深圳ICT自动化测试治具供应商

导致ICT测试冶具测试不良的原因分析：开路不良（常由探针接触不良所致），开路不良只针对某一短路群而言，例如：短路群：<1，4，10，12>，ICT测试冶具测试出1，10开路不良，表示PCB上测试点1与测试点10之间电阻大于55Ω（或55-85Ω），可以用万用表在PCB上的测试点上进行验证；可能原因：1）测试针坏掉，或针型与待测板上的测试点不适合；2）测试点上有松香等绝缘物品；3）某一元器件漏装、焊接不良、错件等；4）继电器、开关或变阻器的位置有变化；5）PCB上铜箔断裂，或ViaHole与铜箔之间Open。ict检测使用范围广，测量准确性高。深圳ICT自动化测试治具供应商

ICT测试治具SMT组装过程中确保线路板能否按照设计工作：ICT测试治具能够有效地查找在SMT组装过程中发生的各种缺陷和故障，但是它不能够评估整个线路板所组成的系统在时钟速度时的性能。而FCT功能测试架就可以测试整个系统是否能够实现设计目标，它将线路板上的被测单元作为一个功能体，对其提供输人信号，按照功能体的设计要求检测输出信号。这种测试是为了确保线路板能否按照设计要求正常工作。可双面植针，上下模使用进口直线轴承定位，定位精确、耐用；可将各种产品附件放置于治具内部，外表整齐，方便置放于生产线上，底部可掀开，便于维护。重庆ICT自动化测试仪器哪里有卖ICT治具的优点：ICT检查速度比人员快检查快，产量可很大提高。

ICT测试原理：1)跳线测试：跳线是跨接印制板做连线用的，只有通断两种情况。测试其电阻阻值就可以判断好坏。测试方法和测试电阻是相同的。2)IC测试：一般地讲，对IC只测试其引脚是否会有连焊、虚焊的情况，至于IC内部性能如何是无法测试出来的。测试方法是将IC的各引脚对电源VCC引脚的正反向电压测试一遍，再将各引脚对IC接地端GND引脚的正反向电压测试一遍。与正常值进行比较，有不正常的可以判断该引脚连焊或虚焊。有利于提高产品的质量和测试效率。

ICT测试治具的盲点：（就是ICT无法准确测量的零件）1，当小电容与大电容并联时，小电容无法准确测量。2，当小电容与小电阻并联时，小电容无法被准确测量。3，当大电阻与大电容并联时，大电阻无法被准确测量。4，当小电感同二极管并联时，二极管无法准确测量。ICTTest主要是靠测试探针接触PCBlayout出来的测试点来检测，其主要的测试内容有以下几点：1，PCBA的线路开路，短路；2，电阻测试（欧姆定律R=U/I）；3，电容，电感测试：a.恒定交流电压源测电容：交流电压一定Vs，Vs/Ix=Zc=1/2πfCx得：Cx=Ix/2πfVs；b.直流恒定电流源测电容：C=ΔT/ΔV*I；c.交恒定流电流源测电感：Vs/Ix=Zl=2πfLx得Lx=Vs/2πfIx将电感作为跳线测量。4，二极管，三极管测试：a.利用二极管正向导通压降，硅管约0.7V，锗管约0.2V，反向截止电压无穷大特性进行测试；b.对于稳压二极管可以测试其正向导通PN结压降，同时可以测试其反向稳压压降；c.把三极管两个PN结作为两个二极管进行测量。ICT测试治具根据电路板的机械尺寸图，把电路板上面的DIP脚，测试点的位置打孔。

ICT测试原理：1)电感测试：电感的测试方法和电容的测试类似，只用交流信号测试。2)二极管测试：二极管正向测试时，加一正向电流在二极管上，二极管的正向压降为0.7V(硅材料管)，加一反向电流在二极管上，二极管压降会很大。3)三极管测试：三极管分三步测试：先测试bc极和be极之间的正向压降，这和二极管的测试方法相同。再测试三极管的放大作用：在be极加一基极电流，测试ce极之间的电压。例如：b、e极加1mA电流时，c、e之间的电压由原来2V降到0.5V，则三极管处于正常的放大工作状态。对每种单板需制作专属的针床，这个针床在工业生产上就叫它ICT测试治具。南京在线ICT治具哪家好

ICT电阻测试：电阻是测试其阻值。深圳ICT自动化测试治具供应商

导致ICT测试冶具测试不良的原因分析：IC空焊不良（以TestJet测试）测试值偏小，可能原因：1）IC的此脚空焊；2）测试针接触不良；3）从测试点至IC脚之间Open。4）IC此脚的内部不良（可能性极少）；测试值偏大，可能原因：1）有短路现象；2）IC此脚的内部不良（可能性极少）。4．元器件不良，测试值偏差超差比较小，则可能原因：1）器件本身的偏差就这么大；2）ICT测试冶具测试针的接触电阻较大；3）错件、焊接不良、反装。测试值偏差超差比较大，则可能原因：1）器件坏掉；2）测试针坏掉（与该针相连的器件均超差比较大）3）测试点上有松香等绝缘物品；4）PCB上铜箔断裂，或ViaHole与铜箔之间Open。5）错件、漏件、反装；6）器件焊接不良。深圳ICT自动化测试治具供应商