思捷光电红外测温仪的软件功能丰富，实现了从测量到数据管理的全流程智能化。主要功能包括多模式信号处理（峰值、谷值、平均值）、参数设置与存储、故障报警等。EX-SMART 系列的软件支持三模式测温数据同步显示与记录，可存储双色值、单色通道值、信号强度等多组数据。通讯软件兼容 RS485/RS232 与以太网协议，可与工业电脑或中控系统对接，实现远程参数设置、数据实时上传与历史曲线查询。带视频功能的机型支持视频软件操作，通过 IP 地址登录可调整曝光参数、查看目标图像，实现 “测温 + 可视化” 一体化。这些软件功能使设备从单一测量工具升级为数据采集与分析终端，助力智能化生产。STRONG 系列双色款，支持单色双色模式切换。邢台温度传感器高温计使用
半导体制造对温度精度要求极高，思捷光电提供覆盖晶圆加工、薄膜沉积、长晶等环节的精密测温方案。晶圆加工阶段，蚀刻与沉积温度需控制在 ±1℃以内，EX-SMART 系列光纤双色仪（350℃~3300℃）以 1ms 响应捕捉温度细微变化，三模式测温对比分析数据，抗电磁干扰设计适配光刻机等设备。第三代半导体长晶炉测温选用 STRONG-SR 系列双色仪（700℃~3200℃），准确监测炉内温度，形成工艺曲线，保障晶体质量；薄膜沉积环节，MARS-G 系列（300℃~2500℃）监测沉积温度，确保薄膜厚度均匀。设备支持以太网通讯，与半导体自动化系统联动，实现温度闭环控制，提升产品良率。石家庄单色红外高温计国产过流与短路保护，提升红外测温仪的使用安全性。
思捷红外测温仪配备多套瞄准系统，为不同场景下的准确定位提供保障。绿色 LED 瞄准方式采用高亮度光源，1:1 指示测量目标大小，适用于 3m 内近距离、非封闭环境，光源寿命长达 10 万小时，无需频繁更换；目镜瞄准方式通过可调焦镜头呈现正像，能清晰观察高温物体或封闭环境中的目标，尤其适合远距离监测；视频瞄准方式则搭配 400 万低照度 CMOS 传感器，支持彩色与黑白模式切换，在昏暗环境中也能准确捕捉目标，还可通过网络远程查看瞄准画面。三种瞄准方式可根据实际工况灵活选择，例如冶金车间的热轧板测温适合用 LED 瞄准快速定位，半导体单晶炉的密闭环境则更适合目镜或视频瞄准。无论哪种方式，均能实现 “所见即所测”，确保测温点与目标区域完全匹配，避免因定位偏差导致的测量误差，为工业生产的准确温控奠定基础。
在实用性设计上，MARS 系列充分考虑工业现场操作需求：调焦范围覆盖 0.25m（近焦距）至无穷远，适配不同安装距离；瞄准方式支持 LED 绿光源或目视瞄准，1:1 显示目标大小，便于快速定位测量点；带水冷版本可在 - 20℃~+200℃环境工作，无水冷时耐受 - 20℃~+60℃，满足大多数厂房环境。此外，产品内置 PID 恒温控制和全量程温度补偿，避免环境温度波动影响精度；供电电源带过压、过流、短路保护，内置 EMI 滤波器可抗 2500VDC 脉冲群干扰，确保长期稳定运行。对于追求可靠性能与成本平衡的工业用户，MARS 系列无疑是理想选择。绿色 LED 瞄准，快速定位红外测温仪测量目标。
红外测温仪凭借非接触、快速响应的优势，广泛应用于工业领域，其技术分为单色与双色两类，二者原理差异明显，适用场景各有侧重。单色红外测温仪基于物体某一狭窄波长范围内的辐射能量确定温度，测量的是区域平均温度。但它受发射率、镜头污染、背景辐射影响较大。物体表面粗糙度、材质、氧化程度等都会改变发射率，需参考发射率表调整参数；镜头积灰或空气中水汽会削弱辐射能量，导致测量值偏低；且无法测量小于视场范围的目标，当目标不能充满视场时，温度测量准确性大幅下降。不过，在被测物体面积大、表面平整稳定、光学通道洁净的场景，如大面积板材热处理，单色测温仪仍能稳定工作，思捷光电 MARS 系列单色仪便是典型。双色红外测温仪则通过测量两个邻近波段红外辐射能量的比值确定温度，比值与温度呈线性关系。这种技术能有效消除水汽、灰尘、目标大小变化、部分遮挡及发射率变化的影响，即便信号衰减 95%，测温结果仍不受干扰。它可测量小于视场的目标，允许安装角度与测量方向夹角小于 45°，但当背景温度高于被测温度时不适用。思捷光电 STRONG 系列双色仪采用该技术，在钢材轧制、水泥窑、真空炉等复杂环境中表现优异，为工业生产提供更可靠的温度监测。汽车安全玻璃制造，红外测温仪保障加工精度。特制高温计工厂直销
可手动设置报警值、模拟量输出起始值与终点值。邢台温度传感器高温计使用
新能源产业中，光伏组件生产与半导体制造对温度监测要求严苛，温度偏差可能导致产品性能下降甚至报废。思捷光电红外测温仪凭借多型号、高精度、强适配性，为新能源产业提供专业测温支持，助力产业高质量发展。在光伏产业单 / 多晶硅生产环节，硅料熔融、铸锭温度需准确控制在 1400℃左右。思捷 STRONG-SR 系列双色红外测温仪（如 STRONG-SR-6016，600℃~1600℃）采用叠层硅探测器，测量精度 ±0.5% T，分辨率 0.1℃，能准确监测硅料熔融温度。双色技术不受炉内灰尘、水汽影响，避免因温度不当导致的硅锭杂质增多。在 PV 模块质量控制与薄膜沉积 / 层压环节，MARS-EXG 系列单色仪（150℃~1200℃）适配中低温需求，特殊窄带滤片降低发射率影响，实时监测层压温度，确保光伏组件粘合牢固、性能稳定。邢台温度传感器高温计使用
