离子迁移的两大阶段离子迁移发生的主因是树脂与玻纤之间的附着力不足,或含浸时亲胶性不良,两者之间一旦出现间隙(Gap)后,又在偏压驱动之下,使得铜盐获得可移动的路径后,于是CAF就进一步形成了。离子迁移的发生可分为两阶段:STEPl是高温高湿的影响下,使得树脂与玻纤之间的附着力出现劣化,并促成玻纤表面硅烷处理层产生水解,进而形成了对铜金属腐蚀的环境。STEP2则已出现了铜腐蚀的水解反应,并形成了铜盐的沉积物,已到达不可逆反应,其反应式如下:防止发生离子迁移故障的一个重要措施当然是要保持使用环境的干燥。湖南离子迁移绝缘电阻测试系统解决方案
1、电化学迁移(ECM)电化学迁移是在直流电压的影响下发生的离子运动。在潮湿条件下,金属离子会在阳极形成,并向阴极迁移(见图6.1),形成枝晶。当枝晶连接两种导体时,便造成了短路,而且枝晶会因电流骤增而发生熔断。2、导电阳极丝(CAF)目前公认的CAF成因是铜离子的电化学迁移随着铜盐的沉积。在高温高湿条件下,PCB内部的树脂和玻纤之间的附力劣化,促成玻纤表面的硅烷偶联剂产生水解,树脂和玻纤分离并形成可供离子迁移的通道。PCB/PCBA绝缘失效失效机理绝缘电阻是表征PCB绝缘性能的一个简单而且容易测量的指标,绝缘失效是指绝缘电阻减小。一般,影响绝缘电阻的因素有温度、湿度、电场强度以及样品处理等。绝缘失效通常可能发生在PCB表面或者内部,前者多见于电化学迁移(ECM)或化学腐蚀,后者则多见于导电阳极丝(CAF)。1、电化学迁移(ECM)电化学迁移是在直流电压的影响下发生的离子运动。在潮湿条件下,金属离子会在阳极形成,并向阴极迁移(见图6.1),形成枝晶。当枝晶连接两种导体时,便造成了短路,而且枝晶会因电流骤增而发生熔断。湖南离子迁移绝缘电阻测试系统解决方案系统可通过曲线、表格的形式对测试数据进行实时监控,测试数据自动存储和管理。
智能电阻则是一种集成了智能化功能的电阻器件,能够提供更加便捷和精确的电阻测试。智能电阻的特点之一是其高精度。传统的电阻器件在测量电阻时可能存在一定的误差,而智能电阻通过内置的智能芯片和算法,能够实现更加准确的测量结果。这对于一些对电阻值要求较高的应用场景非常重要,比如精密仪器的校准和电子产品的质量检测。另外,智能电阻还具有更加便捷的操作和数据处理能力。传统的电阻测试通常需要使用专门的测试仪器和设备,而智能电阻则可以直接通过连接到计算机或移动设备上进行测试。
电阻测试配件的稳定性也是一个重要的考虑因素。稳定的测试配件可以保证测试结果的一致性,减少误差的发生。不同的电子产品对电阻测试配件的要求不同,因此需要根据实际需求选择适用范围的配件。一般来说,具有多种电阻值可选的配件更加灵活和实用。选择品牌的电阻测试配件可以保证其质量和售后服务。品牌通常具有丰富的经验和技术,能够提供高质量的产品和专业的技术支持。电阻测试配件是电子行业中不可或缺的测试工具,它的准确性和稳定性对于电子产品的制造和维修至关重要。在选择电阻测试配件时,需要考虑准确性、稳定性、适用范围和品牌信誉等因素。只有选择合适的配件,才能保证电子产品的质量和性能。监测模块:状态、数据曲线、测试配置、增加测试、预警。
为了评估PCB板的绝缘性能,可以进行离子迁移测试。这项测试主要通过测量PCB板上的绝缘电阻来评估其绝缘性能。绝缘电阻是指在特定的电压下,单位面积上的电流流过的电阻。通过测量绝缘电阻,可以判断PCB板的绝缘性能是否符合要求。在进行离子迁移测试时,需要使用的测试设备。首先,将PCB板放置在测试设备上,并施加一定的电压。然后,测量电流流过的电阻,以确定绝缘电阻的大小。如果绝缘电阻低于规定的标准值,就说明PCB板的绝缘性能不达标,需要进行进一步的处理或更换。智能电阻可以直接通过连接到计算机或移动设备上进行测试。广东多功能电阻测试订做价格
表面绝缘阻抗(SIR)测试数据可以直接反映PCBA的表面清洁度(包括加工、制造过程的残留)。湖南离子迁移绝缘电阻测试系统解决方案
AF与ECM/SIR都是一个电化学过程;从产生的条件来看(都需要符合下面3个条件):电解液环境,即湿度与离子(Electrolyte–humidityandionicspecies);施加偏压(Voltagebias–Forcethatdrivesthereaction);存在离子迁移的通道意味着玻纤与树脂的结合间存在缺陷,或线与线间存在杂物等;(“Pathway”–Awayfortheionstomovefromtheanodetothecathode;Thepathwayisalongtheglassfiberswhentheresinimpregnationtotheglassfibershavedefects);加剧其产生的条件类似:高湿环境(Highhumidityrate);高电压(HigherVoltagelevels);高温环境(Highertemperature);湖南离子迁移绝缘电阻测试系统解决方案