低功耗SoC在先进工艺下表现出更复杂的漏电行为、更敏感的电源完整性需求、更精细的时序窗口,以及混合信号模块(如PLL、ADC、LDO)的高精度验证要求。传统测试设备往往难以满足这些需求,尤其是在静态电流(IDDQ)、电压裕量测试、动态功耗曲线、唤醒延迟、电源序列控制等关键参数的测量上。此时,国磊GT600测试机的价值凸显。GT600支持每通道PPMU(ParametricPinMonitorUnit),可实现nA级静态电流测量,**捕捉先进工艺下SoC的漏电异常,确保低功耗模式(Sleep/DeepSleep)的有效性。其可选配的高精度浮动SMU板卡支持-2.5V~7V宽电压范围与1A驱动能力,可用于DVFS电压切换测试与电源域上电时序验证。国磊GT600高密度集成设计降低系统体积,适配探针台有限空间下的模拟晶圆测试(CP)应用。深圳PCB测试系统研发公司

高性能GPU的功耗管理直接影响系统稳定性与能效比。“风华3号”支持多级电源域与动态频率调节,要求测试平台具备高精度DC参数测量能力。国磊GT600测试机每通道集成PPMU,支持nA级静态电流(IDDQ)测量,可**识别GPU在待机、低功耗模式下的漏电异常。其可选配高精度浮动SMU板卡,支持-2.5V~7V电压范围与1A驱动能力,可用于DVFS电压切换测试、电源上电时序(PowerSequencing)验证及电源抑制比(PSRR)分析。GT-TMUHA04时间测量单元提供10ps分辨率,可精确测量GPU**唤醒延迟、中断响应时间与时钟同步偏差,确保AI训推与实时渲染任务的时序可靠性。国产SIR测试系统供应商选择GM8800,就是选择了一款多功能的测试平台。

国磊GT600支持可选配高精度浮动SMU板卡,每块SMU可**输出电压与监测电流。对于具有多个电源域(如VDD_CORE、VDD_IO、VDD_SRAM、VDD_PG)的SoC,GT600可为每个域分配**SMU通道,实现各电源域**上电/断电、不同电压值(如1.8V、1.2V、0.9V)同时施加、防止电源域间相互干扰。现代SoC要求多个电源域按特定顺序上电(如先VDD_IO,后VDD_CORE)以避免闩锁效应。国磊GT600通过GTFY软件系统编程控制各SMU的开启时间,精确设置各域电压的上升延迟(精度达ms级),验证SoC在正确与错误时序下的行为,确保设计符合规范。国磊GT600的SMU和PPMU支持实时监测每个电源域的电流消耗,可用于识别某电源域的异常功耗(如漏电、短路)、分析不同工作模式(运行、睡眠、唤醒)下的域级功耗分布、验证电源门控模块是否有效切断目标域供电。国磊GT600可编程调节各电源域电压(如±5%波动),测试SoC在电压偏移条件下的功能稳定性,评估电源完整性设计余量。对于国磊GT600SMU电压范围外的电源(如高压模拟域),可通过GPIB/TTL接口控制外部源表或电源模块,实现与GT600内部SMU的同步操作,构建完整的多电源域测试系统。
科研创新的“开放平台” 在高校与科研院所,芯片研发需要高度灵活的测试环境。杭州国磊GT600的开放式GTFY系统支持C++/Python编程,研究人员可自由开发测试算法,验证新型架构(如存算一体、类脑芯片)。其16个通用插槽可接入自研测试板卡,实现定制化测量。128M向量深度支持复杂实验程序运行,避免频繁加载。杭州国磊GT600还支持探针台接口,便于对晶圆上裸片进行特性表征。在国产芯片从“模仿”到“创新”的转型中,杭州国磊GT600不仅是量产工具,更是科研探索的“开放实验台”,为下一代半导体技术的突破提供关键支持。国磊GT600虽不是专为Chiplet设计,但其“模块化、高性能多物理场集成”的架构具备服务Chiplet测试的能力。

“风华3号”兼容DirectX、OpenGL、Vulkan等主流图形生态,其图形管线包含顶点处理、光栅化、着色器执行等复杂阶段,测试需覆盖多种渲染模式与状态转换。国磊GT600测试机支持C++编程与VisualStudio开发环境,便于实现定制化图形功能测试算法,如Shader指令序列验证、Z-Buffer精度测试、纹理映射完整性检查等。其128M向量响应存储深度可捕获长周期图形输出行为,支持对帧率稳定性、画面撕裂等异常进行回溯分析。国磊GT600测试机还支持STDF、CSV等标准数据格式输出,便于良率追踪与测试数据与EDA仿真结果的对比验证。长时间稳定运行,支持1–1000小时持续测试,可靠性高。广东GEN测试系统批发
国磊GT600可选ALPG功能,生成地址/数据序列,用于测试集成了EEPROM或配置寄存器的模拟前端(AFE)芯片。深圳PCB测试系统研发公司
可选AWG/TMU/Digitizer:混合信号的“全能工具箱” 杭州国磊GT600支持选配AWG(任意波形发生器)、TMU(时间测量单元)和Digitizer(数字化仪),使其从“数字测试机”升级为“混合信号测试平台”。AWG可生成正弦波、三角波、噪声等任意波形,用于测试手机SoC的ISP图像处理、音频编解码性能,THD低至-122dB,信号纯净度媲美**仪器。TMU具备10ps时间分辨率,可精确测量5G基带信号的抖动与延迟,保障通信质量。Digitizer则能高速采样模拟信号,用于验证传感器接口、电源纹波等。在测试一颗集成了摄像头、麦克风、蓝牙的IoT芯片时,杭州国磊GT600可同时激励数字逻辑、注入模拟信号、采集响应波形,实现全功能闭环验证。这套“工具箱”让杭州国磊GT600能应对日益复杂的混合信号SoC,无需外接多台设备,节省空间与成本。深圳PCB测试系统研发公司
每通道PPMU:芯片健康的“精密听诊器” 。杭州国磊GT600的每通道集成PPMU(参数测量单元),是其高精度测试的**。PPMU可在FVMI(强制电压测电流)模式下,精确测量nA级静态漏电流(Iddq),相当于检测每秒流过数亿个电子的微小电流。在手机芯片测试中,这能识别因工艺缺陷导致的“待机耗电”问题,确保续航达标。在FIMV(强制电流测电压)模式下,可验证电源调整率,防止芯片在高负载下电压跌落导致死机。PPMU还支持快速哨兵测试(Quick Sentinel),在毫秒内完成所有引脚的开路/短路检测,大幅提升初筛效率。对于AI芯片,PPMU可逐核测量功耗,筛选出“能效比较好”**。这一“每引...