀，离子镀是在真空条件下，利用气体放电使气体或被蒸发物质部分电离，在气体离子或被蒸发物质离子轰击作用的同时把蒸发物质或其反应产物沉积在基片上。电阻加热蒸镀是用丝状或片状的钨、钼、钽高熔点金属做成适当形状的蒸发源，将膜料放在其中，接通电源，电阻直接加热膜料而使其蒸发。蚌埠真空镀膜工艺镀膜技术为产品增添独特的美学效果。
器件尺寸按摩尔定律的要求不断缩小，栅极介质的厚度不断减薄，但栅极的漏电流也随之增大。在5.0nm以下，SiO2作为栅极介质所产生的漏电流已无法接受，这是由电子的直接隧穿效应造成的。HfO2族的高k介质是目前比较好的替代SiO2/SiON的选择。HfO2族的高k介质主要通过原子层沉积（ALD）或金属有机物化学气相沉积（MOCVD）等方法沉积。介质膜的主要作用有：1.改善半导体器件和集成电路参数；2.增强器件的稳定性和可靠性，二次钝化可强化器件的密封性，屏蔽外界杂质、离子电荷、水汽等对器件的有害影响；3.提高器件的封装成品率，钝化层为划片、装架、键合等后道工艺处理提供表面的机械保护；4.其它作用，钝化膜及介质膜还可兼作表面及多层布线的绝缘层；
LPCVD设备的工艺参数还需要考虑以下几个方面的因素：（1）气体前驱体的纯度和稳定性，影响了薄膜的杂质含量和沉积速率；（2）气体前驱体的分解和聚合特性，影响了薄膜的化学成分和结构形貌；（3）反应了室内的气体流动和分布特性，影响了薄膜的厚度均匀性和颗粒污染；（4）衬底材料的热膨胀和热应力特性，影响了衬底材料的形变和开裂；（5）衬底材料和气体前驱体之间的相容性和反应性，影响了衬底材料和薄膜之间的界面反应和相变。镀膜层能有效提升产品的化学稳定性。
LPCVD设备中较少用的是旋转式LPCVD设备和行星式LPCVD设备，因为其具有结构复杂、操作困难、沉积速率低、产能小等缺点。旋转式LPCVD设备和行星式LPCVD设备的主要优点是可以通过旋转衬底来改善薄膜的均匀性和厚度分布。旋转式LPCVD设备和行星式LPCVD设备可以根据不同的旋转方式进行分类。常见的分类有以下几种：（1）单轴旋转式LPCVD设备，是指衬底只围绕一个轴旋转；（2）双轴旋转式LPCVD设备，是指衬底围绕两个轴旋转；（3）多轴旋转式LPCVD设备，是指衬底围绕多个轴旋转。镀膜层能有效提升产品的抗划痕能力。开封真空镀膜仪
真空镀膜技术普遍应用于工业制造。UV光固化真空镀膜仪
栅极氧化介电层除了纯二氧化硅薄膜，也会用到氮氧化硅作为介质层，之所以用氮氧化硅来作为栅极氧化介电层，一方面是因为跟二氧化硅比，氮氧化硅具有较高的介电常数，在相同的等效二氧化硅厚度下，其栅极漏电流会降低；另一方面，氮氧化硅中的氮对PMOS多晶硅中硼元素有较好的阻挡作用，它可以防止离子注入和随后的热处理过程中，硼元素穿过栅极氧化层到沟道，引起沟道掺杂浓度的变化，从而影响阈值电压的控制。作为栅极氧化介电层的氮氧化硅必须要有比较好的薄膜特性及工艺可控性，所以一般的工艺是先形成一层致密的、很薄的、高质量的二氧化硅层，然后通过对二氧化硅的氮化来实现的。UV光固化真空镀膜仪
