武汉高精度高光谱成像仪生产厂商

Nano HP 标配的数据后处理软件集成专业的几何校正功能，结合高精度 GNSS/IMU 模块提供的位置与姿态数据，能够有效修正飞行过程中产生的几何畸变，提升影像的空间精度。在推扫式成像过程中，无人机的飞行姿态变化、高度波动等因素可能导致影像出现拉伸、倾斜等几何畸变，影响后续的分析与应用。几何校正功能通过算法模型对这些畸变进行修正，让影像能够真实反映地表的空间分布特征。同时，精确的几何校正也为影像拼接提供了良好基础，减少了拼接过程中的错位、重叠等问题，提升了大面积监测区域影像产品的完整性与连贯性。在农林资源调查、城市规划监测等需要大范围影像产品的场景中，几何校正与拼接功能能够快速输出高质量的全景影像，为后续的面积统计、边界划分等分析提供可靠依据。Co-Aligned HP 配备 3*3m 三梯度反射率定标毯，通过相关软件实现批量数据校正。武汉高精度高光谱成像仪生产厂商

Nano HP 配套的三轴稳定云台是其操作便捷性的重要保障，该云台重量不足 0.8kg，采用快拆式结构设计，无需进行复杂的三轴调平操作，通电后即可直接投入使用，极大降低了用户的操作门槛。云台的稳定性经过严格验证，已成功适配大疆 M350、纵横 CW-40 等行业主流的旋翼与固定翼无人机，在不同机型上均能保持稳定的成像效果。其紧凑的结构设计与轻量化特性，让整套设备（含云台）重量控制在 1.8kg 以内，完美适配各类轻小型无人机平台。在野外作业中，用户可快速完成云台与无人机的安装调试，节省大量准备时间；在飞行过程中，三轴稳定功能能够有效抵消无人机的姿态抖动，确保推扫式成像的清晰度与连贯性，为后续数据处理提供高质量的原始影像，充分体现了设备的实用性与便捷性。重庆机器视觉高光谱成像仪厂家直销Nano HP 适合农业长势监测、水体污染调查，数据精度满足行业标准。

Co-Aligned HP 在地质勘探领域具备不可替代的应用优势，其 400-2500nm 的全波段覆盖能够精确捕捉不同矿物、岩石的特征光谱，为高光谱探矿、地质灾害调查、矿物填图等任务提供重要数据支持。在高光谱探矿中，短波红外波段可有效识别金、铜、铁等金属矿物的特征吸收峰，即使是隐伏在地表以下的矿物异常，也能通过光谱差异被精确捕捉；在地质灾害调查中，能够快速识别滑坡、泥石流等灾害体的物质组成与光谱特征，为灾害风险评估与应急响应提供依据；在矿物填图中，可通过全波段光谱数据精确区分不同矿物类型，绘制高精度的矿物分布图。相较于传统的地质勘探手段，Co-Aligned HP 具有快速、高效、非接触式的优势，能够大幅缩短勘探周期、降低人力成本，同时提升勘探结果的精确度，成为地质勘探领域的变革性技术装备。

Co-Aligned HP 采用高度一体化的 Turnkey 解决方案，整体重量 4.0kg，内部集成高光谱成像仪、高精度 GNSS/IMU 模块、嵌入式采集控制模块及 SSD 存储设备，无需用户进行复杂的硬件集成调试。系统配备的三轴稳定云台拆装便捷，支持通电自动调平，可灵活搭载于中小型旋翼无人机、固定翼无人机及无人直升飞机，适配不同作业场景的需求。在数据采集过程中，高光谱数据与姿态信息可同步存储于 SSD 中，确保数据的完整性与时间一致性。用户只需专注于飞行计划制定与后期数据处理，无需投入精力在设备兼容与调试上，大幅降低了操作门槛。此外，系统支持上传 KML 文件并基于地理位置触发采集，进一步提升了作业的精确性与便捷性，尤其适合大规模、高精度的野外作业任务。Co-Aligned HP 基于 Offner 全息光栅技术，杂散光低、热稳定性强，数据质量达科研级标准。

Co-Aligned HP 配备 3*3m 的大尺寸反射率定标毯，该定标毯包含三种梯度反射率标准，为辐射校正提供了精确、可靠的参考依据。辐射校正是高光谱数据处理的重要环节，直接影响数据的定量分析精度，Co-Aligned HP 的定标毯尺寸与梯度设计经过专业优化，能够适应不同光照条件下的校正需求，确保在野外作业中快速完成辐射定标。配合 SpectralView 后处理软件，用户可实现批量辐射校正操作，大幅提升数据处理效率。经过校正后的高光谱数据，辐射精度明显提升，不同批次、不同场景下采集的数据具备良好的可比性，能够满足矿物填图、地质灾害动态监测等对数据一致性要求极高的应用场景。这一专业的辐射校正方案，让 Co-Aligned HP 的输出数据具备更强的科学性与实用性，为后续分析决策提供坚实保障。Co-Aligned HP 重量 4.0kg，一体化 Turnkey 方案无需额外硬件集成。北京机器视觉高光谱成像仪厂家

Nano HP 原始数据含真实光谱信息，经辐射定标可输出辐射亮度数据。武汉高精度高光谱成像仪生产厂商

Co-Aligned HP全波段机载高光谱成像系统集成有VNIR和SWIR两套高光谱成像仪，其中，VNIR 相机(400-1000nm)的感光元件为低功耗，高灵敏度的CMOS传感器，像元尺寸为5.86μm，SWIR相机（900-2500nm）的感光元件为Stirling制冷型MCT传感器，像元尺寸为15μm。而系统的分光光路均基于Headwall公司专项技术——Offner像差校正型凸面全息反射光栅技术，不仅保证了极低杂散光和成像畸变，同时也具有极高的热稳定性和信噪比。Offner反射光栅技术与我国“高分5号”卫星为同源技术，能够为科研用户提供高质量的高光谱成像数据。武汉高精度高光谱成像仪生产厂商