“风华3号”作为全球**支持DICOM高精度灰阶医疗显示的GPU,对模拟输出精度、色彩一致性与时序稳定性要求极为严苛。国磊GT600测试机支持可选配GT-AWGLP02任意波形发生器(THD-122dB,SNR110dB)与高分辨率Digitizer板卡,可用于验证GPU模拟视频输出链路的信号完整性与动态性能。其20/24bit分辨率支持对ADC/DAC、PLL、LVDS接口等关键模块的INL、DNL、Jitter等参数进行精确测量,确保医疗显示场景下的灰阶过渡平滑与色彩还原准确。国磊GT600测试机的模块化16插槽架构支持数字、AWG、TMU、SMU板卡混插,实现从GPU**到显示输出的端到端测试闭环。国磊GT600测试系统只需通过“配置升级”和“方案打包”,就能快速适配Chiplet的复杂测试需求。珠海GEN3测试系统批发

杭州国磊GT600提供512个数字通道,并可扩展至2048通道,配合16个通用插槽,构建了高度灵活的硬件架构。在测试一颗引脚数超500的手机SoC时,512通道可完全覆盖其I/O需求,无需复用或分时测试,确保信号同步性。16个插槽支持自由组合数字板卡、模拟板卡(AWG/TMU)、电源板卡(DPS/SMU),实现“数字+模拟+混合信号”一体化测试。例如,测试智能座舱芯片时,部分插槽配置为高速数字通道测试CPU逻辑,另一部分接入AWG生成音频信号测试DAC,再通过TMU测量显示接口时序。这种模块化设计让GT600能像“变形金刚”一样适配不同芯片需求,从低引脚MCU到高集成SoC,一机通测,大幅降低企业设备采购与维护成本。杭州导电阳极丝测试系统按需定制GT600通过高采样率动态电流监测捕获电流波形,若峰值电流超过安全阈值,可判定存在电源设计风险。

高通道密度(512~2048数字通道)——适配复杂AISoC引脚规模,现代AI芯片引脚数常超2000(如集成HBM堆栈、多核NPU、多电源域),传统测试设备通道不足。支持**多2048个数字通道,可一次性完成全引脚并行测试,避免分时复用导致的测试盲区。满足寒武纪、壁仞、华为昇腾等国产AI芯片的高集成度测试需求,助力其快速进入数据中心与边缘计算市场。超大向量深度(**高128M/通道)——实现真实AI负载场景回放,AI推理/训练涉及复杂算法流(如Transformer、CNN),需长时间、高覆盖率的功能验证。128M向量存储深度支持完整运行真实AI工作负载测试向量,捕获边界条件下的功能异常或功耗峰值。不仅验证逻辑功能,更能模拟实际应用场景,提升芯片可靠性,加速客户产品上市周期。
可穿戴设备的“微功耗**” AI眼镜、智能手表等可穿戴设备依赖电池供电,对SoC功耗极其敏感。一颗芯片若待机漏电超标,可能导致设备“一天三充”。杭州国磊GT600的PPMU可精确测量nA级静态电流(Iddq),相当于每秒流过数亿个电子的微小电流,能识别芯片内部的“隐形漏电点”。通过FVMI模式,杭州国磊GT600可在不同电压下测试芯片功耗,验证其电源门控(Power Gating)与休眠唤醒机制是否有效。其高精度测量能力确保只有“省电体质”的芯片进入量产。同时,杭州国磊GT600支持混合信号测试,可验证传感器融合、语音唤醒等低功耗功能。在追求“轻薄长续航”的可穿戴市场,杭州国磊GT600以“微电流级”检测能力,为国产芯片的用户体验提供底层保障。国磊GT600SoC测试机可通过GPIB/TTL接口同步探针台与分选机,实现HBM集成芯片的CP/FT自动化测试流程。

国磊GT600支持可选配高精度浮动SMU板卡,每块SMU可**输出电压与监测电流。对于具有多个电源域(如VDD_CORE、VDD_IO、VDD_SRAM、VDD_PG)的SoC,GT600可为每个域分配**SMU通道,实现各电源域**上电/断电、不同电压值(如1.8V、1.2V、0.9V)同时施加、防止电源域间相互干扰。现代SoC要求多个电源域按特定顺序上电(如先VDD_IO,后VDD_CORE)以避免闩锁效应。国磊GT600通过GTFY软件系统编程控制各SMU的开启时间,精确设置各域电压的上升延迟(精度达ms级),验证SoC在正确与错误时序下的行为,确保设计符合规范。国磊GT600的SMU和PPMU支持实时监测每个电源域的电流消耗,可用于识别某电源域的异常功耗(如漏电、短路)、分析不同工作模式(运行、睡眠、唤醒)下的域级功耗分布、验证电源门控模块是否有效切断目标域供电。国磊GT600可编程调节各电源域电压(如±5%波动),测试SoC在电压偏移条件下的功能稳定性,评估电源完整性设计余量。对于国磊GT600SMU电压范围外的电源(如高压模拟域),可通过GPIB/TTL接口控制外部源表或电源模块,实现与GT600内部SMU的同步操作,构建完整的多电源域测试系统。国磊GT600SoC测试机支持高达2048个数字通道,满足HBM接口千级I/O引脚的并行测试需求。盐城导电阳极丝测试系统现货直发
GT600可验证谷歌TPU、华为昇腾等定制化AI芯片复杂电源门控网络、多电压域上电时序与高密度I/O功能。珠海GEN3测试系统批发
低功耗SoC在先进工艺下表现出更复杂的漏电行为、更敏感的电源完整性需求、更精细的时序窗口,以及混合信号模块(如PLL、ADC、LDO)的高精度验证要求。传统测试设备往往难以满足这些需求,尤其是在静态电流(IDDQ)、电压裕量测试、动态功耗曲线、唤醒延迟、电源序列控制等关键参数的测量上。此时,国磊GT600测试机的价值凸显。GT600支持每通道PPMU(ParametricPinMonitorUnit),可实现nA级静态电流测量,**捕捉先进工艺下SoC的漏电异常,确保低功耗模式(Sleep/DeepSleep)的有效性。其可选配的高精度浮动SMU板卡支持-2.5V~7V宽电压范围与1A驱动能力,可用于DVFS电压切换测试与电源域上电时序验证。珠海GEN3测试系统批发
每通道PPMU:芯片健康的“精密听诊器” 。杭州国磊GT600的每通道集成PPMU(参数测量单元),是其高精度测试的**。PPMU可在FVMI(强制电压测电流)模式下,精确测量nA级静态漏电流(Iddq),相当于检测每秒流过数亿个电子的微小电流。在手机芯片测试中,这能识别因工艺缺陷导致的“待机耗电”问题,确保续航达标。在FIMV(强制电流测电压)模式下,可验证电源调整率,防止芯片在高负载下电压跌落导致死机。PPMU还支持快速哨兵测试(Quick Sentinel),在毫秒内完成所有引脚的开路/短路检测,大幅提升初筛效率。对于AI芯片,PPMU可逐核测量功耗,筛选出“能效比较好”**。这一“每引...