南京CAF测试系统哪家好

医疗成像芯片 CT、MRI、内窥镜等设备的图像传感器（CIS）和图像信号处理器（ISP）对图像质量要求极高。国磊GT600可通过高速数字通道测试ISP的图像处理算法（如降噪、边缘增强），并通过AWG注入模拟图像信号，验证成像链路的完整性与色彩还原度。 4. 植入式医疗设备芯片 心脏起搏器、神经刺激器等植入设备的芯片必须**功耗、超高可靠。国磊GT600的FVMI模式可精确测量uA级静态电流，筛选出“省电体质”芯片；其支持长时间老化测试，可模拟10年以上使用寿命，确保植入后万无一失。 综上，国磊GT600以“高精度、高可靠、全功能”测试能力，为国产**医疗芯片的上市提供了坚实的质量保障。界面友好，操作简便，极大降低使用门槛与培训成本。南京CAF测试系统哪家好

国磊（Guolei）SoC测试系统，特别是其GT600高性能测试平台，在当前全球半导体产业链高度竞争与地缘***风险加剧的背景下，对保障中国半导体及**制造领域的供应链安全具有战略意义。打破**ATE设备进口依赖 自动测试设备（ATE）是芯片制造后道工序的**装备，长期被美国泰瑞达（Teradyne）、日本爱德万（Advantest）等国际巨头垄断，尤其在高性能SoC、AI芯片、车规芯片测试领域，国产设备几乎空白。国磊GT600实现了400MHz测试速率、2048通道扩展、高精度AWG/TMU等关键技术指标的突破，具备替代进口设备的能力。这***降低了国内晶圆厂、封测厂和芯片设计公司在**测试环节对国外设备的依赖，避免因出口管制、断供或技术封锁导致产线停摆。盐城导电阳极丝测试系统按需定制国磊GT600SoC测试机可用于执行电压裕量测试（VoltageMargining），评估芯片在电压波动下的稳定性。

低温CMOS芯片的常温预筛与参数表征。许多用于量子计算的控制芯片需在毫开尔文温度下工作，但其制造仍基于标准CMOS工艺。在封装并送入稀释制冷机前，必须通过常温下的严格电性测试进行预筛选。国磊（Guolei）GT600支持每引脚PPMU（参数测量单元）和可编程浮动电源（-2.5V~7V），能精确测量微弱电流、漏电及阈值电压漂移等关键参数，有效剔除早期失效器件，避免昂贵的低温测试资源浪费。量子测控SoC的量产验证平台 随着量子计算机向百比特以上规模演进，集成化“量子测控SoC”成为趋势（如Intel的Horse Ridge芯片）。这类芯片集成了多通道微波信号调制、频率合成、反馈控制等功能，结构复杂度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行测试能力、128M向量深度及400MHz测试速率，完全可满足此类**SoC在工程验证与小批量量产阶段的功能覆盖与性能分bin需求。

支持复杂测试向量导入，加速算法验证闭环 智能驾驶芯片的**价值在于其内置的AI推理引擎能否准确执行感知与决策算法。杭州国磊GT600支持从其他测试平台导入测试程序与向量，并兼容STDF、CSV、Excel等多种数据格式，便于将仿真环境中的算法测试用例直接转化为ATE（自动测试设备）可执行的测试向量。例如，可在GT600上加载真实道路场景下的图像识别或目标检测激励序列，验证NPU在极限负载下的响应正确性与时延表现，从而构建“算法—芯片—测试”一体化验证闭环。国磊GT600SoC测试机可以进行电源抑制比（PSRR）测试即在电源上叠加交流信号，测量输出端的噪声响应。

工业物联网的“量产引擎” 工业物联网（IIoT）设备对芯片的可靠性与成本极为敏感，且需求量大。杭州国磊GT600的512站点并行测试能力，可一次测试512颗MCU或传感器芯片，极大提升测试吞吐量，***降低单颗测试成本。据行业测算，同测数每翻一倍，测试成本可下降30%以上。杭州国磊GT600支持长时间老化测试，筛选出能在高温、高湿、强电磁干扰环境下稳定运行的“工业级”芯片。其GTFY系统支持STDF数据导出，可无缝对接工厂MES系统，实现良率分析与智能制造。杭州国磊GT600以“高效率、高可靠、低成本”的优势，为国产IIoT芯片的大规模量产提供强大引擎，助力中国智造走向全球。专业的技术支持团队，为您提供周到的服务。杭州国磊GEN3测试系统定制

国磊GT600测试系统只需通过“配置升级”和“方案打包”，就能快速适配Chiplet的复杂测试需求。南京CAF测试系统哪家好

杭州国磊GT600提供高达128M的向量存储深度，相当于可存储1.28亿个测试步骤，这是保障复杂芯片测试完整性的关键。现代SoC的测试程序极为庞大，如AI芯片运行ResNet-50模型推理、手机SoC执行多任务调度、通信芯片处理完整5G协议栈，这些测试序列动辄数百万甚至上千万向量。若向量深度不足，测试机需频繁从硬盘加载数据，导致测试中断、效率骤降。杭州国磊GT600的128M深度可将整个测试程序一次性载入内存，实现“全速连续运行”，避免性能瓶颈。在工程调试阶段，长向量也便于复现偶发性失效。对于需要长时间稳定性测试的车规芯片，128M空间可容纳老化测试的完整循环序列。这一参数确保杭州国磊GT600能应对未来更复杂的芯片验证需求。南京CAF测试系统哪家好