HBM的集成不****是带宽提升,更带来了复杂的混合信号测试挑战。SoC与HBM之间的信号完整性、电源噪声、时序对齐(Skew)等问题,直接影响芯片性能与稳定性。国磊GT600测试机凭借其模块化设计,支持AWG、TMU、SMU、Digitizer等高精度模拟板卡,实现“数字+模拟”一体化测试。例如,通过GT-TMUHA04(10ps分辨率)精确测量HBM接口时序偏差,利用GT-AWGLP02(-122dBTHD)生成纯净激励信号,**验证高速SerDes性能。GT600将复杂问题系统化解决,为HBM集成芯片提供从DC参数到高频信号的**测试保障,确保每一颗芯片都经得起AI时代的严苛考验。国磊GT600每通道集成PPMU,支持HBM相关I/O引脚的漏电流(Leakage)、VIH/VIL、VOH/VOL等DC参数测量。广东CAF测试系统制作

国产手机自研芯片体系——包括手机SoC(如麒麟系列)、服务器芯片(如鲲鹏)、AI加速芯片(如昇腾Ascend)——不仅是产品竞争力的**,更是中国半导体自主可控的战略支点。这些芯片高度集成、性能***、功耗敏感,对测试设备的全面性、精度、效率和灵活性提出前所未有的挑战。国磊GT600SoC测试机,正是为这类**国产芯片量身打造的“全能考官”。国磊GT600不仅能验证手机SoC的CPU/GPU的基础逻辑功能,更能通过可选配的AWG(任意波形发生器),模拟真实世界的模拟信号,精细测试ISP图像处理单元对摄像头输入信号的响应质量,确保拍照清晰、色彩准确;通过高精度TMU(时间测量单元,精度达10ps),验证5G基带芯片的信号时序与抖动,保障通信稳定低延迟;通过每通道PPMU,检测NPU在待机与高负载下的微小漏电流,确保AI算力强劲的同时功耗可控。 广东CAF测试系统制作国磊GT600支持可配高精度浮动SMU板卡,可在-2.5V至7V范围内施加电压,并监测各电源域的动态与静态电流。

国磊半导体推出的GM8800导电阳极丝(CAF)测试系统,是一款集高性能、高可靠性、高灵活性于一体的国产**测试装备。该系统最大支持256通道分组**测试,电阻测量范围宽至10^4~10^14Ω,测量精度高,能够灵敏、准确地捕捉绝缘材料在直流高压和湿热环境下的电阻退化现象,为评估其耐CAF性能提供定量依据。GM8800提供精确可调的电压应力,内置0V~±100V精密电源,外接偏置电压比较高达3000V,电压输出稳定且精度高,步进调节精细,并具备快速的电压建立能力。系统测试参数设置灵活,间隔时间、稳定时间、总时长均可按需配置,并集成实时温湿度监控与多重安全报警功能(如低阻、电压异常、停机、断电、软件故障),确保长期测试的安全与连续。配套软件提供全自动测试控制、数据采集、图形化分析、报告导出及远程监控功能,操作简便。与进口品牌如英国GEN3相比,GM8800在**测试能力上毫不逊色,而在通道数量、购置成本、使用灵活性以及本土技术服务响应方面具有明显优势,非常适合国内PCB行业、汽车电子制造商、学术研究机构及第三方实验室用于材料鉴定、工艺优化和质量可靠性验证,是实现关键测试设备国产化替代的理想选择。
国磊GM8800导电阳极丝(CAF)测试系统是一款性能***、功能***的国产**绝缘可靠性测试平台。该系统最大支持256个测试通道,可同时对大量样品或测试点进行长期加电监测,电阻测量范围宽广(10^4~10^14Ω),精度可靠,能够有效评估在高温高湿环境下电场作用下绝缘材料的离子迁移(CAF)倾向及其绝缘电阻的退化过程。GM8800提供精确可编程的电压激励,内置电源范围0V~±100V,外接偏置电压高达3000V,步进调节精细,电压输出稳定且精度高,并具备快速的电压切换和建立能力。系统测试间隔(1~600分钟)、测试持续时间(1~9999小时)均可自由设定,并配备多重安全报警(如低阻、温湿度超标、电压异常、断电、软件故障)和UPS断电保护功能,确保无人值守长周期测试的万无一失。其软件系统集数据采集、实时显示、历史分析、远程控制于一体,操作便捷,洞察深入。与进口设备如英国GEN3相比,GM8800在关键性能参数上达到同等水平,同时拥有更优的通道性价比、更低的维护成本和更及时的本土化技术支持,非常适用于新能源汽车电子、航空航天电子、**消费电子、半导体封装等领域对绝缘材料及工艺进行苛刻的可靠性验证与筛选,是实现关键测试设备国产化替代的战略性产品。GT600支持采用开源CPU核与自研NPU的异构SoC数字逻辑、模拟模块与低功耗策略的综合验证。

杭州国磊半导体设备有限公司GM8800导电阳极丝(CAF)测试系统是国产**半导体测试装备的重大成就,其性能指标直接对标国际**水平。该系统支持高达256个**通道的同步测试,电阻测量范围横跨10^4~10^14Ω,精度控制在±3%~±10%之间,能够满足**苛刻的绝缘材料与PCB板的CAF效应评估需求。GM8800提供极其灵活和精确的电压施加能力,内置0V~±100V精密源,外接偏置电压可达3000V,电压控制精度***,步进调节细腻,电压建立速度快,并允许用户设置1~600秒的稳定时间以确保测试条件的一致性。系统集成数据采集功能,同步监测记录所有相关参数(时间、电阻、电流、电压、温湿度),并通过专业软件进行自动化处理、分析和存储,支持远程访问与控制。其设计高度重视安全性与可靠性,内置低阻、过压、温湿度越限、AC断电、系统死机等多重报警机制,并可连接UPS提供长达120分钟的断电保护。与价格昂贵的英国GEN3系统相比,GM8800在**功能与性能上实现***超越对标,更在系统总拥有成本、通道扩展性、定制化能力以及本土技术服务响应效率上具备压倒性优势,已成为国内众多**制造企业与研究机构替代进口、实现供应链自主的优先方案。国磊GT600GT-TMUHA04时间测量单元支持0.1%读数精度±10ps,可用于传感器接口芯片的时序响应与延迟测量。GEN测试系统厂家供应
GM8800具备强大的断电保护功能,确保数据不丢失。广东CAF测试系统制作
HBM接口动辄上千个高速信号引脚,数据速率高达Gbps级别,对测试设备的通道密度、测试速率与时序精度提出极限挑战。国磊GT600测试机以400MHz测试速率和**2048个数字通道的强大配置,从容应对HBM接口的高并发、高速逻辑测试需求。其128M向量存储深度可完整运行复杂协议测试Pattern,确保功能覆盖无遗漏。更关键的是,GT600支持512Sites高并行测试,大幅提升测试吞吐量,**降低AI芯片的单颗测试成本。在HBM驱动的算力**中,GT600不**是测试工具,更是提升国产AI芯片量产效率与市场竞争力的**引擎。广东CAF测试系统制作
灵活的板卡配置适配多样化智能驾驶芯片架构 当前智能驾驶SoC厂商采用异构计算架构,不同厂商在I/O电压、功耗、接口协议等方面存在***差异。杭州国磊GT600提供16个通用插槽,支持数字、模拟及混合信号板卡任意组合,并兼容多种VI浮动电源板卡(如GT-DPSMV08支持-2.5V~7V、1A输出)。这种高度模块化的设计使测试平台能快速适配英伟达Orin、地平线征程、黑芝麻华山等不同架构芯片的测试需求,无需为每款芯片重新开发整套测试硬件,***提升测试系统的复用率与投资回报率。国磊GT600SoC测试机高密度集成设计降低系统体积与功耗,适配高通道数HBM测试的紧凑型测试台架部署。国产替代CAF测...