MOSFET的导通电阻RDS(ON)及其正温度特性 正温度系数 源/漏金属与N+半导体区域之间的非理想接触,以及用于将器件连接到封装的引线,都可能产生额外的电阻。RDS(ON)具有正温度系数,随着温度的升高而增加。这是因为空穴和电子的迁移率随着温度的升高而降低。P/N沟道功率MOSF...
MOSFET的导通电阻RDS(ON)及其正温度特性
正温度系数
源/漏金属与N+半导体区域之间的非理想接触,以及用于将器件连接到封装的引线,都可能产生额外的电阻。RDS(ON)具有正温度系数,随着温度的升高而增加。这是因为空穴和电子的迁移率随着温度的升高而降低。P/N沟道功率MOSFET在给定温度下的RDS(ON),可通过公式估算。
这是MOSFET并联稳定性重要特征。当MOSFET并联时RDS(ON)随温度升高,不需要任何外部电路的帮助即可获得良好的电流分流。
正温度系数的注意事项
尽管RDSON的正温度系数使得并联容易,在实际使用中还需要注意到以下问题:栅源阈值电压VTH及CGD、CGS如有不同会影响到动态均流。应尽可能使电路布局保持对称。同时防止寄生振荡,如在每个栅极上分别串联电阻。RDSON的正温度特性也说明了导通损耗会在高温时变得更大。故在损耗计算时应特别留意参数的选择。 小信号 MOSFET 封装小巧,栅极阈值电压精确,适配板载信号开关、电平转换等控制电路。中国台湾工程MOSFET供应商销售价格

开关器件的主要诉求:快、省、稳,MOS管刚好全满足
无论是开关电源还是电机驱动,对开关器件的要求都绕不开三个关键词:开关速度要快(否则高频转换效率上不去)、导通损耗要低(电流通过时的发热会降低效率)、控制要灵活(能准确响应电路中的电信号)。而MOS管的特性,恰好完美匹配了这些需求。
传统双极型晶体管(BJT)的开关过程依赖载流子的扩散与复合,就像让一群人挤过狭窄的门,速度受限于载流子的移动速度;而MOS管的开关靠的是栅极电压对沟道的控制——当栅极施加正电压时,半导体表面会快速形成导电沟道(电子从源极涌向漏极);撤去电压时,沟道中的电子会被迅速"抽走"(或被氧化层中的电场排斥)。这种基于电场的控制方式,让MOS管的开关时间可以缩短到纳秒级(10⁻⁹秒),比BJT快几个数量级。在开关电源中,高频变压器的效率与开关频率直接相关,MOS管的快速开关能力,让电源能在MHz级频率下工作(比如常见的100kHz-1MHz),大幅缩小变压器体积,这正是手机快充电源、笔记本适配器能做得轻薄的关键。
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MOS管,又被称为场效应管、开关管,其英文名称“MOSFET”是Metal-Oxide-SemiconductorField-EffectTransistor的缩写,在实际应用中,人们常简称它为MOS管。从外观封装形式来看,MOS管主要分为插件类和贴片类。
众多的MOS管在外观上极为相似,常见的封装类型有TO-252、TO-251、TO-220、TO-247等,其中TO-220封装常用。由于型号繁多,依靠外观难以区分不同的MOS管。
按照导电方式来划分,MOS管可分为沟道增强型和耗尽型,每种类型又进一步分为N沟道和P沟道。在实际应用场景中,耗尽型MOS管相对较少,P沟道的使用频率也比不上N沟道。N沟道增强型MOS管凭借其出色的性能,成为了开关电源等领域的宠儿。它有三个引脚,当有丝印的一面朝向自己时,从左往右依次是栅极(G)、漏极(D)、源极(S)。
SGT技术:
突破传统MOS的性能瓶颈MOS管(金属氧化物半导体场效应晶体管)是开关电源、逆变器、电机控制等应用的重要开关器件。传统平面MOS和早期沟槽MOS在追求更低导通电阻(Rds(on))和更快开关速度时,往往会面临开关损耗(Qg,Qgd)增大、抗冲击能力下降等矛盾。
商甲半导体采用的SGT结构技术,正是解决这一矛盾的关键:
屏蔽栅极结构:在传统的栅极沟槽结构基础上,创新性地引入了额外的“屏蔽电极”(通常是源极电位)。这一结构能有效屏蔽栅极与漏极之间的米勒电容(Cgd),大幅降低栅极电荷(Qg,特别是Qgd)。
低栅极电荷(Qg):降低Qg意味着驱动电路更容易驱动MOS管,明显减少开关过程中的导通和关断损耗,提升系统整体效率,尤其在需要高频开关的应用中优势明显。
优化导通电阻(Rds(on)):SGT结构通过优化载流子分布和沟道设计,在同等芯片面积下,实现了比传统沟槽MOS更低的导通电阻,降低了导通状态下的功率损耗和发热。
优异的开关性能:低Qg和优化的电容特性共同带来了更快的开关速度和更干净的开关波形,减少了电压/电流应力,提升了系统稳定性和EMI性能。
高可靠性:精心设计的结构有助于改善器件的雪崩耐量(Eas)和抗闩锁能力,提高了系统在恶劣工况下的鲁棒性。 其 MOSFET 采用先进沟槽工艺制造,单位面积沟道密度高,提升器件整体性能表现。

如何基于MOSFET的工作电压与电流特性进行选型
一、工作电压选型关键要素
1.确定最大工作电压:
首要任务是精确测量或计算电路在正常及潜在异常工况下,MOSFET漏源极(D-S)可能承受的最大电压。例如,在开关电源设计中,需综合考虑输入电压波动、负载突变等因素。
2.选择耐压等级:
所选MOSFET的额定漏源击穿电压(VDSS)必须高于电路最大工作电压,并预留充足的安全裕量(通常建议20%-30%)。例如,若最大工作电压为30V,则应选择VDSS≥36V(30V×1.2)的器件,以增强抗电压波动和浪涌冲击的能力。
3.评估瞬态电压风险:
对于存在瞬间高压的电路(如切换感性负载产生反向电动势),满足稳态耐压要求不足。需确保MOSFET具备足够的瞬态电压承受能力,必要时选用瞬态耐压性能更强的型号。 无锡商甲半导体凭借技术创新实力,在 MOSFET 领域形成多项关键技术,产品竞争力较强。中国台湾工程MOSFET供应商销售价格
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MOS管的检测主要是判断MOS管漏电、短路、断路、放大。
其步骤如下:假如有阻值没被测MOS管有漏电现象。
1、把连接栅极和源极的电阻移开,万用表红黑笔不变,假如移开电阻后表针慢慢逐步退回到高阻或无限大,则MOS管漏电,不变则完好。
2、然后一根导线把MOS管的栅极和源极连接起来,假如指针立刻返回无限大,则MOS完好。
3、把红笔接到MOS的源极S上,黑笔接到MOS管的漏极上,好的表针指示应该是无限大。
4、用一只100KΩ-200KΩ的电阻连在栅极和漏极上,然后把红笔接到MOS的源极S上,黑笔接到MOS管的漏极上,这时表针指示的值一般是0,这时是下电荷通过这个电阻对MOS管的栅极充电,产生栅极电场,因为电场产生导致导电沟道致使漏极和源极导通,故万用表指针偏转,偏转的角度大,放电性越好。
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