红外测温仪基本参数
  • 产地
  • 德国
  • 品牌
  • DIAS
  • 型号
  • 齐全
  • 是否定制
红外测温仪企业商机

德国DIAS中**双色红外测温仪DSR56NV主要特征•测温范围500~3300°C•线性温度输出0/4~20mA,可切换•集成式显示器、按键和RS485通信接口•激光瞄准或内置彩***瞄准•可选透镜瞄准或取景器•短响应时间5ms性能指标技术数据型号DSR56N、DSR56NV测温范围500~1200°C*600~1400°C**700~1800°C800~2500°C900~3000°C或1000~3300°C子测温范围在测温范围内可调,**小跨度50°C光谱范围0.7μm~1.1μm光学系数固定焦距(250,650,2000,4000)1,**小可测光斑直径为1.3mm距离系数*50:1,**100:1,200:1测量误差20.5%测量值(°C)重复精度20.1%测量值(°C)红外测温仪安全性:根据医疗设备验证,可用以身体温度非接触式测量挑选。锻造加工用红外测温仪价格优惠

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15系列手持式红外测温仪,有多个型号对应不同参数,价格及货期具体请咨询。200~1200℃P15H3双激光手持式红外测温仪便携式测温仪特点:ü温度覆盖:-32~1800℃;ü光学分辨率高达300:1ü小测量目标1mm基本参数环境温度:0~50℃存储温度:-20~85℃(不含电池)相对湿度:10~90%不结露尺寸:207×155×70mm电气参数接口:USB输入:TCK存储数据:2000个激光:IECClass/FDAClass(<1mW)显示:4位背景光LCD显示供电:9V电池电池寿命:10小时(激光+背景光)测量参数:国产红外测温仪性能长波长红外测温仪通常用来测量低于 200℃的目标或特殊介质的测量。

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半导体高温计全球市场规模预计2029年将达到62.1百万美元1.半导体红外测温仪定义半导体温度计是利用半导体元件与温度具有的特性关系构成的温度测量仪表。由热敏电阻、连接导线和显示仪表组成,具有灵敏度高、构造简单和体积小等优点,半导体高温计通常用于测量半导体材料的温度。半导体高温计主要可以分为光学高温计和红外高温计光学高温计(也称为亮度高温计)测量0.4至0.7微米的可见光光谱中的温度,统计中包括光学高温计基础上发展的光电式高温计,高温计在0.655微米的有效波长下校准,可测700℃-3200℃的高温,与红外温度计相比,由不确定的发射率或外来反射光而导致的误差较少。光学高温计用于许多工业应用,以测量非接触式高温测量。红外高温计在0.7至14微米的红外光谱中测量温度,测温范围广阔,从零下几十度的低温到3000度的高温均可测得。红外高温计使用光学装置对准物体某一点并测定该点温度。现在高温计的典型光谱响应位于近、中和长红外区。

3、短波和长波红外实际测量效果比较这是德国DIAS红外公司做的测试,测量同一个电热塞或预热塞(GlowPlug)时做的热像仪测试,测试的红外热像仪如下:长波红外热像仪PYROVIEW640Lcompact+(-20~1200°C)短波红外热像仪PYROVIEW512Ncompact+(600~1500°C)采用相同的发射率、透过率。测量结果比较可见:短波红外热像仪测量的最高温度是960°C,而长波红外热像仪测量的最高温度是460°C--最高温度的误差达到了500°C右侧的长波红外热像仪的温度曲线波动很大,而左侧短波红外热像仪的温度曲线波动却很小红外测温仪可以在线显示这些设备的运行状态,提供数据参考,帮助快速判断需要更换的零部件,提高检修效率。

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一些结论:综上所述,我们可以获得如下一些结论:在同一个温度,短波红外测温比长波红外测温精度要高得多;使用者进行发射率设置,是经常有误差的,而且有时误差还特别大;发射率设置错误,会导致长波红外测温设备误差极大,远不如短波红外测温设备的测温误差;金属、钢铁行业以及高温材料行业,超过1000°C,如果使用长波红外设备来测温,是典型的技术误区。红外测温仪是这样,红外热像仪也是如此。正所谓:工欲善其事,必先利其器。选择短波长测温,可以使红外测温仪受发射率的影响降到比较低。测玻璃专用红外测温仪附件

红外测温仪便捷:0.5秒迅速非接触式量体温,不会再为小宝宝抵触量体温而苦恼。锻造加工用红外测温仪价格优惠

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