半导体推拉力测试仪又名键合剪切力推拉力试验机LB-8100A：高可靠性测试设备
创新功能：自动技术：传感器自动识别量程，无需手动切换，测试效率提升40%；垂直定位系统：Z轴采用气浮导轨，垂直度误差<0.01°，确保剪切力测试方向精细；数据追溯系统：内置读写器，自动关联样品批次信息与测试数据，支持ISO 体系要求。应用场景：航空航天领域：测试火箭发动机点火器焊点剪切力，确保极端环境可靠性；汽车电子领域：验证IGBT模块铝线键合强度，满足AEC-Q101标准；军产品测试：检测导弹引信微焊点疲劳寿命，通过GJB 9001C认证。 半导体推拉力测试仪为半导体产业提供精确、高效、可靠的力学测试解决方案。国产半导体推拉力测试仪注意事项
半导体推拉力测试仪满足所有拉力和剪切力测试应用,产品半导体推拉力测试机适用于金球、锡球、芯片、导线、焊接点进行推拉力测试。推拉力测试机是基于力学原理的高精度力学性能测试设备，广泛应用于半导体封装、光电子元器件封装、LED封装、igbt功率模块封装、to封装测试、微电子封装、汽车零部件及航空航天等领域。该设备通过推力、拉力、镊拉力、压力测试模组及多种固定夹具（如钩针、推刀、夹爪），支持破坏性与非破坏性测试模式切换。国产半导体推拉力测试仪注意事项半导体推拉力测试仪具备数据存储与查询功能，方便随时调取历史测试数据对比分析。
半导体推拉力测试仪选择力标，选择可靠伙伴。力标精密半导体推拉力测试仪解决方案，以高精度超越标准、效率行业、数据创造价值为优势，已服务全球超800家客户，包括500强企业、大型国企、行业企业、航天科技等**企业。我们不仅提供一台设备，更承诺：3年投资回报保障：通过良率提升与效率优化，确保客户3年内收回设备成本；持续技术升级：每年推出1次软件功能迭代，2年一次硬件升级，保持技术性；行业生态共建：联合SEMI、JEDEC等机构制定测试标准，推动产业规范化发展。立即联系我们，获取专属测试解决方案，开启半导体质量升级新篇章！
在半导体制造与封装领域，每一个微米级的键合点、每一处焊点的可靠性，都直接决定着终端产品的性能与寿命。随着5G通信、人工智能、新能源汽车等新兴技术的爆发式增长，半导体器件的封装密度与复杂度持续提升，对测试设备的精度、效率与智能化水平提出了严苛要求。作为测力仪器行业的创新者，我们自主研发的半导体推拉力测试仪，以“全场景覆盖、高精度测量、智能化分析”为优势，已成为全球半导体企业提升质量、优化工艺的信赖之选。半导体推拉力测试仪，助力企业提升半导体产品质量与竞争力。
半导体推拉力测试仪所有测试传感器模块均采用垂直位移和定位技术，确保精细可靠的测试状态和精密快速的定位动作。在测试过程中，能够精确控制测试针头与样品的接触位置，避免因定位不准确导致的测试误差。市场上部分同类产品在定位方面可能存在一定偏差，尤其是在测试微小尺寸的半导体元件时，定位不准确可能会影响测试结果的准确性。我们的设备凭借这一技术，能够实现对微小元件的高精度测试，如对0402元件的推力测试，能够准确测量其力学性能，为产品质量控制提供有力支持。半导体推拉力测试仪具备故障自诊断功能，快速定位故障点，便于维修维护。上海xyz半导体推拉力测试仪
半导体推拉力测试仪的测试速度可调节，满足不同测试场景的需求。国产半导体推拉力测试仪注意事项
半导体推拉力测试仪应用领域：覆盖全产业链，赋能场景。半导体推拉力测试仪的应用场景贯穿芯片封装、材料研发、质量检测等产业链关键环节，已成为提升产品竞争力的工具。1.先进封装测试：键合强度与焊点可靠性验证金线/铜线键合测试：满足JEDEC标准，金线键合强度≥3gf/mil，铜线≥4gf/mil，CV值<8%；焊点剪切力测试：支持BGA、CSP、QFN等封装形式，测试速度达500点/小时，数据直连AEC-Q101标准；微间距键合检测：针对<50μm键合点，通过0.1μm级光学定位系统实现精细测试，误判率<0.1%。案例：某头部半导体企业使用推拉力测试仪优化铜线键合工艺后，键合强度均值提升33%，产线良率从92%提升至98.5%。国产半导体推拉力测试仪注意事项
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