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ICT治具基本参数
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  • 结构型式
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ICT治具企业商机

ICT治具结构组成与验收标准,一、ICT治具结构组成:1、针板:用于固定测试针。针头是镀金的。2、载板:用于放置保护被测试PCBA。3、天板:固定于ICT机台气缸上压合治具和被测试PCBA。二、ICT治具关键控制点:1、板厚、高度、定位孔高度直径、探针位置、铣让位、挡柱等都需符合设计规范,有计数器用来计算探针测试次数。2、探针的使用规定的型号与厂商一致;上下载板必须用ESD的电木板材质(ESD=107~109Ω,使用SL-030静电测量表量测);各种绕线需按规定用线,通常使用AWG18-AWG22号线,必须加热缩套管,绕线要分散,不能捆绑;testjet感应板要小于零件本体表面面积,但不能小于零件本体的2/3.具体标准以实际零件为准,以测量值较大为较佳。3、ICT的测试内容需覆盖85%以上的电路。ICT电阻测试:电阻是测试其阻值。徐州在线ICT仪器直销厂家

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导致ICT测试冶具测试不良的原因分析:IC空焊不良(以TestJet测试)测试值偏小,可能原因:1)IC的此脚空焊;2)测试针接触不良;3)从测试点至IC脚之间Open。4)IC此脚的内部不良(可能性极少);测试值偏大,可能原因:1)有短路现象;2)IC此脚的内部不良(可能性极少)。4.元器件不良,测试值偏差超差比较小,则可能原因:1)器件本身的偏差就这么大;2)ICT测试冶具测试针的接触电阻较大;3)错件、焊接不良、反装。测试值偏差超差比较大,则可能原因:1)器件坏掉;2)测试针坏掉(与该针相连的器件均超差比较大)3)测试点上有松香等绝缘物品;4)PCB上铜箔断裂,或ViaHole与铜箔之间Open。5)错件、漏件、反装;6)器件焊接不良。ICT仪器供应商ICT测试治具可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试。

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功能测试治具和ICT测试治具的区别是什么你知道吗?测试功能不同,功能测试治具是一种用来测试半成品/成品或生产环节中的某一个工序,主要是对产品的功能进行测试的设备,以此来判断被测对象是否达到了初始设计者目的的机械辅助治具;而ICT测试治具是对在线元器件的性能、原理及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点。较为低端的生产线,一般会通过人工检查;自动化程度较高或者要求较高的生产线会通过图像识别或者ICT进行检测电容是否插反。

加过电的板子对ICT有机器或者治具有什么直接的影响吗?加过电的板子:比如经过FCT测试后板子,PCBA上都会带有电量(尤其体现在电路板上的大电容)如果直接再次上ICT上测试的话,有可能会出现击穿开关板;所以加过电的板子在做ICT前尽量先对其放电。放电方式:1、通过放电板来放电;2、在设备软件测试步里面加放电步。测试治具可以测试出产品的好坏,电子产品批量进行生产其中必有一些不合格的产品,厂家如需快速的把这些产品挑选出来就需使用到测试治具。电子产品有各种各样的性能,不同的性能测试用到的治具也会不一样。就现在市场看来很多厂家开始使用治具生产线,产品一边生产一边检测很大程度提高了厂家的生产效率。现在ICT已可以测试三极管、稳压管、光耦、IC等多种元器件。

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ICT测试治具主要用于组装电路板(PCBA)的测试,在线主要指电子元器件在线路上(或者说在电路上)。在线测试是一种不断开电路,不拆下元器件管脚的测试技术,“在线”反映了ICT重在通过对在线路上的元器件或开短路状态的测试来检测电路板的组装问题。主要测试电路板的开短路、电阻、电容、电感、二极管、三极管、电晶体、IC等元件。ICT测试治具能够准确的定位出产品的好坏,对工艺类可发现如焊锡短路,元件插错、插反、漏装,管脚翘起、虚焊,pcb短路、断线等故障。测试的故障直接定位在具体的元件、器件管脚、网络点上,故障定位准确。对故障的维修不需较多专业知识,采用程序控制的自动化测试,操作简单,测试快捷迅速,单板的测试时间一般在几秒至几十秒,能够直接gerber文件处理生成钻孔文件,保证钻孔精度。测试程式自动生成,避免手工输入出错之可能。ICT测试治具能够先期找出制程不良所在如线路短路、断路、组件漏件、反向、错件、空焊等不良问题。南通ICT自动化测试仪器直销厂家

ICT测试治具能够对二极管、三极管、光藕、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试。徐州在线ICT仪器直销厂家

测试针带动ICT测试冶具的运行吗?随着信息技术时代的发展,而今信息化表示了世界发展的潮流。信息产业不仅推动了全球的经济发展,而且成为科技创新的中心力量。ICT市场前景广阔,那ICT测试治具来说吧:ICT测试冶具是整个ICT设计、流片、应用过程中不可或缺的一环,它不仅可帮助厂商大幅节省测试成本,且测试结果直观可靠。测试针是ICT测试冶具中的重要零件之一,那么它主要起到了什么作用呢?1、增强耐用度:ICT测试冶具测试针设计使弹簧空间比传统探针要大,因而可以达到更长的寿命和容纳更强的弹力。2、独有的一直不间断电接触设计:行程超过或不足2/3其电性接触皆能保持性低阻值,彻底消除任何因探针导致的假性开路误叛。3、至目标测点准确度误差更严谨:ICT测试冶具的测试针能达到同类型产品无法比拟的至目标测点准确度。ICT测试冶具通用性高,只需更换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒;采用超短进口双头探针设计,相比同类测试产品,可使ICT和PCB之间的数据传输距离更短,从而保证测试结果更稳定,频率更高,DDR3系列较高频率可达2000MHz。徐州在线ICT仪器直销厂家

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