企业商机
MappingOverInk处理基本参数
  • 品牌
  • 上海伟诺
  • 型号
  • 伟诺
  • 适用行业
  • 半导体
  • 版本类型
  • 网络版
  • 语言版本
  • 简体中文版
MappingOverInk处理企业商机

晶圆级良率监控要求系统能处理高密度、高维度的测试数据流。YMS方案自动对接ASL1000、TR6850、MS7000、SineTest等设备,实时汇聚原始测试结果并完成结构化清洗,消除人工干预带来的延迟与误差。系统以图表形式直观呈现晶圆热力图,清晰展示边缘、中心或象限区域的良率差异,辅助工程师判断光刻、刻蚀或沉积环节的均匀性问题。当某批次CP良率异常时,可联动WAT参数变化追溯前道工艺漂移,实现从前端到后端的全链路追溯。多周期报表自动生成并支持多格式导出,满足从产线到高管的信息消费习惯。这种深度可视化与智能关联分析能力,使良率管理从经验驱动转向数据驱动。上海伟诺信息科技有限公司凭借对半导体制造流程的理解,将YMS打造为晶圆厂提质增效的有效工具。失效Die的空间分布特征是判断工艺问题的关键依据,指导制程参数优化。辽宁晶圆PAT

辽宁晶圆PAT,MappingOverInk处理

因测试数据错误导致误判良率,可能引发不必要的重测或错误工艺调整,造成材料与时间双重浪费。YMS在数据入库前执行多层校验,自动剔除异常记录,确保进入分析环节的数据真实反映产品状态。例如,当某晶圆因通信中断产生部分缺失数据时,系统会标记该记录而非直接纳入统计,避免拉低整体良率。结合WAT、CP、FT参数的交叉验证,进一步排除孤立异常点。高质量数据输入使质量决策建立在可靠基础上,明显降低返工率和报废风险。这种前置质量控制机制,将成本节约从“事后补救”转向“事前预防”。上海伟诺信息科技有限公司通过严谨的数据治理逻辑,保障YMS输出结果的科学性与可执行性。河南半导体Mapping Inkless系统定制Mapping Over Ink处理方案支持高密度逻辑与模拟芯片应用,覆盖多品类半导体产品。

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面对工厂级良率管理的复杂性,单一数据源或手工报表已难以支撑全局质量洞察。YMS系统整合来自Juno、AMIDA、CTA8280、T861等设备的stdf、xls、log等测试数据,通过自动化清洗与异常过滤,构建全厂统一的良率数据视图。管理者可基于该视图,从时间维度追踪长期趋势,或从空间维度比对不同机台、批次间的性能差异,精确识别瓶颈环节。系统对WAT、CP、FT参数的联动分析,进一步打通从前道到后道的质量链路。SYL与SBL的自动卡控机制,确保关键指标始终处于受控状态。灵活的报表导出功能,则满足从车间班组长到高管的多层次信息需求。上海伟诺信息科技有限公司立足本土半导体发展需求,持续完善YMS系统,推动工厂实现数据驱动的质量跃升。

车间管理者需要的是能即时反映产线状态的良率监控工具,而非复杂的数据平台。YMS车间方案聚焦高频、高敏场景,自动汇聚来自现场Tester设备的测试结果,并实时进行数据清洗与异常过滤,确保看板展示的信息准确有效。通过标准化数据库,系统支持按班次、机台或产品型号动态呈现良率热力图与缺陷分布,帮助班组长在交接班前快速识别异常批次。当某区域连续出现低良率时,系统可联动CP与FT数据判断是否为共性工艺问题,并触发预警。日报、周报自动生成并支持多格式导出,减少手工填报负担。这种“轻部署、快响应、强落地”的设计思路,使良率管理真正融入日常生产节奏。上海伟诺信息科技有限公司基于对封测工厂运作逻辑的深刻洞察,持续优化YMS的车间适用性。工艺工程师基于GDBC聚类结果优化制程参数,提升制造良率水平。

在高频测试场景下,重复提交或设备通信中断常导致数据冗余或缺失,直接影响良率计算准确性。YMS系统通过时间戳、测试编号、晶圆ID等关键字段自动扫描数据集,识别完全重复或部分重叠的记录,并予以合并或剔除;同时检测关键参数字段是否为空,快速定位缺失节点并提示修正。该机制嵌入数据清洗流程,与异常值过滤协同工作,确保进入分析环节的数据集完整、干净、无偏。例如,当某批次CP测试因机台故障中断后重跑,系统可自动识别并保留有效片段,避免重复计数拉低整体良率。这种自动化质量控制大幅降低人工核查负担,提升决策可靠性。上海伟诺信息科技有限公司将数据完整性视为YMS的关键能力之一,持续强化其在复杂生产环境中的鲁棒性。Mapping Inkless输出数据可直接用于客户交付,支持快速验证。辽宁晶圆PAT

GDBC聚类结果支持根因快速定位,加速工艺问题解决效率。辽宁晶圆PAT

当多台测试设备同时产出异构数据时,传统人工整合方式不仅耗时,还易引入误差。YMS系统通过自动化流程,将来自ETS364、STS8200、TR6850等设备的spd、jdf、zip等格式数据统一解析、清洗并结构化存储,构建一致的数据底座。在此基础上,结合WAT、CP、FT等关键测试阶段的参数变化,系统能够揭示影响良率的深层关联,辅助工程师精确调整工艺窗口。多维度可视化图表让晶圆级缺陷热力图、批次良率走势一目了然,明显缩短问题响应周期。报表功能支持按需定制并导出多种办公格式,提升跨部门协同效率。SYL/SBL的实时卡控能力,则有效预防批量性质量风险。上海伟诺信息科技有限公司秉持“以信为本,以质取胜”的宗旨,致力于打造适配国产半导体生态的智能良率管理工具。辽宁晶圆PAT

上海伟诺信息科技有限公司汇集了大量的优秀人才,集企业奇思,创经济奇迹,一群有梦想有朝气的团队不断在前进的道路上开创新天地,绘画新蓝图,在上海市等地区的数码、电脑中始终保持良好的信誉,信奉着“争取每一个客户不容易,失去每一个用户很简单”的理念,市场是企业的方向,质量是企业的生命,在公司有效方针的领导下,全体上下,团结一致,共同进退,**协力把各方面工作做得更好,努力开创工作的新局面,公司的新高度,未来和您一起奔向更美好的未来,即使现在有一点小小的成绩,也不足以骄傲,过去的种种都已成为昨日我们只有总结经验,才能继续上路,让我们一起点燃新的希望,放飞新的梦想!

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