福建X-MET8000手持荧光光谱仪光谱

近年来材料分析领域发生了迅速变化，光学发射光谱（OES），X射线荧光光谱（XRF）和激光诱导击穿光谱（LIBS）等技术的不断发展和应用，使整个金属生产和机加工的公司更容易材料分析。无论是质量保证/质量控制（QA/QC），材料分类，材料可靠性鉴定（PMI）还是科学分析，日立公司都可以提供分析仪器，使您能够在现场和移动中测试材料。许多公司都在问的问题是：哪种技术适合我们？OES，XRF和LIBS都非常通用，特别是在识别金属方面。然而这三种技术中的每一种都以不同的方式工作，并且各有其优点和缺点。此外没有一种光谱仪可以满足从精确的痕量元素分析到合金快速分选以及介于两者之间的所有需求。日立光谱仪拥有出色的人体工学设计，平衡和紧凑的结构，适合长时间工作，坚固而准确的扳机。福建X-MET8000手持荧光光谱仪光谱

在过去的几十年中，诸如镧（La），铈（Ce），（Pr）和钕（Nd）等稀土元素（REE）的使用已***增加。 Oulu矿业学校的地质学家KimmoKärenlampi在其博士学位论文中一直探索在芬兰中部Otanmäki发现的稀土资源。 他一直使用手持式X-MET8000 光谱仪筛查从勘探区收集的岩石样品和实验室规模的采矿加工研究样品的元素组成。筛选结果已用于选择**感兴趣的样品，以进行进一步的处理和分析。X-MET8000 光谱仪可以分析稀土元素，包括Y（钇），Sc（钪），La（镧），Ce（铈），Pr（镨），Nd（钕），以及从矿山和土壤中发现的其他常见元素。 与KimmoKärenlampi博士研究有关的工作表明，利用X-MET 8000光谱仪以合理可靠的方式，可以经济高效地快速分析稀土元素，例如镧，铈，钕，镨和钇。宁德X-MET8000荧光光谱仪光谱日立分析仪器推出的一款用于金属识别的火花光谱仪OE750，能提供在同类OES光谱仪中前所未有的分析水平。

使用手持式X-MET8000光谱仪从金刚石锯片切割的岩石表面进行了代表性的稀土元素分析，以获得每个样品的“标准”表面稀土元素含量，这是获得良好结果所必需的。岩石样品可能非常不均匀，因此化学成分在岩石的不同点上可能变化很大，需要多个测量点来获得代表性的结果。为了验证切割岩石表面的XRF（X射线荧光）结果，在经过认证的实验室中使用ICP-MS（电感耦合等离子体质谱仪）分析了相同的岩石样品，二个结果非常接近。要获得***的总体结果，必须对异质样品进行多次测量。由于岩石基质的异质性，单次测量的变化可能很大，随着测量次数的增加，平均结果的准确性得以提高

FM EXPERT是一款全新直读光谱仪，集***的分析性能和紧凑型设计为一体。其较宽的波长范围使其适用于在金属质量保证和生产工艺控制过程中分析所有相关元素。同时FM EXPERT配备紧凑型CCD光学系统，还可分析低含量氮。FM EXPERT结合了日立已获**的智能光学系统和改良的等离子体视图，确保在整个波长范围内实现***的分析性能，且检出限低。氩气净化光学系统降低了维护周期和运营成本。FM EXPERT的密封氩气系统属于同类产品中出类拔萃的，可提供较佳光学等离子体观测视野、喷射电极技术，确保可靠的氮分析，其检出限为30ppm。FM EXPERT是一款全新直读光谱仪，集分析性能和紧凑型设计为一体。

手持式X射线荧光（HHXRF）是一种众所周知且***使用的快速筛选和分析金属矿石的方法。它为各种采矿样品类型提供快速，准确的现场分析，如钻芯，岩石，岩屑和粉末，结果可在几秒钟内获得，无需等待耗时且昂贵的实验室分析结果，能够在现场做出决定（例如钻井方向）。日立分析仪器的X-MET8000 是一种手持荧光光谱仪，具有多功能性，可用于采矿过程各个阶段的地球化学成分分析，从勘探的早期阶段到***阶段的尾矿废物分析。它易于使用，有助于**减少对实验室分析及其相关成本的需求。日立光谱仪帮助你洞察合金品质，降低检测成本，提高产品品质，管控系统安全。福建X-MET8000荧光光谱仪设备

光谱分析仪操作简单，无需额外的培训。福建X-MET8000手持荧光光谱仪光谱

手持式X-MET光谱仪可以检测出通过肉眼检查工件可能不会发现的需要维护的部件或原材料问题。手持式X-MET光谱仪使生产团队知道在不按规格批量生产产品之前关闭和纠正过程。由于带镀层的炉灶是质量产品，比没有镀层的炉灶要贵数百美元，因此控制镀层的规格是该过程中极为重要的一部分。手持式X-MET光谱仪通过避免过度镀层节约成本和产品无法返工而报废材料的方式，显着降低成本。有助于避免和消除在生产炉灶时造成的重大错误，手持式X-MET光谱仪的成本可在七个十小时的班次中收回。福建X-MET8000手持荧光光谱仪光谱

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