MEMS射频开关与滤波器(RFMEMS)用于5G通信前端模块,具有低插损、高隔离度优势。虽MEMS本体为无源器件,但常集成驱动/控制CMOS电路。杭州国磊(Guolei)支持点:测试驱动IC的开关时序(TMU精度达10ps);验证控制逻辑与使能信号的数字功能;测量驱动电压(可达7V)与静态/动态功耗;虽不直接测S参数,但可确保控制电路可靠性,间接保障RF性能。光学MEMS(如微镜、光开关)应用于激光雷达(LiDAR)、投影显示(DLP替代)、光通信。其驱动ASIC需提供高精度PWM或模拟电压控制微镜偏转角度。杭州国磊(Guolei)支持点:AWG输出多通道模拟控制波形,验证微镜响应一致性;TMU测量开关建立时间与稳定时间;数字通道验证SPI配置寄存器功能;支持多通道同步测试,适配阵列式MEMS微镜模组。 国磊GT600SoC测试机可以进行睡眠-唤醒循环测试即脚本化执行多次低功耗状态切换,监测功耗一致性。SIR测试系统市价

杭州国磊GT600 SoC测试机凭借其面向AI芯片特性的高性能参数和灵活架构,精细契合当前人工智能产业爆发式发展的**需求。高测试速率(100/400 MHz)——支撑AI芯片高速接口验证,AI芯片(如GPU、NPU、AI加速器)普遍集成HBM3/HBM3E、PCIe Gen5、SerDes等高速接口,数据传输速率高达数Gbps。400 MHz测试速率可完整覆盖AI SoC中高速I/O的功能与时序验证,确保在真实工作频率下稳定运行。随着大模型训练对带宽需求激增,国产AI芯片亟需高效验证平台,GT600成为打通“设计—验证—量产”闭环的关键工具。广东CAF测试系统制作国磊GT600SoC测试机支持高达2048个数字通道,满足HBM接口千级I/O引脚的并行测试需求。

杭州国磊SOC测试机:开启全场景智能测试新纪元在半导体测试领域,杭州国磊SOC测试机凭借***性能与创新技术脱颖而出,成为行业焦点。作为杭州国磊半导体设备有限公司的**产品,它专为系统级芯片(SoC)测试量身打造,以“弹性扩展+国产自研+全栈覆盖”三大**优势,为芯片测试提供一站式解决方案。 杭州国磊SOC测试机采用模块化弹性架构,拥有GC-36旗舰型、GC-18性能型、GC-8经济型三阶主机箱,灵活适配不同规模产线与实验室验证需求。其***“硬对接+线缆双模式”,支持机柜、桌面、机端部署,极大提升了设备部署的便捷性与灵活性。 在性能方面,杭州国磊SOC测试机实现多项突破。数字信号速率高达800Mbps,向量存储深度达128M,支持多站点并行测试,单机可同步运行32个测试单元,测试吞吐量提升300%,***缩短测试周期。同时,其高压测试范围覆盖-10V至+1000V,时间测量精度达1ps分辨率,满足**AD/DA芯片、MCU微控制单元等复杂芯片的严苛测试需求。 作为国产自研的典范,更在服务响应速度与定制化能力上**一步。其全流程测试覆盖能力,涵盖数字、电源、高压、大功率、射频分析等六大核心板卡矩阵,为芯片从研发到量产的全生命周期提供坚实保障。
杭州国磊(Guolei)SoC测试系统(以GT600为**)虽主要面向高性能系统级芯片(SoC)的数字与混合信号测试,但凭借其高精度模拟测量、灵活电源管理、高速数字接口验证及并行测试能力,能够有效支持多种MEMS(微机电系统)。以下是其具体支持的典型MEMS应用场景:1.惯性测量单元(IMU)IMU广泛应用于智能手机、无人机、AR/VR设备及智能驾驶系统,通常集成3轴加速度计+3轴陀螺仪(6DoF)甚至磁力计(9DoF)。其配套ASIC需完成微弱电容信号调理、Σ-ΔADC转换、温度补偿和SPI/I²C通信。杭州国磊(Guolei)支持点:利用24位高精度Digitizer板卡捕获nV~μV级模拟输出;通过TMU(时间测量单元)验证陀螺仪响应延迟与带宽;使用400MHz数字通道测试高速SPI接口时序(眼图、抖动);PPMU每引脚**供电,精确测量各工作模式功耗。 电压设置灵活,测试电压1–3000V可调,适应多种实验条件。

MEMS麦克风消费电子中***采用的数字/模拟MEMS麦克风,内部包含声学传感MEMS结构与低噪声前置放大器ASIC。关键指标包括灵敏度、信噪比(SNR)、总谐波失真(THD)和AOP(声学过载点)。杭州国磊(Guolei)支持点:GT-AWGLP02AWG板卡生成纯净1kHz正弦激励(THD<-122dB);高分辨率Digitizer采集输出信号,计算SNR与THD;支持I²S/PDM等数字音频接口协议测试;可进行多颗麦克风并行测试(512Sites),满足手机厂商大批量需求。压力传感器(气压/差压/***压力)用于可穿戴健康监测(如血氧估算)、汽车胎压监测(TPMS)、工业过程控制等。其ASIC需处理pF级电容变化,并具备温度补偿与校准功能。杭州国磊(Guolei)支持点:PPMU施加精确偏置电压并测量微安级工作电流;AWG模拟不同压力对应的电容激励信号;Digitizer采集校准后数字输出(如I²C读数),验证线性度与零点漂移;支持高低温环境下的参数漂移测试(配合温控分选机)。 您正在为寻找可靠的高阻测试方案而烦恼吗?看这里就购了。杭州高阻测试系统精选厂家
电阻测量范围10⁶–10¹⁴Ω,满足高阻值测试需求,数据准确可靠。SIR测试系统市价
AI大模型芯片的“算力守门人” 在AI大模型驱动算力**的***,国产AI芯片(如寒武纪、壁仞)正加速替代英伟达GPU。然而,这些芯片内部集成了数千个AI**与高速互联总线,其功能复杂度与功耗控制要求极高。杭州国磊GT600 SoC测试机凭借400MHz测试速率与128M向量深度,可完整运行复杂的AI推理算法测试向量,验证NPU在真实负载下的计算精度与吞吐能力。其高精度PPMU能精确测量芯片在待机、轻载、满载等多场景下的动态电流,确保“每瓦特算力”达标。同时,杭州国磊GT600支持512站点并行测试,大幅提升量产效率,降低单颗芯片测试成本,为AI芯片大规模部署数据中心提供坚实支撑。可以说,杭州国磊GT600不仅是AI芯片的“质检员”,更是其从实验室走向万卡集群的“量产加速器”。SIR测试系统市价
灵活的板卡配置适配多样化智能驾驶芯片架构 当前智能驾驶SoC厂商采用异构计算架构,不同厂商在I/O电压、功耗、接口协议等方面存在***差异。杭州国磊GT600提供16个通用插槽,支持数字、模拟及混合信号板卡任意组合,并兼容多种VI浮动电源板卡(如GT-DPSMV08支持-2.5V~7V、1A输出)。这种高度模块化的设计使测试平台能快速适配英伟达Orin、地平线征程、黑芝麻华山等不同架构芯片的测试需求,无需为每款芯片重新开发整套测试硬件,***提升测试系统的复用率与投资回报率。国磊GT600SoC测试机高密度集成设计降低系统体积与功耗,适配高通道数HBM测试的紧凑型测试台架部署。国产替代CAF测...