企业商机
加热盘基本参数
  • 品牌
  • 无锡国瑞热控
  • 型号
  • 非标定制
  • 类型
  • 元素半导体材料,化合物半导体材料
  • 材质
  • 6061-T6,陶瓷,金属等
  • 产品名称
  • 晶圆加热盘
  • 产地
  • 江苏无锡
  • 厂家
  • 无锡国瑞热控
加热盘企业商机

国瑞热控薄膜沉积**加热盘以精细温控助力半导体涂层质量提升,采用铝合金基体与陶瓷覆层复合结构,表面粗糙度 Ra 控制在 0.08μm 以内,减少薄膜沉积过程中的界面缺陷。加热元件采用螺旋状分布设计,配合均温层优化,使加热面温度均匀性达 ±0.5℃,确保薄膜厚度偏差小于 5%。设备支持温度阶梯式调节功能,可根据沉积材料特性设定多段温度曲线,适配氧化硅、氮化硅等不同薄膜的生长需求。工作温度范围覆盖 100℃至 500℃,升温速率 12℃/ 分钟,且具备快速冷却通道,缩短工艺间隔时间。通过与拓荆科技、北方华创等设备厂商的联合调试,已实现与国产薄膜沉积设备的完美适配,为半导体器件的绝缘层、钝化层制备提供稳定加热环境。密封式设计防潮防尘耐腐蚀,适用于复杂环境特殊气氛。闵行区加热盘生产厂家

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针对化学气相沉积工艺的复杂反应环境,国瑞热控 CVD 电控加热盘以多维技术创新**温控难题。加热盘内置多区域**温控模块,可根据反应腔不同区域需求实现差异化控温,温度调节范围覆盖室温至 600℃,满足各类 CVD 反应的温度窗口要求。采用特种绝缘材料与密封结构设计,能耐受反应腔内部腐蚀性气体侵蚀,同时具备 1500V/1min 的电气强度,无击穿闪络风险。搭配高精度铂电阻传感器,实时测温精度达 ±0.5℃,通过 PID 闭环控制确保温度波动小于 ±1℃,为晶圆表面材料的均匀沉积与性能稳定提供关键保障,适配集成电路制造的规模化生产需求。天津半导体加热盘工业级耐用加热盘,耐腐蚀抗冲击,适应严苛工况,保障生产连续性。

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针对碳化硅衬底生长的高温需求,国瑞热控**加热盘采用多加热器分区布局技术,**温度梯度可控性差的行业难题。加热盘主体选用耐高温石墨基材,表面喷涂碳化硅涂层,在 2200℃高温下仍保持结构稳定,热导率达 180W/mK,适配 PVT 法、TSSG 法等主流生长工艺。内部划分 12 个**温控区域,每个区域控温精度达 ±2℃,通过精细调节温度梯度控制晶体生长速率,助力 8 英寸碳化硅衬底量产。设备配备石墨隔热屏与真空密封结构,在 10⁻⁴Pa 真空环境下无杂质释放,与晶升股份等设备厂商联合调试适配,使衬底生产成本较进口方案降低 30% 以上,为新能源汽车、5G 通信等领域提供**材料支撑。

针对车载半导体高可靠性需求,国瑞热控测试加热盘适配 AEC-Q100 标准。采用**级铝合金基材,通过 - 55℃至 150℃高低温循环测试 5000 次无变形,加热面平整度误差小于 0.03mm。温度调节范围覆盖 - 40℃至 200℃,升降温速率达 30℃/ 分钟,可模拟车载芯片在极端环境下的工作状态。配备 100 组可编程温度曲线,支持持续 1000 小时老化测试,与比亚迪半导体、英飞凌等企业适配,通过温度冲击、湿热循环等可靠性验证,为新能源汽车电控系统提供质量保障。紧凑设计节省空间,输出热量强大均匀,受限环境理想选择。

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国瑞热控封装测试**加热盘聚焦半导体后道工艺需求,采用轻量化铝合金材质,通过精密加工确保加热面平整度误差小于 0.05mm,适配不同尺寸封装器件的测试需求。加热元件采用片状分布设计,热响应速度快,可在 5 分钟内将测试温度稳定在 - 40℃至 150℃之间,满足高低温循环测试、老化测试等场景要求。表面采用防粘涂层处理,减少测试过程中污染物附着,且易于清洁维护。配备可编程温控系统,支持自定义测试温度曲线,可存储 100 组以上测试参数,方便不同型号器件的测试切换。与长电科技、通富微电等封装测试企业合作,适配其自动化测试生产线,为半导体器件可靠性验证提供精细温度环境,助力提升产品良率。表面硬度强化处理,耐磨耐刮擦,保持长期美观实用。闵行区晶圆级陶瓷加热盘定制

重视客户反馈,持续改进产品服务,体验专业贴心。闵行区加热盘生产厂家

针对原子层沉积工艺对温度的严苛要求,国瑞热控 ALD **加热盘采用多分区温控设计,通过仿真优化加热丝布局,确保表面温度分布均匀性符合精密制程标准。设备温度调节范围覆盖室温至 600℃,升温速率可达 25℃/ 分钟,搭配铂电阻传感器实现 ±0.1℃的控温精度,满足 ALD 工艺中前驱体吸附与反应的温度窗口需求。采用氮化铝陶瓷基底与密封结构,在真空环境下无挥发性物质释放,且能抵御反应腔体内腐蚀性气体侵蚀。适配 8 英寸至 12 英寸晶圆规格,通过标准化接口与拓荆、中微等厂商的 ALD 设备无缝兼容,为原子层沉积的高保形性薄膜制备提供保障。闵行区加热盘生产厂家

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