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AI大模型芯片的“算力守门人” 在AI大模型驱动算力**的***，国产AI芯片（如寒武纪、壁仞）正加速替代英伟达GPU。然而，这些芯片内部集成了数千个AI**与高速互联总线，其功能复杂度与功耗控制要求极高。杭州国磊GT600 SoC测试机凭借400MHz测试速率与128M向量深度，可完整运行复杂的AI推理算法测试向量，验证NPU在真实负载下的计算精度与吞吐能力。其高精度PPMU能精确测量芯片在待机、轻载、满载等多场景下的动态电流，确保“每瓦特算力”达标。同时，杭州国磊GT600支持512站点并行测试，大幅提升量产效率，降低单颗芯片测试成本，为AI芯片大规模部署数据中心提供坚实支撑。可以说，杭州国磊GT600不仅是AI芯片的“质检员”，更是其从实验室走向万卡集群的“量产加速器”。国磊GT600支持循环执行睡眠-唤醒测试，实时采集功耗数据并自动生成报告，提升测试效率与可重复性。GEN测试系统生产厂家

杭州国磊GT600支持比较高400MHz测试速率，意味着每秒可执行4亿次信号激励与采样，这是验证现代高速SoC的基石。在智能手机场景中，麒麟芯片的LPDDR5内存接口、PCIe 4.0存储总线、USB4高速传输均工作在GHz级频率。GT600的400MHz速率虽非直接运行在接口全速，但足以覆盖其协议层的功能测试与时序验证。通过“降频测试+向量仿真”，GT600能精确捕捉信号边沿、验证数据完整性。在AI芯片测试中，该速率可驱动NPU**进行高吞吐矩阵运算测试，确保算力达标。400MHz还支持复杂状态机跳转、多模块协同仿真，避免因测试速率不足导致功能覆盖缺失。这一参数使GT600能胜任从5G通信到边缘计算的各类高速芯片验证，成为国产**SoC量产的“***道高速关卡”。深圳绝缘电阻测试系统供应国磊GT600的SMU覆盖从高压IO（3.3V）到低电压he心（0.6V~1.2V）的多种电源域，适配不同节点供电要求。

低温CMOS芯片的常温预筛与参数表征。许多用于量子计算的控制芯片需在毫开尔文温度下工作，但其制造仍基于标准CMOS工艺。在封装并送入稀释制冷机前，必须通过常温下的严格电性测试进行预筛选。国磊（Guolei）GT600支持每引脚PPMU（参数测量单元）和可编程浮动电源（-2.5V~7V），能精确测量微弱电流、漏电及阈值电压漂移等关键参数，有效剔除早期失效器件，避免昂贵的低温测试资源浪费。量子测控SoC的量产验证平台 随着量子计算机向百比特以上规模演进，集成化“量子测控SoC”成为趋势（如Intel的Horse Ridge芯片）。这类芯片集成了多通道微波信号调制、频率合成、反馈控制等功能，结构复杂度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行测试能力、128M向量深度及400MHz测试速率，完全可满足此类**SoC在工程验证与小批量量产阶段的功能覆盖与性能分bin需求。

杭州国磊GT600提供512个数字通道，并可扩展至2048通道，配合16个通用插槽，构建了高度灵活的硬件架构。在测试一颗引脚数超500的手机SoC时，512通道可完全覆盖其I/O需求，无需复用或分时测试，确保信号同步性。16个插槽支持自由组合数字板卡、模拟板卡（AWG/TMU）、电源板卡（DPS/SMU），实现“数字+模拟+混合信号”一体化测试。例如，测试智能座舱芯片时，部分插槽配置为高速数字通道测试CPU逻辑，另一部分接入AWG生成音频信号测试DAC，再通过TMU测量显示接口时序。这种模块化设计让GT600能像“变形金刚”一样适配不同芯片需求，从低引脚MCU到高集成SoC，一机通测，大幅降低企业设备采购与维护成本。国磊GT600每通道集成PPMU，支持nA级电流分辨率，可精确测量SoC在睡眠、深度睡眠或关断模式下的静态漏电流。

    兼容探针台与分选机，打通晶圆到封装测试链路。智能驾驶芯片需经历晶圆测试（CP）与封装测试（FT）双重验证。杭州国磊GT600支持GPIB、TTL等标准接口，可无缝对接主流探针台与分选机设备，实现从裸片到成品的全流程自动化测试。尤其在高温、低温等车规级应力测试条件下，杭州国磊GT600的小型化、低功耗设计有助于在温控腔体内稳定运行，确保测试数据的一致性与可重复性，为芯片通过AEC-Q100认证提供可靠数据支撑。国产**测试设备助力智能驾驶产业链自主可控在全球半导体供应链紧张与技术封锁背景下，国产高性能测试设备的战略意义凸显。杭州国磊GT600作为国内少有的支持2048通道、400MHz速率的SoC测试机，已获得行业专业客户认可，标志着我国在**ATE领域取得突破。对于智能驾驶这一关乎国家交通安全与科技**的关键赛道，采用国磊GT600不仅可降低对国外测试设备的依赖，更能通过本地化技术支持快速响应芯片厂商的定制需求，加速中国智能驾驶芯片生态的自主化与全球化进程。 国磊GT600支持C++编程与自定义测试流程，便于实现复杂模拟参数的闭环扫描与数据分析。常州CAF测试系统市场价格

国磊GT600支持单一部署的NPU芯片如寒武纪、天玑NPU低功耗状态机、唤醒延迟、静态电流与混合信号接口验证。GEN测试系统生产厂家

Chiplet时代的“互联验证者” Chiplet（芯粒）技术通过将大芯片拆分为小芯片再集成，突破摩尔定律瓶颈，成为先进制程的重要方向。然而，小芯片间的高速互联（如UCIe）对信号完整性、功耗、时序提出极高要求。杭州国磊GT600凭借400MHz测试速率与100ps边沿精度，可精确测量Chiplet间接口的信号延迟与抖动。其高精度SMU可验证微凸块（Micro-bump）的供电稳定性，检测微小电压降。PPMU则用于测量封装后各芯粒的**功耗，确保能效优化。杭州国磊GT600的模块化设计也便于扩展，可针对不同芯粒配置**测试板卡。在Chiplet技术快速发展的***，杭州国磊GT600以高精度互联验证能力，为国产先进封装芯片的可靠性与性能保驾护航。GEN测试系统生产厂家