杭州国磊GT600提供高达128M的向量存储深度,相当于可存储1.28亿个测试步骤,这是保障复杂芯片测试完整性的关键。现代SoC的测试程序极为庞大,如AI芯片运行ResNet-50模型推理、手机SoC执行多任务调度、通信芯片处理完整5G协议栈,这些测试序列动辄数百万甚至上千万向量。若向量深度不足,测试机需频繁从硬盘加载数据,导致测试中断、效率骤降。杭州国磊GT600的128M深度可将整个测试程序一次性载入内存,实现“全速连续运行”,避免性能瓶颈。在工程调试阶段,长向量也便于复现偶发性失效。对于需要长时间稳定性测试的车规芯片,128M空间可容纳老化测试的完整循环序列。这一参数确保杭州国磊GT600能应对未来更复杂的芯片验证需求。国磊GT600SoC测试机尤其适用于高引脚数、高集成度、混合信号特征明显的先进芯片。浙江CAF测试系统现货直发

支持复杂测试向量导入,加速算法验证闭环 智能驾驶芯片的**价值在于其内置的AI推理引擎能否准确执行感知与决策算法。杭州国磊GT600支持从其他测试平台导入测试程序与向量,并兼容STDF、CSV、Excel等多种数据格式,便于将仿真环境中的算法测试用例直接转化为ATE(自动测试设备)可执行的测试向量。例如,可在GT600上加载真实道路场景下的图像识别或目标检测激励序列,验证NPU在极限负载下的响应正确性与时延表现,从而构建“算法—芯片—测试”一体化验证闭环。苏州CAF测试系统参考价国磊GT600可选ALPG功能,生成地址/数据序列,用于测试集成了EEPROM或配置寄存器的模拟前端(AFE)芯片。

低温CMOS芯片的常温预筛与参数表征许多用于量子计算的控制芯片需在毫开尔文温度下工作,但其制造仍基于标准CMOS工艺。在封装并送入稀释制冷机前,必须通过常温下的严格电性测试进行预筛选。杭州国磊(Guolei)GT600支持每引脚PPMU(参数测量单元)和可编程浮动电源(),能精确测量微弱电流、漏电及阈值电压漂移等关键参数,有效剔除早期失效器件,避免昂贵的低温测试资源浪费。量子测控SoC的量产验证平台随着量子计算机向百比特以上规模演进,集成化“量子测控SoC”成为趋势(如Intel的HorseRidge芯片)。这类芯片集成了多通道微波信号调制、频率合成、反馈控制等功能,结构复杂度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行测试能力、128M向量深度及400MHz测试速率,完全可满足此类**SoC在工程验证与小批量量产阶段的功能覆盖与性能分bin需求。
低温CMOS芯片的常温预筛与参数表征。许多用于量子计算的控制芯片需在毫开尔文温度下工作,但其制造仍基于标准CMOS工艺。在封装并送入稀释制冷机前,必须通过常温下的严格电性测试进行预筛选。国磊(Guolei)GT600支持每引脚PPMU(参数测量单元)和可编程浮动电源(-2.5V~7V),能精确测量微弱电流、漏电及阈值电压漂移等关键参数,有效剔除早期失效器件,避免昂贵的低温测试资源浪费。量子测控SoC的量产验证平台 随着量子计算机向百比特以上规模演进,集成化“量子测控SoC”成为趋势(如Intel的Horse Ridge芯片)。这类芯片集成了多通道微波信号调制、频率合成、反馈控制等功能,结构复杂度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行测试能力、128M向量深度及400MHz测试速率,完全可满足此类**SoC在工程验证与小批量量产阶段的功能覆盖与性能分bin需求。GM8800系统性能稳定,操作便捷,极大地满足客户需求。

高速数字接口验证保障系统集成,**MEMSIMU(如用于AR/VR或自动驾驶)常集成SPI/QSPI接口,速率可达50MHz以上。国磊(Guolei)GT600支持400MHz测试速率和100ps边沿精度,不仅能验证数字协议合规性,还可进行眼图分析、抖动测试和建立/保持时间检查,确保MEMS模块在高速数据交互中不失效,避免因接口时序问题导致系统崩溃。并行测试提升MEMS量产效率 消费级MEMS芯片(如手机中的六轴传感器)年出货量达数亿颗,对测试成本极其敏感。国磊(Guolei)GT600支持比较高512 Sites并行测试,可在单次测试中同时验证数百颗MEMS-ASIC芯片,大幅降低单颗测试时间与成本。结合其向量存储深度(比较高128M)和ALPG(自动逻辑图形生成)功能,可高效覆盖复杂校准算法(如六点温度补偿)的测试流程。国磊GT600SoC测试机边沿精度(EPA)达100ps,确保HBM高速信号建立/保持时间(Setup/Hold)的精确测量。湖州导电阳极丝测试系统参考价
国磊GT600可用于测量电源上电时序(PowerSequencing),确保多域电源按正确顺序激发,避免闩锁效应。浙江CAF测试系统现货直发
车规级MEMS传感器包括用于ESP车身稳定系统的高g加速度计、发动机歧管压力传感器等,需满足AEC-Q100认证。杭州国磊(Guolei)支持点:支持-40℃~125℃环境应力测试(通过GPIB/TTL对接温箱);高可靠性测试流程(如HAST、HTOL前后的参数对比);数据自动记录为STDF格式,便于车厂追溯与良率分析;每引脚PPMU检测早期失效(如漏电流异常)。生物医疗MEMS如植入式压力传感器、微流控芯片控制器,对低功耗与长期稳定性要求极高。杭州国磊(Guolei)支持点:nA级静态电流测量(PPMU);**噪声激励与采集,避免干扰生物信号;支持长期老化测试中的周期性参数回读。杭州国磊(Guolei)SoC测试系统不直接测试MEMS的机械或物理特性(如谐振频率、Q值、位移等),但***覆盖MEMS产品中不可或缺的电子控制与信号处理部分——即配套ASIC/SoC的功能、性能与可靠性验证。在消费电子、汽车电子、工业物联网和新兴智能硬件领域,杭州国磊(Guolei)GT600已成为国产MEMS厂商实现高精度、高效率、低成本、自主可控测试的重要平台,有力支撑中国MEMS产业链从“制造”向“智造”升级。 浙江CAF测试系统现货直发
灵活的板卡配置适配多样化智能驾驶芯片架构 当前智能驾驶SoC厂商采用异构计算架构,不同厂商在I/O电压、功耗、接口协议等方面存在***差异。杭州国磊GT600提供16个通用插槽,支持数字、模拟及混合信号板卡任意组合,并兼容多种VI浮动电源板卡(如GT-DPSMV08支持-2.5V~7V、1A输出)。这种高度模块化的设计使测试平台能快速适配英伟达Orin、地平线征程、黑芝麻华山等不同架构芯片的测试需求,无需为每款芯片重新开发整套测试硬件,***提升测试系统的复用率与投资回报率。国磊GT600SoC测试机高密度集成设计降低系统体积与功耗,适配高通道数HBM测试的紧凑型测试台架部署。国产替代CAF测...