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ICT治具企业商机

ICT测试治具中的探针如何选用?通常ICT测试治具的探针有很多的规格,针主要是由三个部份组成:一是针管,主要是以铜合金为材料外面镀金;二是弹簧,主要琴钢线和弹簧钢外面镀金;三是针头,主要是工具钢(SK)镀镍或者镀金,以上三个部分组装成一种探针。选用ICT测试治具探针主要是根据线路板的中心距和被测点的开关而定,PCB板上所要测试的点与点之间越近,选用探针的外径也就越细,国产的探针质量普通还可以的。一般超过0.31含0.31毫米的国产探针都过关,测试次数都可以保证在20万次到15万次左右,虽然尽快产品说是100万次,实际使用的效果也就在这个水平稍高一些而已,国产和进口产品很大的区别是在电镀层的耐磨性,因为针的材料都是进口原料,所以进口和国产差别不大。ICT治具的优点:ICT检查速度比人员快检查快,产量可很大提高。苏州在线检测治具生产批发

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ICT测试治具是ICT测试仪的一种针床,ICT测试仪也叫在线测试仪主要用于组装电路板(PCBA)的测试。这里的“在线”,主要指电子元器件在线路上(或者说在电路上)。在线测试是一种不断开电路,不拆下元器件管脚的测试技术,“在线”反映了ICT重在通过对在线路上的元器件或开短路状态的测试来检测电路板的组装问题。主要测试电路板的开短路、电阻、电容、电感、二极管、三极管、电晶体、IC等,具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点,ICT测试治具可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试,故障覆盖率高,对每种单板需制作专门的针床,这个针床在工业生产上就叫它ICT测试治具。武汉压床式治具价格ICT测试治具能够对二极管、三极管、光藕、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试。

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如何对ICT测试仪的测试针进行保养呢?测试针主要是用于PCB板测试时又分为弹簧针和通用针,弹簧针在使用时,需要根据所测试的PCB板的布线情况制作测试模具,且一般情况下,一个模具只能测试一种PCB板;通用针在使用时,只需有足够的点数即可,故现在很多厂家都在使用通用针;弹簧针根据使用情况又分为PCB板探针、ICT探针、BGA探针,PCB板探针主要用于PCB板测试,ICT探针主要用于插件后的在线测试,BGA探针主要用于BGA封装测试及芯片测试。尺寸按照pad间距定义:50mil75mil100mil125mil这是主要常用的尺寸。测试针顶部外形:尖针开花针圆头针平凸。按照功能分:开关针RF针气针普通针等。ICT测试时经常发生测试针断了的情况,这主要看针是在哪个位置断掉的,如果与针套齐平断掉的,建议从针套尾巴处用退针套的工具反面敲出来,如果针套尾巴断了,建议在正面的针套上焊个比较粗的东西,用大力钳拔出,为了减少这种测试针断了的情况我们应该对其进行保养。

ICT测试治具能够全检出的零件有哪些?ICT测试治具能够在短短的数秒钟内,全检出组装电路板上零件:电阻、电容、电感、电晶体、FET、LED普通二极体、稳压二极体、光藕器、IC等零件,是否在我们设计的规格内运作。测试治具能够在短时间内测试出产品的不良,如组件漏件、反向、错件、空焊、短路等问题,将这些问题以印表机印出测试结果,包括故障位置、零件标准值、测试值,以供维修人员参考。ICT测试治具对技术要求较低,即使对产品不太解,也可以将测试不良的消息进行统计,生产管理人员加以分析,可以找出各种不良的产生原因,包括人为的因素在内,使之各个解决、完善、指正,藉以提升电路板制造及品质能力。自动化程度较高或者要求较高的生产线会通过图像识别或者ICT进行检测电容是否插反。

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怎样降低ICT测试治具成本已成为PCB制造商的首要议题。于是改进生产工艺、实行科学化的管理等措施被实行,但是投入在检验方面尤其在电性测试方面的成本却居高不下,其中专门测试治具所投入的成本太高是一重要因素。一、专门治具投入的成本太高。一般HDI板如用专门治具进行设针,皆须设至40#、50#以上,其探针基本无法回收,所以造成一次性投入昂贵的探针成本。以4PCS的HDI手机板为例,一个治具所需成本可能高达上七、八万元,跟一台普通专门测试机之价格相当,这已经无法接受,尤其在制造批量较少或者打样的时候。二、因专门治具探针制作工艺限制,(国内探针制作工艺尚不成熟,进口探针则单价太贵,且采购困难)造成对SMDPAD较密之情况,可能无法设针进行测试。对于高密度PCB专门型治具测试的稳定性无法得到保证。因为较小的探针弹簧压力较小,且容易损坏,以致产生假的OPEN/SHORT。三、专门治具采用插管、打线等工艺,制作和检测都比较复杂,需花费较多人工费用。安装调试的时间长,检修困难。ICT可以检测线路的开路、短路、可以检测到各种电子元件是否正确贴装。沈阳压床式治具哪里有卖

ict测试治具通常是生产中初道测试工序,能及时反应生产制造状况,利于工艺改进和提升。苏州在线检测治具生产批发

ICT技术:增加ICT测试点,并定义测试点载荷(力或者位移)。简单的测试点可以根据坐标系手动一个一个加入,如果测试点非常多,可以通过文件导入的形式输入。求解并查看结果,评估由于过应力导致的风险组件。在分析结果基础上,提出改进措施。例如,通过改变测试点位置,减少测试点载荷/位移,增加或移动板支撑,填充灌封胶等方法在Sherlock软件里对电路板设计进行快速迭代设计,以期达到产品测试合格的目标。软件分别通过移动高风险区域的组件U27到合适的位置(10年内失效率大于20%)、增加约束条件(10年内失效率约为5%,达到设计目标)、填充灌封胶(失效率非常低,达到设计目标)的方法来降低产品的失效率。苏州在线检测治具生产批发

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