常州CAF测试系统研发

科研创新的“开放平台” 在高校与科研院所，芯片研发需要高度灵活的测试环境。杭州国磊GT600的开放式GTFY系统支持C++/Python编程，研究人员可自由开发测试算法，验证新型架构（如存算一体、类脑芯片）。其16个通用插槽可接入自研测试板卡，实现定制化测量。128M向量深度支持复杂实验程序运行，避免频繁加载。杭州国磊GT600还支持探针台接口，便于对晶圆上裸片进行特性表征。在国产芯片从“模仿”到“创新”的转型中，杭州国磊GT600不仅是量产工具，更是科研探索的“开放实验台”，为下一代半导体技术的突破提供关键支持。国磊GT600可以通过唤醒延迟测试即测量从低功耗模式到激发状态的响应时间，适用于可穿戴、IoT芯片。常州CAF测试系统研发

杭州国磊以GT600为支点，正从区域企业成长为全国性半导体测试解决方案提供商。依托杭州“数字经济***城”的产业势能，GT600已服务于长三角多家AI芯片设计公司，并逐步向粤港澳、成渝等集成电路集群拓展。未来，随着中国AI芯片出海加速，GT600凭借高性价比与本地化服务优势，有望进入东南亚、中东等新兴市场。在乌镇互联网大会倡导“构建网络空间命运共同体”的背景下，GT600不仅是中国技术自主的象征，更是向世界输出“安全、高效、普惠”测试标准的载体，彰显中国硬科技企业的全球担当。国磊高阻测试系统供应国磊GT600虽不是专为Chiplet设计，但其“模块化、高性能多物理场集成”的架构具备服务Chiplet测试的能力。

适配多元化国产芯片架构 中国芯片产业呈现百花齐放态势：RISC-V CPU、存算一体AI芯片、光子集成芯片、量子控制SoC等新型架构层出不穷。这些芯片往往具有非标I/O、特殊电源域或混合信号需求。国磊（Guolei）GT600的16个通用插槽、多种VI浮动电源板卡（如-2.5V~7V）、每引脚PPMU及可选配的高精度模拟板卡，使其能灵活适配各类异构芯片的测试需求，避免因测试平台僵化而制约创新芯片的发展，从而维护技术路线的多样性与供应链的抗风险能力。保障关键领域芯片供应安全 在**、航空航天、智能电网、轨道交通、新能源汽车等关乎国计民生的关键领域，芯片供应链安全直接关系**。国磊（Guolei）GT600已应用于**AD/DA、显示驱动、MCU等芯片测试，未来可进一步拓展至安全加密芯片、高可靠通信芯片等领域。通过部署国产测试设备，这些敏感芯片的测试数据、良率信息、失效模式等**知识产权得以保留在境内，杜绝信息泄露风险。

智能驾驶对高性能SoC芯片的依赖日益加深。随着L2+至L4级自动驾驶技术的快速演进，车载计算平台对SoC（系统级芯片）的性能、可靠性与实时性提出了前所未有的高要求。这些SoC通常集成了CPU、GPU、NPU、ISP及**AI加速单元，用于处理多传感器融合、路径规划与决策控制等复杂任务。然而，如此复杂的芯片架构对测试环节构成了巨大挑战。杭州国磊GT600 SoC测试机凭借高达400 MHz的测试速率、512至2048个数字通道以及每通道高达128M的向量存储深度，能够高效覆盖智能驾驶SoC在功能验证阶段所需的高并发、高精度测试场景，为芯片从设计到量产提供坚实保障。国磊GT600SoC测试机尤其适用于高引脚数、高集成度、混合信号特征明显的先进芯片。

    MEMS麦克风消费电子中***采用的数字/模拟MEMS麦克风，内部包含声学传感MEMS结构与低噪声前置放大器ASIC。关键指标包括灵敏度、信噪比（SNR）、总谐波失真（THD）和AOP（声学过载点）。杭州国磊（Guolei）支持点：GT-AWGLP02AWG板卡生成纯净1kHz正弦激励（THD<-122dB）；高分辨率Digitizer采集输出信号，计算SNR与THD；支持I²S/PDM等数字音频接口协议测试；可进行多颗麦克风并行测试（512Sites），满足手机厂商大批量需求。压力传感器（气压/差压/***压力）用于可穿戴健康监测（如血氧估算）、汽车胎压监测（TPMS）、工业过程控制等。其ASIC需处理pF级电容变化，并具备温度补偿与校准功能。杭州国磊（Guolei）支持点：PPMU施加精确偏置电压并测量微安级工作电流；AWG模拟不同压力对应的电容激励信号；Digitizer采集校准后数字输出（如I²C读数），验证线性度与零点漂移；支持高低温环境下的参数漂移测试（配合温控分选机）。 国磊GT600通过可扩展的硬件架构、高精度模拟测量能力和开放软件平台，为各高jiSoC提供定制测试方案。国产替代GEN测试系统供应商

国磊GT600SoC测试机支持C++编程与VisualStudio开发环境，便于实现HBM协议定制化测试算法。常州CAF测试系统研发

每通道PPMU：芯片健康的“精密听诊器” 。杭州国磊GT600的每通道集成PPMU（参数测量单元），是其高精度测试的**。PPMU可在FVMI（强制电压测电流）模式下，精确测量nA级静态漏电流（Iddq），相当于检测每秒流过数亿个电子的微小电流。在手机芯片测试中，这能识别因工艺缺陷导致的“待机耗电”问题，确保续航达标。在FIMV（强制电流测电压）模式下，可验证电源调整率，防止芯片在高负载下电压跌落导致死机。PPMU还支持快速哨兵测试（Quick Sentinel），在毫秒内完成所有引脚的开路/短路检测，大幅提升初筛效率。对于AI芯片，PPMU可逐核测量功耗，筛选出“能效比较好”**。这一“每引脚级”测量能力，让杭州国磊GT600成为芯片可靠性的“***守门人”。常州CAF测试系统研发