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测试系统基本参数
  • 品牌
  • 国磊
  • 型号
  • 齐全
测试系统企业商机

集成PPMU与动态电流监测——赋能“每瓦特算力”优化 背景:AI芯片能效比(Performance per Watt)成为核心竞争力,尤其在数据中心“双碳”目标下。每通道集成PPMU,支持nA级静态电流与A级动态电流测量; 可捕获微秒级浪涌电流(Inrush Current)与电压塌陷(Voltage Droop); 支持FVMI/FIMV等模式,绘制功耗-性能曲线。帮助芯片设计团队优化电源完整性(PI)与低功耗策略(如电源门控),打造高能效国产AI芯片。512 Sites并行测试架构——降低量产成本,抢占市场先机。AI芯片年出货量动辄百万级,测试成本直接影响产品竞争力。512站点并行测试能力,使单颗芯片测试成本降低70%以上,测试效率呈指数级提升。为国产AI芯片大规模量产提供“超级测试流水线”,实现“测得快、卖得起、用得稳”。开放软件生态(GTFY + C++ + Visual Studio)——加速AI芯片创新迭代 背景:AI架构快速演进(如存算一体、类脑计算),需高度灵活的测试平台。开放编程环境支持自定义测试逻辑,高校与企业可快速开发新型测试方案。不仅是量产工具,更是科研创新的“开放实验台”,推动中国AI芯片从“跟随”走向“**”。国磊GT600可验证电源门控(PowerGating)开关的漏电控制效果。上海导电阳极丝测试系统现货直发

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    测试数据闭环助力量子芯片协同优化,杭州国磊(Guolei)GT600支持STDF、CSV等格式输出,并具备数据分析与图形化显示功能。这些测试数据可与量子芯片的设计仿真平台联动,形成“测试—反馈—优化”闭环。例如,若某批次控制芯片的相位噪声超标,可反向指导量子比特布局或滤波器设计,提升整体系统相干时间。国产化替代保障量子科技供应链安全量子技术属于国家战略科技力量,其**装备的自主可控至关重要。杭州国磊(Guolei)作为国产**ATE厂商,其GT600系统已实现对国际同类设备(如Advantest、Teradyne)部分功能的替代。在量子科研机构或企业构建本土化测控生态时,采用国产测试平台可降低技术封锁风险,加速从实验室原型到工程化产品的转化。虽然杭州国磊(Guolei)GT600并非直接用于测量量子态或操控量子比特,但作为支撑量子系统“经典侧”电子学的**测试基础设施,它在量子芯片外围电路验证、控制SoC量产、供应链安全等方面具有不可替代的价值。未来,随着“量子-经典混合系统”复杂度提升,高性能SoC测试设备与量子科技的耦合将更加紧密。因此,杭州国磊的SoC测试系统不仅是半导体产业的利器,也正在成为量子科技产业化进程中的一块关键拼图。 国磊GEN测试系统市场价格国磊GT600SoC测试机可以进行低功耗专项测试流程DVFS验证即自动扫描电压与频率组合,评估能效比。

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国磊(Guolei)SoC测试系统,特别是其GT600高性能测试平台,在当前全球半导体产业链高度竞争与地缘***风险加剧的背景下,对保障中国半导体及**制造领域的供应链安全具有战略意义。打破**ATE设备进口依赖 自动测试设备(ATE)是芯片制造后道工序的**装备,长期被美国泰瑞达(Teradyne)、日本爱德万(Advantest)等国际巨头垄断,尤其在高性能SoC、AI芯片、车规芯片测试领域,国产设备几乎空白。国磊GT600实现了400MHz测试速率、2048通道扩展、高精度AWG/TMU等关键技术指标的突破,具备替代进口设备的能力。这***降低了国内晶圆厂、封测厂和芯片设计公司在**测试环节对国外设备的依赖,避免因出口管制、断供或技术封锁导致产线停摆。

环境应力测试兼容性,部分工业或车规级MEMS需在高低温、高湿等环境下工作。国磊(Guolei)GT600支持与温控探针台/分选机联动,通过GPIB/TTL接口实现自动化环境应力筛选(ESS)。其小型化、低功耗设计也便于集成到温箱内部,确保在-40℃~125℃范围内稳定运行,满足AEC-Q100等车规认证要求。国产替代保障MEMS产业链安全 中国是全球比较大的MEMS消费市场,但**MEMS芯片及测试设备长期依赖进口。国磊(Guolei)GT600作为国产高性能ATE,已在部分国内MEMS厂商中部署,用于替代Teradyne J750或Advantest T2000等平台。这不仅降低采购与维护成本,更避免因国际供应链波动影响产能,助力构建“MEMS设计—制造—封装—测试”全链条自主可控生态。虽然国磊SoC测试机不直接测试MEMS的机械结构(如谐振频率、Q值等需**激光多普勒或阻抗分析仪),但它精细覆盖了MEMS产品中占比70%以上的电子功能测试环节。随着MEMS向智能化、集成化、高精度方向发展,其配套SoC/ASIC的复杂度将持续提升,对测试设备的要求也将水涨船高。国磊(Guolei)GT600凭借高精度、高灵活性与国产化优势,正成为支撑中国MEMS产业高质量发展的关键测试基础设施。国磊GT600SoC测试机的10ps分辨率TMU可用于验证先进节点下更严格的时序窗口,如快速唤醒与电源切换延迟。

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杭州国磊GT600 SoC测试机凭借其面向AI芯片特性的高性能参数和灵活架构,精细契合当前人工智能产业爆发式发展的**需求。高测试速率(100/400 MHz)——支撑AI芯片高速接口验证,AI芯片(如GPU、NPU、AI加速器)普遍集成HBM3/HBM3E、PCIe Gen5、SerDes等高速接口,数据传输速率高达数Gbps。400 MHz测试速率可完整覆盖AI SoC中高速I/O的功能与时序验证,确保在真实工作频率下稳定运行。随着大模型训练对带宽需求激增,国产AI芯片亟需高效验证平台,GT600成为打通“设计—验证—量产”闭环的关键工具。GT600通过多SMU同步控制与TMU测量,验证各域电压建立时间符合设计时序否。若顺序错,可能闩锁或功能异常。广东导电阳极丝测试系统定制

国磊GT600每通道集成PPMU,支持nA级电流分辨率,可精确测量SoC在睡眠、深度睡眠(或关断模式下静态漏电流。上海导电阳极丝测试系统现货直发

 PPMU功能实现每引脚**电源管理测试 智能驾驶SoC通常包含多个电源域,以实现动态功耗管理。杭州国磊GT600每通道集成PPMU(每引脚参数测量单元),支持FIMV/FIMI/FVMI/FVMV四种工作模式,可**控制每个引脚的电压施加与电流测量。这一能力对于验证芯片在低功耗休眠、唤醒切换、电压骤降等场景下的行为至关重要。例如,在模拟车辆启动瞬间电源波动时,GT600可精确监测各电源域的电流响应,确保SoC不会因电源异常导致功能失效或安全风险。上海导电阳极丝测试系统现货直发

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每通道PPMU:芯片健康的“精密听诊器” 。杭州国磊GT600的每通道集成PPMU(参数测量单元),是其高精度测试的**。PPMU可在FVMI(强制电压测电流)模式下,精确测量nA级静态漏电流(Iddq),相当于检测每秒流过数亿个电子的微小电流。在手机芯片测试中,这能识别因工艺缺陷导致的“待机耗电”问题,确保续航达标。在FIMV(强制电流测电压)模式下,可验证电源调整率,防止芯片在高负载下电压跌落导致死机。PPMU还支持快速哨兵测试(Quick Sentinel),在毫秒内完成所有引脚的开路/短路检测,大幅提升初筛效率。对于AI芯片,PPMU可逐核测量功耗,筛选出“能效比较好”**。这一“每引...

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