智能电阻则是一种集成了智能化功能的电阻器件,能够提供更加便捷和精确的电阻测试。智能电阻的特点之一是其高精度。传统的电阻器件在测量电阻时可能存在一定的误差,而智能电阻通过内置的智能芯片和算法,能够实现更加准确的测量结果。这对于一些对电阻值要求较高的应用场景非常重要,比如精密仪器的校准和电子产品的质量检测。另外,智能电阻还具有更加便捷的操作和数据处理能力。传统的电阻测试通常需要使用专门的测试仪器和设备,而智能电阻则可以直接通过连接到计算机或移动设备上进行测试。类型1-500V,通道数16-256/128/64/32(通道可选),测试速度快: 20ms/所有通道。东莞表面绝缘SIR电阻测试哪家好
试验通道数1-256通道试验时间0---9999小时(可以任意设定)低阻测试测试范围1mΩ---103Ω测量精度±(1%RD+10µΩ)**小分辨率1μΩ测试电流0.05-3.00(A)测试速度≦0.5秒/通道测试时分组16通道/组,各组所有参数可以**设置高、低温区限值可分别任意设置电阻测试模式定时触发、温度触发测试数据输出图表,EXCEL,TXT等格式,温度和阻值曲线可重叠显示。超限报警可设定配件测试电缆PTFE耐高温电缆温度监测0-4通道温度监测选件温度范围:-70℃~+200℃,精度±1℃*本系统只提供自有版权的导通电阻实时监控测试操作软件,Windows操作系统、MS-office软件及相关数据库由客户自行购买*该系统可根据客户的不同需求,定制特殊要求以实现更多功能江苏CAF电阻测试性价比从而使绝缘体处于离子导电状态。显然,这将使绝缘体的绝缘性能下降甚至成为导体而造成短路故障。
CAF发生的原理离子迁移现象是由溶液和电位等相关电化学现象引起的,尤其是在高密度电子产品中,材料与周围环境相互影响,导致离子迁移现象发生,形成CAF通路第一阶段的基本条件是有金属盐类存在以及有潮湿或蒸汽压存在,这两个条件都不可或缺。当施加电压或偏压时,便会产生第二阶段的CAF增长。其中,测试的温湿度越高,吸附的水分越多,生长得就越快;电压越高,加快电极反应,CAF生长得越快;PH值越低,越易发生CAF;基材的吸水率越高,越易发生CAF。影响因素:电压,材质NO.2CAF发生的主要影响因素
1、电化学迁移(ECM)电化学迁移是在直流电压的影响下发生的离子运动。在潮湿条件下,金属离子会在阳极形成,并向阴极迁移(见图6.1),形成枝晶。当枝晶连接两种导体时,便造成了短路,而且枝晶会因电流骤增而发生熔断。2、导电阳极丝(CAF)目前公认的CAF成因是铜离子的电化学迁移随着铜盐的沉积。在高温高湿条件下,PCB内部的树脂和玻纤之间的附力劣化,促成玻纤表面的硅烷偶联剂产生水解,树脂和玻纤分离并形成可供离子迁移的通道。PCB/PCBA绝缘失效失效机理绝缘电阻是表征PCB绝缘性能的一个简单而且容易测量的指标,绝缘失效是指绝缘电阻减小。一般,影响绝缘电阻的因素有温度、湿度、电场强度以及样品处理等。绝缘失效通常可能发生在PCB表面或者内部,前者多见于电化学迁移(ECM)或化学腐蚀,后者则多见于导电阳极丝(CAF)。1、电化学迁移(ECM)电化学迁移是在直流电压的影响下发生的离子运动。在潮湿条件下,金属离子会在阳极形成,并向阴极迁移(见图6.1),形成枝晶。当枝晶连接两种导体时,便造成了短路,而且枝晶会因电流骤增而发生熔断。焊锡青、焊锡丝、助焊剂、清洗剂等引起的材料绝缘性能退化评估。
在进行离子迁移绝缘电阻测试时,需要注意以下几点。首先,要选择合适的测试设备和方法,确保测试结果的准确性和可靠性。其次,要根据实际情况确定测试的参数和条件,如湿度、温度、电压等。要及时记录和分析测试结果,发现问题并采取相应的措施进行修复或更换。离子迁移绝缘电阻测试是一种重要的电子产品质量检测方法。它通过测量离子迁移速率和绝缘电阻值,来评估材料的质量和可靠性。离子迁移绝缘电阻测试广泛应用于电子产品制造和质量控制过程中,可以帮助检测材料的离子迁移问题和绝缘电阻异常,从而确保电子产品的质量和可靠性。通过表面绝缘电阻(SIR)测试数据可以直接反映PCB的清洁度。江苏CAF电阻测试性价比
离子迁移的表现可以通过表面绝缘电阻(SIR)测试电阻值显现出来。东莞表面绝缘SIR电阻测试哪家好
广州维柯信息技术有限公司多通道SIR/CAF实时监控测试系统测量电流的设定:使用低阻SIR系统测样品导通性时可以设置测量电流范围0.1A~5A。使用高阻CAF系统测样品电阻时测量电流是不用设置,需设置测量电压,因为仪器恒压工作测量漏电流,用欧姆定理计算电阻值。电阻值的测定时间可设定范围是:CAF系统的单次取值电阻测定时间范围1-600分钟可设置,单次取值电阻测定电压稳定时间范围1-600秒可设置,完成多次取值电阻测定时间1-9999小时可设置。电阻测试范围1x104 -1 x1014 Ω,电阻测量精度:1x104 -1x1010Ω≤±2%, 1x1010 -1x1011Ω≤±5%1x1011 -1x1014Ω≤±20%东莞表面绝缘SIR电阻测试哪家好