贵州油墨光刻胶工厂「吉田半导体供应」

光刻胶基本参数

品牌
吉田半导体
型号
型号齐全

光刻胶企业商机

工艺流程

• 目的：去除基板表面油污、颗粒，增强感光胶附着力。

• 方法：

◦ 化学清洗（硫酸/双氧水、去离子水）；

◦ 表面处理（硅基板用六甲基二硅氮烷HMDS疏水化，PCB基板用粗化处理）。

涂布（Coating）

• 方式：

◦ 旋涂：半导体/显示领域，厚度控制精确（纳米至微米级），转速500-5000rpm；

◦ 喷涂/辊涂：PCB/MEMS领域，适合大面积或厚胶（微米至百微米级，如负性胶可达100μm）。

• 关键参数：胶液黏度、涂布速度、基板温度（影响厚度均匀性）。

前烘（Soft Bake）

• 目的：挥发溶剂，固化胶膜，增强附着力和稳定性。

• 条件：

◦ 温度：60-120℃（正性胶通常更低，如90℃；负性胶可至100℃以上）；

◦ 时间：5-30分钟（根据胶厚调整，厚胶需更长时间）。

曝光（Exposure）

• 光源：

◦ 紫外光（UV）：G线（436nm）、I线（365nm）用于传统光刻（分辨率≥1μm）；

◦ 深紫外（DUV）：248nm（KrF）、193nm（ArF）用于半导体先进制程（分辨率至20nm）；

◦ 极紫外（EUV）：13.5nm，用于7nm以下制程（只能正性胶适用）。

• 曝光方式：

◦ 接触式/接近式：掩膜版与胶膜直接接触（PCB、MEMS，低成本但精度低）；

◦ 投影式：通过物镜聚焦（半导体，分辨率高，如ArF光刻机精度达22nm）。

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• 正性光刻胶

◦ YK-300：适用于半导体制造，具备高分辨率（线宽≤10μm）、耐高温（250℃）、耐酸碱腐蚀特性，主要用于28nm及以上制程的晶圆制造，适配UV光源（365nm/405nm）。

◦ 技术优势：采用进口树脂及光引发剂，绝缘阻抗高（>10^14Ω），满足半导体器件对绝缘性的严苛要求。

• 负性光刻胶

◦ JT-1000：负性胶，主打优异抗深蚀刻性能，分辨率达3μm，适用于功率半导体、MEMS器件制造，可承受氢氟酸（HF）、磷酸（H3PO4）等强腐蚀液处理。

◦ SU-3：经济型负性胶，性价比高，适用于分立器件及低端逻辑芯片，光源适应性广（248nm-436nm），曝光灵敏度≤200mJ/cm²。

2. 显示面板光刻胶

• LCD正性光刻胶YK-200：专为TFT-LCD制程设计，具备高涂布均匀性（膜厚误差±1%）、良好的基板附着力，用于彩色滤光片（CF）和阵列基板（Array）制造，支持8.5代线以上大规模生产。

• 水性感光胶JT-1200：环保型产品，VOC含量<50g/L，符合欧盟RoHS标准，适用于柔性显示基板，可制作20μm以下精细网点，主要供应京东方、TCL等面板厂商。

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吉田半导体厚板光刻胶 JT-3001：国产技术助力 PCB 行业升级

JT-3001 厚板光刻胶支持 500nm/min 深蚀刻，成为国产 PCB 电路板制造推荐材料。
吉田半导体自主研发的 JT-3001 厚板光刻胶，分辨率 1.5μm，抗深蚀刻速率 > 500nm/min，适用于高密度 PCB 制造。其无卤无铅配方通过欧盟 RoHS 认证，已应用于华为 5G 基站主板量产。产品采用国产原材料与全自动化工艺，批次稳定性达 99.5%，帮助客户提升生产效率 20%，加速国产 PCB 行业技术升级，推动 PCB 行业国产化进程。

半导体集成电路

• 应用场景：

◦ 晶圆制造：正性胶为主（如ArF/EUV胶），实现20nm以下线宽，用于晶体管栅极、接触孔等精细结构；

◦ 封装工艺：负性胶用于凸点（Bump）制造，厚胶（5-50μm）耐电镀溶液腐蚀。

• 关键要求：高分辨率、低缺陷率、耐极端工艺（如150℃以上高温、等离子体轰击）。

印刷电路板（PCB）

• 应用场景：

◦ 线路成像：负性胶（如环化橡胶胶）用于双面板/多层板外层线路，线宽≥50μm，耐碱性蚀刻液（如氯化铜）；

◦ 阻焊层：厚负性胶（50-100μm）覆盖非焊盘区域，耐260℃焊接温度和助焊剂腐蚀；

◦ 挠性PCB（FPC）：正性胶用于精细线路（线宽≤20μm），需耐弯曲应力。

• 优势：工艺简单、成本低，适合大面积基板（如1.2m×1.0m的PCB基板）。

平板显示

• 应用场景：

◦ 彩色滤光片：正性胶制作黑矩阵（BM）和RGB色阻间隔层，耐UV固化和湿法蚀刻（如HF溶液）；

◦ OLED像素定义：负性胶形成像素开口（孔径5-50μm），耐有机溶剂（如OLED蒸镀前的清洗液）；

◦ 触控面板：正性胶制作透明电极（如ITO线路），线宽≤10μm，需透光率＞90%。

• 关键参数：高透光性、低收缩率（避免图案变形）。

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纳米电子器件制造

• 半导体芯片：在22nm以下制程中，EUV光刻胶（分辨率≤10nm）用于制备晶体管栅极、纳米导线等关键结构，实现芯片集成度提升（如3nm制程的FinFET/GAA晶体管）。

• 二维材料器件：在石墨烯、二硫化钼等二维材料表面，通过电子束光刻胶定义纳米电极阵列，构建单原子层晶体管或传感器。

纳米光子学与超材料

• 光子晶体与波导：利用光刻胶制备亚波长周期结构（如光子晶体光纤、纳米级波导弯头），调控光的传播路径，用于集成光路或量子光学器件。

• 超材料设计：在金属/介质基底上刻蚀纳米级“鱼网状”“蝴蝶结”等图案（如太赫兹超材料），实现对电磁波的超常调控（吸收、偏振转换）。

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定义与特性

负性光刻胶是一种在曝光后，未曝光区域会溶解于显影液的光敏材料，形成与掩膜版（Mask）图案相反的图形。与正性光刻胶相比，其主要特点是耐蚀刻性强、工艺简单、成本低，但分辨率较低（通常≥1μm），主要应用于对精度要求相对较低、需要厚胶或高耐腐蚀性的场景。

化学组成与工作原理

主要成分

基体树脂：

◦ 早期以聚异戊二烯橡胶（天然或合成）为主，目前常用环化橡胶（Cyclized Rubber）或聚乙烯醇肉桂酸酯，提供胶膜的机械强度和耐蚀刻性。

光敏剂：

◦ 主要为双叠氮化合物（如双叠氮芪）或重氮醌类衍生物，占比约5%-10%，吸收紫外光后引发交联反应。

交联剂：

◦ 如六亚甲基四胺（乌洛托品），在曝光后与树脂发生交联，形成不溶性网状结构。

溶剂：

◦ 多为有机溶剂（如二甲苯、环己酮），溶解树脂和光敏剂，涂布后挥发形成均匀胶膜。

工作原理

曝光前：光敏剂和交联剂均匀分散在树脂中，胶膜可溶于显影液（有机溶剂）。

曝光时：

◦ 光敏剂吸收紫外光（G线436nm为主）后产生活性自由基，引发交联剂与树脂分子间的共价键交联，使曝光区域形成不溶于显影液的三维网状结构。

显影后：

◦ 未曝光区域的树脂因未交联，被显影液溶解去除，曝光区域保留，形成负性图案（与掩膜版相反）。

贵州油墨光刻胶工厂

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