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ICT治具基本参数
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ICT治具企业商机

怎样降低ICT测试治具成本已成为PCB制造商的首要议题。于是改进生产工艺、实行科学化的管理等措施被实行,但是投入在检验方面尤其在电性测试方面的成本却居高不下,其中专门测试治具所投入的成本太高是一重要因素。一、专门治具投入的成本太高。一般HDI板如用专门治具进行设针,皆须设至40#、50#以上,其探针基本无法回收,所以造成一次性投入昂贵的探针成本。以4PCS的HDI手机板为例,一个治具所需成本可能高达上七、八万元,跟一台普通专门测试机之价格相当,这已经无法接受,尤其在制造批量较少或者打样的时候。二、因专门治具探针制作工艺限制,(国内探针制作工艺尚不成熟,进口探针则单价太贵,且采购困难)造成对SMDPAD较密之情况,可能无法设针进行测试。对于高密度PCB专门型治具测试的稳定性无法得到保证。因为较小的探针弹簧压力较小,且容易损坏,以致产生假的OPEN/SHORT。三、专门治具采用插管、打线等工艺,制作和检测都比较复杂,需花费较多人工费用。安装调试的时间长,检修困难。PCBA制作ICT治具注意两被测点或被测点与预钻孔之中心距较好不小于0.050"(1.27mm)。郑州ICT仪器哪家好

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应用扩展:除了ICT测试过程外,类似活动包括四点弯曲测试、电路板子卡或连接器插入过程、分板过程、散热器连接、对电路板的不适当支撑等都会引起电路板过应力失效,这些也可以通过Sherlock的ICT测试模块进行仿真。ICT技术参数:1)测试速度测试一块电路板的较少时间。测试速度与电路板的复杂程度有关。2)测试范围电阻的测试范围:一般0.05Ω~40MΩ;电容的测试范围:一般1pF~40000μF电感的测试范围:一般1μH~40H5)测试电压、电流、频率测试电压一般为0~10V测试电流一般为1μA~80mA频率一般为1Hz~100KHz6)电路板尺寸较大的电路板尺寸一般为460×350mm。南通压床式治具哪里有卖ICT测试治具就是在线检测、测试治具。

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加过电的板子对ICT有机器或者治具有什么直接的影响吗?加过电的板子:比如经过FCT测试后板子,PCBA上都会带有电量(尤其体现在电路板上的大电容)如果直接再次上ICT上测试的话,有可能会出现击穿开关板;所以加过电的板子在做ICT前尽量先对其放电。放电方式:1、通过放电板来放电;2、在设备软件测试步里面加放电步。测试治具可以测试出产品的好坏,电子产品批量进行生产其中必有一些不合格的产品,厂家如需快速的把这些产品挑选出来就需使用到测试治具。电子产品有各种各样的性能,不同的性能测试用到的治具也会不一样。就现在市场看来很多厂家开始使用治具生产线,产品一边生产一边检测很大程度提高了厂家的生产效率。

ICT测试治具,包括测试机构,所述测试机构上设有用于适配安装待测试电路板的容置区间以及与所述待测试电路板相对应的若干探针,通过若干所述探针与待测试电路板接触以进行在线测试,还包括驱动连接于所述测试机构上的盖章装置,所述盖章装置包括雕刻工具以及与所述雕刻工具连接的浮动机构,所述雕刻工具能借助所述浮动机构在设定位置区间内轴向浮动地抵压在待测试电路板上,以对测试后的相应电路板进行标记作业。需要说明的是,该ICT测试治具在使用时,所述测试机构的若干探针是与现有的ICT测试仪相连接的,从而在探针与待测试电路板接触后利用所述ICT测试仪在线测试电路板是否合格。ICT测试治具主要用于检查在线的单个元器件及各电路网络的开、成批量板子,附加值高且定型的板子的测试。

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ICT的测量总误差由以下三项构成:1,机器本身的测量误差;2,通道及接触误差;3,被测对象的误差。根据在工程实践中的经验,对于性能良好的ICT,且针床制作及保养良好的条件下,ICT的测试容许误差的上下限可以设定为:1,精密电阻(1%的标称误差)设为3%至5%;一般电阻(5%的标称误差)设为7%至10%;2,精密电容(5%的标称误差)设为10%-15%;3,一般电容(20%的标称误差)设为25%-30%;电感可在标称误差的基础上再加3%至10%;4,二极管一般设定为30%-50%;5,三极管的饱和压降一般只须比较上限,实际上由标准值决定,上限误差设为1%即可。下限可设为0。因为0即表示不做比较判定,备注:而如果三极管工作于放大状态,我们建议在驱动电流栏上设定其设计的静态电流值,然后测其放大倍数,由于不同的电路对三极管的放大倍数的离散性要求不同,因此,放大倍数的上下限可设范围很大。比较可靠的数据应由试验得出。ICT三极管测试:三极管分三步测试。南通压床式治具哪里有卖

ICT治具的优点:避免在做过电的功能测试时损坏电源部分的元件及IC。郑州ICT仪器哪家好

ICT技术:增加ICT测试点,并定义测试点载荷(力或者位移)。简单的测试点可以根据坐标系手动一个一个加入,如果测试点非常多,可以通过文件导入的形式输入。求解并查看结果,评估由于过应力导致的风险组件。在分析结果基础上,提出改进措施。例如,通过改变测试点位置,减少测试点载荷/位移,增加或移动板支撑,填充灌封胶等方法在Sherlock软件里对电路板设计进行快速迭代设计,以期达到产品测试合格的目标。软件分别通过移动高风险区域的组件U27到合适的位置(10年内失效率大于20%)、增加约束条件(10年内失效率约为5%,达到设计目标)、填充灌封胶(失效率非常低,达到设计目标)的方法来降低产品的失效率。郑州ICT仪器哪家好

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