国磊绝缘电阻测试系统定制

杭州国磊GT600提供512个数字通道，并可扩展至2048通道，配合16个通用插槽，构建了高度灵活的硬件架构。在测试一颗引脚数超500的手机SoC时，512通道可完全覆盖其I/O需求，无需复用或分时测试，确保信号同步性。16个插槽支持自由组合数字板卡、模拟板卡（AWG/TMU）、电源板卡（DPS/SMU），实现“数字+模拟+混合信号”一体化测试。例如，测试智能座舱芯片时，部分插槽配置为高速数字通道测试CPU逻辑，另一部分接入AWG生成音频信号测试DAC，再通过TMU测量显示接口时序。这种模块化设计让GT600能像“变形金刚”一样适配不同芯片需求，从低引脚MCU到高集成SoC，一机通测，大幅降低企业设备采购与维护成本。低功耗SoC应用于物联网、可穿戴设备等高量产场景。国磊GT600支持512Sites并行测试，降低芯片的测试成本。国磊绝缘电阻测试系统定制

随着智能手机进入AI时代，SoC的竞争已从单一CPU性能转向“CPU+GPU+NPU”三位一体的综合算力比拼。Counterpoint数据显示，天玑9000系列凭借在AI能力上的前瞻布局，2024年出货量同比增长60%，预计2025年将再翻一番。这一成就的背后，不**是架构设计的**，更是对NPU（神经网络处理单元）和AI工作负载深度优化的结果。而这类高度集成的AISoC，对测试设备提出了前所未有的挑战：高引脚数、多电源域、复杂时序、低功耗模式、混合信号模块等，均需在量产前完成**验证。国磊GT600测试机正是为此类**手机SoC量身打造的测试平台，具备从功能到参数、从数字到模拟的全栈测试能力。国磊导电阳极丝测试系统定制价格国磊GT600SoC测试机可验证电源门控（PowerGating）开关的漏电控制效果。

智能汽车芯片的“安全卫士” 随着比亚迪、蔚来、小鹏等车企加速自研芯片，车规级MCU、功率半导体需求激增。这些芯片必须通过AEC-Q100等严苛认证，确保在-40℃~150℃极端环境下稳定运行十年以上。杭州国磊GT600凭借每通道PPMU，可精确测量nA级静态漏电流（Iddq），识别因制造缺陷导致的微小漏电，从源头剔除“体质虚弱”的芯片。其浮动SMU电源板卡可模拟车载12V/24V供电系统，验证电源管理单元在电压波动、负载突变下的稳定性，防止“掉电重启”或“逻辑错乱”。杭州国磊GT600还支持高温老化测试（Burn-in）接口，配合温控系统进行早期失效筛选，大幅提升车载芯片的长期可靠性。在“安全至上”的汽车电子领域，杭州国磊GT600以“微电流级检测+真实工况模拟”，为每一程出行筑起安全防线。

    杭州国磊GT600SoC测试机之所以特别适用于高校科研场景，**在于其开放性、灵活性、多功能性与高性价比，完美契合高校在芯片教学、科研探索与原型验证中的独特需求。首先，高度开放的软件生态是科研创新的基础。GT600搭载GTFY软件系统，支持C++编程语言，并兼容VisualStudio等主流开发环境。这意味着高校师生无需依赖封闭的“黑盒子”软件，可自主编写、调试和优化测试程序，灵活实现各类新型芯片架构（如RISC-V、存算一体、类脑计算）的功能验证。这种开放性极大激发了学生的工程实践能力与教师的科研创造力。其次，模块化硬件架构支持多样化实验需求。GT600提供16个通用插槽，可自由混插数字、模拟（AWG/TMU）、电源（SMU/DPS）等板卡，构建从纯数字逻辑到混合信号的完整测试平台。无论是验证一颗自研MCU的GPIO功能，还是测试新型传感器接口的模拟性能，亦或是表征先进工艺下的漏电特性，GT600都能“一机多用”，避免高校重复采购多台**设备，***提升设备利用率。第三，高精度测量能力支撑前沿研究。GT600的PPMU可测nA级电流，TMU时间分辨率达10ps，适用于FinFET、GAA等先进工艺下低功耗器件的特性表征。 国磊GT600SoC测试机AWG/Digitizer支持20/24bit分辨率，满足高精度ADC/DAC类HBM辅助电路测试需求。

现代AI芯片集成度极高，动辄拥有上千引脚，传统测试设备因通道数量不足，往往需分时复用或多轮测试，不仅效率低下，还可能遗漏关键时序问题。杭州国磊GT600比较高支持2048个数字通道，可一次性完成全引脚并行测试，确保高速数据总线、多核NPU互连、HBM内存接口等复杂结构的功能完整性与时序一致性。这一能力对寒武纪、壁仞、燧原等国产AI芯片企业尤为重要。在大模型训练芯片追求***带宽与低延迟的***，GT600的高通道密度成为验证真实工作负载下系统稳定性的关键工具，大幅缩短芯片从流片到量产的周期，助力国产AI算力快速落地数据中心与边缘场景。工艺微缩致亚阈值漏电栅极漏电增加，微小漏电异常缩短电池寿命，GT600快速筛选出“坏芯”，确保量产良率。国磊导电阳极丝测试系统定制价格

导电阳极丝（CAF）现象是导致电路失效的重要原因之一。国磊绝缘电阻测试系统定制

杭州国磊GT600提供高达128M的向量存储深度，相当于可存储1.28亿个测试步骤，这是保障复杂芯片测试完整性的关键。现代SoC的测试程序极为庞大，如AI芯片运行ResNet-50模型推理、手机SoC执行多任务调度、通信芯片处理完整5G协议栈，这些测试序列动辄数百万甚至上千万向量。若向量深度不足，测试机需频繁从硬盘加载数据，导致测试中断、效率骤降。杭州国磊GT600的128M深度可将整个测试程序一次性载入内存，实现“全速连续运行”，避免性能瓶颈。在工程调试阶段，长向量也便于复现偶发性失效。对于需要长时间稳定性测试的车规芯片，128M空间可容纳老化测试的完整循环序列。这一参数确保杭州国磊GT600能应对未来更复杂的芯片验证需求。国磊绝缘电阻测试系统定制