表面绝缘电阻测试（SIR测试）根据IPC的定义，表面绝缘电阻(SIR)是在特定环境和电气条件下确定的一对触点、导体或接地设备之间的绝缘材料的电阻。在印刷电路板(PCB)和印刷电路组件(PCA)领域，SIR测试——通常也称为温湿度偏差(THB)测试——用于评估产品或工艺的抗“通过电流泄漏或电气短路（即树枝状生长）导致故障”。SIR测试通常在...

类型1~2000V通道数16-256测试组数1-16组工作时间1-9999小时偏置电压1-2000VDC（步进）测试电压1-2000VDC（步进）电阻测量范围1x104-1x1014Ω电阻测量精度1x104-1x1010Ω≤±2%1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤20%测试间隔时间1-600分钟测试速度20...

二线法与四线法是电阻测试两种基础接法，精度与适用场景差异巨大。二线电阻测试只用两根探针，既供电流又测电压，结构简单、成本低，但探针接触电阻、引线电阻会叠加到测量值中，只适合≥1Ω 的中高阻粗测。四线电阻测试采用 “电流端 + 电压端” 分离设计，彻底消除接触与引线误差，可精细测量微欧级变化，是精密 PCB 线路、超薄铜箔、微小焊点的必选方...

电阻测试是判断 PCB 线路板电气可靠性的手段，精细反映绝缘状态与导通稳定性。在电子制造领域，电阻测试主要分为表面绝缘电阻测试、导通电阻测试与离子迁移电阻测试三类，分别对应不同失效场景。表面绝缘电阻测试用于评估板材与涂层绝缘能力，避免高压下漏电击穿；导通电阻测试聚焦焊点、线路与连接器连接质量，防止接触不良引发发热故障；离子迁移电阻测试则监...

SIR、CAF、RTC 是 PCB 行业关键的三项电阻测试，分别对应表面绝缘、离子迁移、导通可靠性三大维度。SIR（表面绝缘电阻）测试通过电阻测试监测板面绝缘随时间、温湿度的衰减趋势，评估助焊剂残留、清洁工艺是否合格；CAF（导电阳极丝）测试依靠高精度电阻测试捕捉基材内部因电化学迁移形成的微导通，预防高压下突然短路；RTC（导通电阻）测试...

随着电子产品向小型化/集成化的发展，线路和层间间距越来越小，电迁移问题也日益受到关注。一旦发生电迁移会造成电子产品绝缘性能下降，甚至短路。电迁移失效同常规的过应力失效不同，它的发生需要一个时间累积，失效通常会发生在**终客户的使用过程中，可能在使用几个月后，也可能在几年后，往往会造成经济上的重大损失。但是，电迁移的发生不*同离子有关，它需...

类型1~2000V通道数16-256测试组数1-16组工作时间1-9999小时偏置电压1-2000VDC（步进）测试电压1-2000VDC（步进）电阻测量范围1x104-1x1014Ω电阻测量精度1x104-1x1010Ω≤±2%1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤20%测试间隔时间1-600分钟测试速度20...

产品可靠性系统解决方案1、可靠性试验方案定制2、可靠性企标制定与辅导3、寿命评价及预估4、可靠性竞品分析5、产品评测6、器件质量提升二、常规环境与可靠性项目检测方法1、电子元器件环境可靠性高/低温试验、温湿度试验、交变湿热试验、冷热冲击试验、快速温度变化试验、盐雾试验、低气压试验、高压蒸煮（HAST）、CAF试验、气体腐蚀试验、防尘防水/...

类型1~2000V通道数16-256测试组数1-16组工作时间1-9999小时偏置电压1-2000VDC（步进）测试电压1-2000VDC（步进）电阻测量范围1x104-1x1014Ω电阻测量精度1x104-1x1010Ω≤±2%1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤20%测试间隔时间1-600分钟测试速度20...

可靠性研究的两大内容就是失效分析和可靠性测试（包括破坏性实验）。两者之间是相互影响和相互制约的。电子元器件技术的快速发展和可靠性的提高奠定了现代电子装备的基础，元器件可靠性工作的根本任务是提高元器件的可靠性。因此，必须重视和加快发展元器件的可靠性分析工作，通过分析确定失效机理，找出失效原因，反馈给设计、制造和使用，共同研究和实施纠正措施，...

四线测试Four-Wire或4-WireTest，可以认为是二线开路测试的延伸版本，聚焦于PCB板每个网络Net开路Open的阻值。基本定义与原理四线测试4-WireTest通过分离激励电流与电压测量路径，彻底消除导线电阻和接触电阻的影响，实现毫欧mΩ级高精度测量。四线测试4-WireTest的**是基于欧姆定律(R=V/I)，但通过**...

在可靠性检测领域，数据的精细采集、安全存储与便捷分析是实验室**诉求。广州维柯SIR/CAF实时监控测试系统以全流程数据管理能力为突破口，构建了“采集-存储-分析-输出”的闭环解决方案，为检测结果的科学性与可追溯性提供坚实保障。设备搭载高速实时检测电路，不*能精细捕捉每一个通道的阻抗变化数据，还能通过曲线实时显示测试动态，让检...