低功耗SoC在先进工艺下表现出更复杂的漏电行为、更敏感的电源完整性需求、更精细的时序窗口,以及混合信号模块(如PLL、ADC、LDO)的高精度验证要求。传统测试设备往往难以满足这些需求,尤其是在静态电流(IDDQ)、电压裕量测试、动态功耗曲线、唤醒延迟、电源序列控制等关键参数的测量上。此时,国磊GT600测试机的价值凸显。GT600支持每通道PPMU(ParametricPinMonitorUnit),可实现nA级静态电流测量,**捕捉先进工艺下SoC的漏电异常,确保低功耗模式(Sleep/DeepSleep)的有效性。其可选配的高精度浮动SMU板卡支持-2.5V~7V宽电压范围与1A驱动能力,可用于DVFS电压切换测试与电源域上电时序验证。国磊GT600SoC测试机高精度浮动SMU板卡可实现HBM接口电源域的电压裕量(VoltageMargining)与功耗测试。常州CAF测试系统参考价

HBM的集成不****是带宽提升,更带来了复杂的混合信号测试挑战。SoC与HBM之间的信号完整性、电源噪声、时序对齐(Skew)等问题,直接影响芯片性能与稳定性。国磊GT600测试机凭借其模块化设计,支持AWG、TMU、SMU、Digitizer等高精度模拟板卡,实现“数字+模拟”一体化测试。例如,通过GT-TMUHA04(10ps分辨率)精确测量HBM接口时序偏差,利用GT-AWGLP02(-122dBTHD)生成纯净激励信号,**验证高速SerDes性能。GT600将复杂问题系统化解决,为HBM集成芯片提供从DC参数到高频信号的**测试保障,确保每一颗芯片都经得起AI时代的严苛考验。金门高阻测试系统定制完善的售后服务,解决您的后顾之忧。

国磊半导体GM8800多通道绝缘电阻测试系统是专为苛刻的可靠性测试环境而设计的精密仪器。该系统以16通道为模块,可灵活堆叠至256通道,实现大规模、高效率的绝缘电阻监测,其测量范围宽广(10^4~10^14Ω),精度在不同阻值区间均得到严格控制,能够满足从普通电子元件到特种绝缘材料的高阻测试需求。GM8800提供精确且稳定的电压激励源,内置0V~±100V,外接高达3000V,电压输出精度高,步进调节细腻,并具备快速的电压建立能力,确保测试应力施加的准确性和一致性。系统支持用户自定义测试间隔(1~600分钟)和总测试时间(1~9999小时),并集成实时环境监测与多维度安全报警功能(包括低阻、测试中断、温湿度异常、电压超限、AC电源故障、软件异常等),可选配UPS提供断电保护。其智能软件系统集控制、采集、分析、远程监控于一体,操作直观,功能***。相较于传统的进口设备如英国GEN3,GM8800在提供同等前列测量性能的同时,***降低了设备的综合拥有成本,并且凭借本地化的研发与支持团队,能够提供更快速、更贴近用户实际应用需求的技术服务与解决方案,广泛应用于新能源汽车、光伏储能、通信设备、航空航天等领域的绝缘可靠性验证与质量保证活动。
对国产车而言,其自研车规级MCU(微控制器)与功率半导体是智能汽车“大脑”与“肌肉”的**,必须通过AEC-Q100、AEC-Q101等汽车行业**严苛的可靠性认证,确保在-40℃~150℃极端温度、高湿、强振动、长期高负载等恶劣环境下仍能稳定运行十年以上。国磊GT600SoC测试机正是这一“车规级体检”的关键设备。其每通道PPMU(精密参数测量单元)可精细测量nA级静态漏电流(Iddq),识别芯片内部微小缺陷或工艺波动导致的“潜伏性失效”,从源头剔除“体质虚弱”的芯片;同时支持引脚级开路/短路测试,确保封装无瑕疵。更关键的是,国磊GT600可选配浮动SMU电源板卡,能灵活模拟车载12V/24V供电系统,验证MCU在电压波动、负载突变等真实工况下的电源管理能力,防止“掉电重启”或“逻辑错乱”。此外,国磊GT600支持高温老化测试(Burn-in)接口,可配合温控系统进行早期失效筛选,大幅提升车载芯片的长期可靠性。在汽车“缺芯”与“安全至上”的双重背景下,国磊GT600可以为国产车构建从研发到量产的高可靠测试闭环,守护每一程出行安全。 国磊GT600SoC测试机可以进行电源抑制比(PSRR)测试即在电源上叠加交流信号,测量输出端的噪声响应。

AI眼镜的轻量化设计要求SoC具备极高的功能密度与能效比,其内部状态机复杂,需支持多种低功耗模式(如DeepSleep、Standby)与快速唤醒机制。GT600的GT-TMUHA04时间测量单元提供10ps分辨率与0.1%测量精度,可精确测量SoC从休眠到**的响应延迟,确保用户语音唤醒、手势触发等交互的实时性。其32/64/128M向量存储深度支持复杂状态机序列测试,覆盖AI推理、传感器融合、无线传输等多任务并发场景。国磊GT600测试机支持C++编程与VisualStudio开发环境,便于实现定制化低功耗测试流程,如周期性唤醒、事件驱动中断等典型AI眼镜工作模式的自动化验证。国磊GT600SoC测试机通过PPMU测量芯片在不同电源域下的静态电流,精度达nA级,适用于低功耗模式验证。金门导电阳极丝测试系统厂家直销
国磊GT600每通道集成PPMU,支持nA级电流分辨率,可精确测量SoC在睡眠、深度睡眠或关断模式下的静态漏电流。常州CAF测试系统参考价
“风华3号”的推出标志着国产全功能GPU在大模型训练、科学计算与重度渲染领域实现从0到1的突破。其集成RISC-VCPU与CUDA兼容GPU架构,支持PyTorch、CUDA、Triton等主流AI生态,对芯片功能复杂度、接口带宽与时序精度提出了极高要求。此类高性能GPU通常具备数千个逻辑引脚、多电源域、高速SerDes接口及复杂状态机,传统测试设备难以完成**验证。国磊GT600测试机支持**2048个数字通道与400MHz测试速率,可完整覆盖“风华3号”类GPU的高引脚数、高速功能测试需求。其32/64/128M向量存储深度支持复杂计算指令序列的Pattern加载,确保GPU**、NPU单元及RISC-V子系统的功能正确性。常州CAF测试系统参考价
每通道PPMU:芯片健康的“精密听诊器” 。杭州国磊GT600的每通道集成PPMU(参数测量单元),是其高精度测试的**。PPMU可在FVMI(强制电压测电流)模式下,精确测量nA级静态漏电流(Iddq),相当于检测每秒流过数亿个电子的微小电流。在手机芯片测试中,这能识别因工艺缺陷导致的“待机耗电”问题,确保续航达标。在FIMV(强制电流测电压)模式下,可验证电源调整率,防止芯片在高负载下电压跌落导致死机。PPMU还支持快速哨兵测试(Quick Sentinel),在毫秒内完成所有引脚的开路/短路检测,大幅提升初筛效率。对于AI芯片,PPMU可逐核测量功耗,筛选出“能效比较好”**。这一“每引...